Cover Image

Методы анализа высокочистых материалов с предварительным концентрированием примесей

Представлены сравнительные данные аналитических возможностей масс-спектрометрических и атомно-эмиссионных спектральных методов с различными плазменными источниками возбуждения и ионизации (ИСП-МС, ИСП-АЭС, ДПТ-АЭС и ДДП-АЭС) для многоэлементного анализа высокочастотных веществ с предварительным конц...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Украинский химический журнал
Date:2005
Main Authors: Сапрыкин, А.И., Шелпакова, И.Р.
Format: Article
Language:Russian
Published: Інститут загальної та неорганічної хімії ім. В.І. Вернадського НАН України 2005
Subjects:
Аналитическая химия
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/184029
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Методы анализа высокочистых материалов с предварительным концентрированием примесей / А.И. Сапрыкин, И.Р. Шелпакова // Украинский химический журнал. — 2005. — Т. 71, № 10. — С. 104-112. — Бібліогр.: 11 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Similar Items

Similar Items