Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Украинский химический журнал
Datum:1983
Hauptverfasser: Васько, А.Т., Циковкин, Е.М., Краснов, Ю.С.
Format: Artikel
Sprache:Russisch
Veröffentlicht: Інститут загальної та неорганічної хімії ім. В.І. Вернадського НАН України 1983
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/182419
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза / А.Т. Васько, Е.М. Циковкин, Ю.С. Краснов // Украинский химический журнал. — 1983. — Т. 49, № 2. — С. 156-159. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862579670279520256
author Васько, А.Т.
Циковкин, Е.М.
Краснов, Ю.С.
author_facet Васько, А.Т.
Циковкин, Е.М.
Краснов, Ю.С.
citation_txt Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза / А.Т. Васько, Е.М. Циковкин, Ю.С. Краснов // Украинский химический журнал. — 1983. — Т. 49, № 2. — С. 156-159. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.
collection DSpace DC
container_title Украинский химический журнал
first_indexed 2025-11-26T19:25:51Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-182419
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 0041–6045
language Russian
last_indexed 2025-11-26T19:25:51Z
publishDate 1983
publisher Інститут загальної та неорганічної хімії ім. В.І. Вернадського НАН України
record_format dspace
spelling Васько, А.Т.
Циковкин, Е.М.
Краснов, Ю.С.
2022-01-02T17:31:47Z
2022-01-02T17:31:47Z
1983
Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза / А.Т. Васько, Е.М. Циковкин, Ю.С. Краснов // Украинский химический журнал. — 1983. — Т. 49, № 2. — С. 156-159. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.
0041–6045
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/182419
535.417:541.135:546.23.
ru
Інститут загальної та неорганічної хімії ім. В.І. Вернадського НАН України
Украинский химический журнал
Электрохимия
Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза
Application of the Method of Laser Interferometry for Determining the Growth Rate of Thin CdSe Films in Electrolysis
Article
published earlier
spellingShingle Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза
Васько, А.Т.
Циковкин, Е.М.
Краснов, Ю.С.
Электрохимия
title Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза
title_alt Application of the Method of Laser Interferometry for Determining the Growth Rate of Thin CdSe Films in Electrolysis
title_full Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза
title_fullStr Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза
title_full_unstemmed Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза
title_short Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза
title_sort применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок cdse в процессе электролиза
topic Электрохимия
topic_facet Электрохимия
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/182419
work_keys_str_mv AT vasʹkoat primeneniemetodalazernoiinterferometriidlâopredeleniâskorostirostatonkihplenokcdsevprocesseélektroliza
AT cikovkinem primeneniemetodalazernoiinterferometriidlâopredeleniâskorostirostatonkihplenokcdsevprocesseélektroliza
AT krasnovûs primeneniemetodalazernoiinterferometriidlâopredeleniâskorostirostatonkihplenokcdsevprocesseélektroliza
AT vasʹkoat applicationofthemethodoflaserinterferometryfordeterminingthegrowthrateofthincdsefilmsinelectrolysis
AT cikovkinem applicationofthemethodoflaserinterferometryfordeterminingthegrowthrateofthincdsefilmsinelectrolysis
AT krasnovûs applicationofthemethodoflaserinterferometryfordeterminingthegrowthrateofthincdsefilmsinelectrolysis