Методы анализа высокочистых материалов с предварительным концентрированием примесей

• Опубліковано в: : Украинский химический журнал
• Дата: 2005
• Автори: Сапрыкин, А.И., Шелпакова, И.Р.
• Формат: Стаття
• Мова: Російська
• Опубліковано: Інститут загальної та неорганічної хімії ім. В.І. Вернадського НАН України 2005
• Теми: Аналитическая химия
• Онлайн доступ: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/184029
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Методы анализа высокочистых материалов с предварительным концентрированием примесей / А.И. Сапрыкин, И.Р. Шелпакова // Украинский химический журнал. — 2005. — Т. 71, № 10. — С. 104-112. — Бібліогр.: 11 назв. — рос.

Представлены сравнительные данные аналитических возможностей масс-спектрометрических и атомно-эмиссионных спектральных методов с различными плазменными источниками возбуждения и ионизации (ИСП-МС, ИСП-АЭС, ДПТ-АЭС и ДДП-АЭС) для многоэлементного анализа высокочастотных веществ с предварительным концентрированием микропримесей. Подано порівняльні дані аналітичних можливостей мас-спектрометричних і атомно-емісійних спектральних методів з різними плазменими джерелами збудження та йонізації (ІСП-МС, ІСП-АЕС, ДПТ-АЕС і ДДП-АЕС) для багатоелементного аналізу високочистих речовин з попереднім концентруванням мікродомішок. The analytical figures of merit of atomic emission and mass spectrometric methods (ICP-AES and ICP-MS, DC-Arc AES and Two Jet Arc Plasmotron AES) in combination with pre-concentration of microelements employed for ultra trace analysis of high purity substances were compared and contrasted.