Buchumschlag

Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Украинский химический журнал
Datum:	1983
Hauptverfasser:	Васько, А.Т., Циковкин, Е.М., Краснов, Ю.С.
Format:	Artikel
Sprache:	Russisch
Veröffentlicht:	Інститут загальної та неорганічної хімії ім. В.І. Вернадського НАН України 1983
Schlagworte:	Электрохимия
Online Zugang:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/182419
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:	Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза / А.Т. Васько, Е.М. Циковкин, Ю.С. Краснов // Украинский химический журнал. — 1983. — Т. 49, № 2. — С. 156-159. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Ähnliche Einträge

Фоточувствительность анодов на основе поликристаллических пленок CdSe и CdSe₀.₆₅Te₀.₃₅
von: Слободянюк, И.А., et al.
Veröffentlicht: (2010)

Нетривиальные приемы электролиза ионных расплавов
von: Зарубицкий, О.Г.
Veröffentlicht: (2000)

Механизм электроосаждения селенида кадмия на титане в сернокислых электролитах
von: Васько, А.Т., et al.
Veröffentlicht: (1983)

Совершенствование геофизических приборов на основе цифровой лазерной интерферометрии
von: Брицкий, А.И.
Veröffentlicht: (2013)

Расчет концентрационных зависимостей скорости контактного обмена
von: Антонов, С.П., et al.
Veröffentlicht: (1984)

Состав гальванического вольфрама и продуктов его окисления
von: Васько, А.Т., et al.
Veröffentlicht: (1992)

Резонансный метод определения толщин вакуумно-осажденных тонких пленок
von: Кузьмин, А.В., et al.
Veröffentlicht: (2008)

Расчет изменения микрорельефа в процессе электрохимической обработки поверхности
von: Городыский, А.В., et al.
Veröffentlicht: (1983)

Каталитическая активность — фактор скорости электровосстановления оксидных соединений кобальта в протонных электролитах
von: Стадник, О.А., et al.
Veröffentlicht: (2006)

Зависимость скорости фильтрации галлия в щелочных растворах от его физико-химических свойств
von: Козин, Л.Ф., et al.
Veröffentlicht: (2007)

Кинетика процессов осаждения пленок поликремния, легированного кислородом в процессе роста
von: Наливайко, О.Ю., et al.
Veröffentlicht: (2012)

Емкость пироуглеродного электрода в процессе образования зародышей цинка из цинкатного раствора
von: Криштоп, Ю.Г., et al.
Veröffentlicht: (2007)

Цитометрический метод определения потенциальной скорости роста фитопланктона по митотическому индексу
von: Соломонова, Е.С., et al.
Veröffentlicht: (2015)

Химический метод определения температурного интервала и температурного максимума образования нитридов молибдена в сталях
von: Исаева, Л.Е., et al.
Veröffentlicht: (2010)

Электрохимический сенсор с иод-иодидной системой для определения следовых количеств диоксида азота в газах
von: Кричмар, С.И., et al.
Veröffentlicht: (2011)

Кинетика процессов осаждения пленок поликремния, легированного кислородом в процессе роста
von: Nalivaiko, O. Yu., et al.
Veröffentlicht: (2012)

Адсорбционно-кинетическая модель осаждения пленок поликристаллического кремния, легированных фосфором в процессе роста
von: Наливайко, О.Ю., et al.
Veröffentlicht: (2009)

Структура и параметр решетки тонких пленок C₆₀
von: Пугачев, А.Т., et al.
Veröffentlicht: (1999)

Електрохромні властивості плівок оксиду ніобію, осаджених з ніобієвих пероксокомплексів
von: Фоманюк, С.С., et al.
Veröffentlicht: (2013)

Структура тонких пленок С₆₀ на (100) NaCl
von: Горбенко, Н.И., et al.
Veröffentlicht: (2002)

Электрохромные свойства и наноструктура аморфных плeнок оксида вольфрама
von: Фоманюк, С.С., et al.
Veröffentlicht: (2008)

Спектр поглощения тонких пленок KPb₂Cl₅
von: Юнакова, О.Н., et al.
Veröffentlicht: (2015)

Методы расчетного определения скорости роста трещин усталости, ползучести и термоусталости в поли- и монокристаллических лопатках ГТУ
von: Семенов, А.С., et al.
Veröffentlicht: (2015)

Расчетно-экспериментальный метод определения параметров режимов процессов лазерной наплавких
von: Хаскин, В.Ю.
Veröffentlicht: (2012)

Гальваномагнитные свойства тонких пленок висмута, легированного теллуром
von: Орлова, Д.С., et al.
Veröffentlicht: (2009)

Устройство управления импульсным режимом электролиза при создании контактных площадок
von: Альбота, Л.А., et al.
Veröffentlicht: (2003)

Оптимизация технологии “хлоридной” обработки тонких пленок халькогенидов кадмия
von: Харченко, Н.М., et al.
Veröffentlicht: (2008)

Определение пластических свойств тонких пленок по данным индентирования
von: Валеева, И.К., et al.
Veröffentlicht: (2007)

Исследование кристаллической структуры тонких пленок органического полупроводника - дигидродибензотетраазааннулена
von: Удовицкий, В.Г.
Veröffentlicht: (2008)

X Международная конференция «Физика и технология тонких пленок»
von: Харченко, Г.К.
Veröffentlicht: (2005)

Фотоприемники ультрафиолетового излучения на основе тонких пленок ZnS
von: Bobrenko, Yu. N., et al.
Veröffentlicht: (2009)

Оптические свойства тонких плёнок диантимонида празеодима золотистой окраски
von: Джабуа, З.У., et al.
Veröffentlicht: (2012)

ИК спектры тонких пленок криоконденсатов изотопической смеси воды
von: Алдияров, А., et al.
Veröffentlicht: (2002)

Фотоприемники ультрафиолетового излучения на основе тонких пленок ZnS
von: Бобренко, Ю.Н., et al.
Veröffentlicht: (2009)

Особенности методов контроля толщины тонких эпитаксиальных LSMO-пленок
von: Николаенко, Ю.М., et al.
Veröffentlicht: (2017)

Методика нанесения тонких фуллереновых пленок на циркониевые подложки
von: Щур, Д.В., et al.
Veröffentlicht: (2010)

Теоретический анализ установившегося биофильтрования при нелимитированной скорости роста биомассы
von: Поляков, В.Л.
Veröffentlicht: (2011)

Получение тонких алмазных пленок при магнетронном распылении графитовой мишени
von: Костановский, А.В., et al.
Veröffentlicht: (2008)

Технология приготовления тонких плёнок TbSb₂ и электрофизические свойства
von: Джабуа, З.У.
Veröffentlicht: (2016)

Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена
von: Удовицкий, В.Г.
Veröffentlicht: (2003)