Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Украинский химический журнал |
|---|---|
| Дата: | 1983 |
| Автори: | , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Російська |
| Опубліковано: |
Інститут загальної та неорганічної хімії ім. В.І. Вернадського НАН України
1983
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/182419 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза / А.Т. Васько, Е.М. Циковкин, Ю.С. Краснов // Украинский химический журнал. — 1983. — Т. 49, № 2. — С. 156-159. — Бібліогр.: 4 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862579670279520256 |
|---|---|
| author | Васько, А.Т. Циковкин, Е.М. Краснов, Ю.С. |
| author_facet | Васько, А.Т. Циковкин, Е.М. Краснов, Ю.С. |
| citation_txt | Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза / А.Т. Васько, Е.М. Циковкин, Ю.С. Краснов // Украинский химический журнал. — 1983. — Т. 49, № 2. — С. 156-159. — Бібліогр.: 4 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Украинский химический журнал |
| first_indexed | 2025-11-26T19:25:51Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-182419 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 0041–6045 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-11-26T19:25:51Z |
| publishDate | 1983 |
| publisher | Інститут загальної та неорганічної хімії ім. В.І. Вернадського НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Васько, А.Т. Циковкин, Е.М. Краснов, Ю.С. 2022-01-02T17:31:47Z 2022-01-02T17:31:47Z 1983 Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза / А.Т. Васько, Е.М. Циковкин, Ю.С. Краснов // Украинский химический журнал. — 1983. — Т. 49, № 2. — С. 156-159. — Бібліогр.: 4 назв. — рос. 0041–6045 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/182419 535.417:541.135:546.23. ru Інститут загальної та неорганічної хімії ім. В.І. Вернадського НАН України Украинский химический журнал Электрохимия Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза Application of the Method of Laser Interferometry for Determining the Growth Rate of Thin CdSe Films in Electrolysis Article published earlier |
| spellingShingle | Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза Васько, А.Т. Циковкин, Е.М. Краснов, Ю.С. Электрохимия |
| title | Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза |
| title_alt | Application of the Method of Laser Interferometry for Determining the Growth Rate of Thin CdSe Films in Electrolysis |
| title_full | Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза |
| title_fullStr | Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза |
| title_full_unstemmed | Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза |
| title_short | Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза |
| title_sort | применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок cdse в процессе электролиза |
| topic | Электрохимия |
| topic_facet | Электрохимия |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/182419 |
| work_keys_str_mv | AT vasʹkoat primeneniemetodalazernoiinterferometriidlâopredeleniâskorostirostatonkihplenokcdsevprocesseélektroliza AT cikovkinem primeneniemetodalazernoiinterferometriidlâopredeleniâskorostirostatonkihplenokcdsevprocesseélektroliza AT krasnovûs primeneniemetodalazernoiinterferometriidlâopredeleniâskorostirostatonkihplenokcdsevprocesseélektroliza AT vasʹkoat applicationofthemethodoflaserinterferometryfordeterminingthegrowthrateofthincdsefilmsinelectrolysis AT cikovkinem applicationofthemethodoflaserinterferometryfordeterminingthegrowthrateofthincdsefilmsinelectrolysis AT krasnovûs applicationofthemethodoflaserinterferometryfordeterminingthegrowthrateofthincdsefilmsinelectrolysis |