До методики визначення поперечного тензоопору в багатодолинних напівпровідниках
Досліджено поперечний (струм у зразка орієнтований перпендикулярно до осі деформації) і поздовжній
 (струм спрямований уздовж осі деформації) тензоопори високоомних кристалів n-Si. Обчислено параметр
 анізотропії рухливості K для цих двох випадків. Встановлено збіг (у межах похибок е...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Доповіді НАН України |
|---|---|
| Дата: | 2022 |
| Автор: | |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Українська |
| Опубліковано: |
Видавничий дім "Академперіодика" НАН України
2022
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/184956 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | До методики визначення поперечного тензоопору в багатодолинних напівпровідниках / Г.П. Гайдар // Доповіді Національної академії наук України. — 2022. — № 2. — С. 48-57. — Бібліогр.: 15 назв. — укр. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862623048890318848 |
|---|---|
| author | Гайдар, Г.П. |
| author_facet | Гайдар, Г.П. |
| citation_txt | До методики визначення поперечного тензоопору в багатодолинних напівпровідниках / Г.П. Гайдар // Доповіді Національної академії наук України. — 2022. — № 2. — С. 48-57. — Бібліогр.: 15 назв. — укр. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Доповіді НАН України |
| description | Досліджено поперечний (струм у зразка орієнтований перпендикулярно до осі деформації) і поздовжній
(струм спрямований уздовж осі деформації) тензоопори високоомних кристалів n-Si. Обчислено параметр
анізотропії рухливості K для цих двох випадків. Встановлено збіг (у межах похибок експериментів) одержаних значень параметра K у разі проходження струму вздовж напрямку деформування і перпендикулярно до нього. На кристалах n-Ge підтверджено надійність методики вимірювань поперечного тензоопору
за допомогою обчислення параметра анізотропії рухливості із залученням даних двох незалежних експериментів. Одержано хороший збіг значень параметра анізотропії K, обчислених за даними вимірювань тільки
поздовжнього тензоопору та за даними вимірювань поздовжнього і поперечного тензоопорів. Експериментально підтверджено, що в умовах сильної направленої пружної деформації стиснення (за відсутності
прояву компонент деформації зсуву в кристалах n-Si) відбуваються лише відносні зміщення ізоенергетичних еліпсоїдів у багатодолинних напівпровідниках за шкалою енергій, однак форма еліпсоїдів залишається практично незмінною.
The transverse (the current in the sample is oriented perpendicular to the deformation axis) and longitudinal
(the current is directed along the deformation axis) tensoresistances of high-resistance n-Si crystals are
investigated. The mobility anisotropy parameter was calculated for these two cases. The coincidence (within the
experimental errors) of the obtained values of the parameter K was established when the current passes along the
direction of deformation and perpendicular to it. Using n-Ge crystals, the reliability of the technique for measuring
the transverse tensoresistance was confirmed by calculating the mobility anisotropy parameter using the data
obtained from two independent experiments. A good agreement was obtained for the values of the anisotropy
parameter K, calculated from the measurement data of only the longitudinal tensoresistance and from the measurement
data of the longitudinal and transverse tensoresistances. It was experimentally confirmed that under
conditions of strong elastic directional compressive deformation (in the absence of manifestation of the shift deformation
components in n-Si crystals), only relative displacements of isoenergetic ellipsoids in multi-valley
semiconductors along the energy scale occur, but the shape of the ellipsoids remains practically unchanged.
|
| first_indexed | 2025-12-07T13:28:48Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-184956 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1025-6415 |
| language | Ukrainian |
| last_indexed | 2025-12-07T13:28:48Z |
| publishDate | 2022 |
| publisher | Видавничий дім "Академперіодика" НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Гайдар, Г.П. 2022-08-27T11:18:24Z 2022-08-27T11:18:24Z 2022 До методики визначення поперечного тензоопору в багатодолинних напівпровідниках / Г.П. Гайдар // Доповіді Національної академії наук України. — 2022. — № 2. — С. 48-57. — Бібліогр.: 15 назв. — укр. 1025-6415 DOI: doi.org/10.15407/dopovidi2022.02.048 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/184956 621.315.592 Досліджено поперечний (струм у зразка орієнтований перпендикулярно до осі деформації) і поздовжній
 (струм спрямований уздовж осі деформації) тензоопори високоомних кристалів n-Si. Обчислено параметр
 анізотропії рухливості K для цих двох випадків. Встановлено збіг (у межах похибок експериментів) одержаних значень параметра K у разі проходження струму вздовж напрямку деформування і перпендикулярно до нього. На кристалах n-Ge підтверджено надійність методики вимірювань поперечного тензоопору
 за допомогою обчислення параметра анізотропії рухливості із залученням даних двох незалежних експериментів. Одержано хороший збіг значень параметра анізотропії K, обчислених за даними вимірювань тільки
 поздовжнього тензоопору та за даними вимірювань поздовжнього і поперечного тензоопорів. Експериментально підтверджено, що в умовах сильної направленої пружної деформації стиснення (за відсутності
 прояву компонент деформації зсуву в кристалах n-Si) відбуваються лише відносні зміщення ізоенергетичних еліпсоїдів у багатодолинних напівпровідниках за шкалою енергій, однак форма еліпсоїдів залишається практично незмінною. The transverse (the current in the sample is oriented perpendicular to the deformation axis) and longitudinal
 (the current is directed along the deformation axis) tensoresistances of high-resistance n-Si crystals are
 investigated. The mobility anisotropy parameter was calculated for these two cases. The coincidence (within the
 experimental errors) of the obtained values of the parameter K was established when the current passes along the
 direction of deformation and perpendicular to it. Using n-Ge crystals, the reliability of the technique for measuring
 the transverse tensoresistance was confirmed by calculating the mobility anisotropy parameter using the data
 obtained from two independent experiments. A good agreement was obtained for the values of the anisotropy
 parameter K, calculated from the measurement data of only the longitudinal tensoresistance and from the measurement
 data of the longitudinal and transverse tensoresistances. It was experimentally confirmed that under
 conditions of strong elastic directional compressive deformation (in the absence of manifestation of the shift deformation
 components in n-Si crystals), only relative displacements of isoenergetic ellipsoids in multi-valley
 semiconductors along the energy scale occur, but the shape of the ellipsoids remains practically unchanged. uk Видавничий дім "Академперіодика" НАН України Доповіді НАН України Фізика До методики визначення поперечного тензоопору в багатодолинних напівпровідниках On the methodology of determining the transverse tensoresistance in multi-valley semiconductors Article published earlier |
| spellingShingle | До методики визначення поперечного тензоопору в багатодолинних напівпровідниках Гайдар, Г.П. Фізика |
| title | До методики визначення поперечного тензоопору в багатодолинних напівпровідниках |
| title_alt | On the methodology of determining the transverse tensoresistance in multi-valley semiconductors |
| title_full | До методики визначення поперечного тензоопору в багатодолинних напівпровідниках |
| title_fullStr | До методики визначення поперечного тензоопору в багатодолинних напівпровідниках |
| title_full_unstemmed | До методики визначення поперечного тензоопору в багатодолинних напівпровідниках |
| title_short | До методики визначення поперечного тензоопору в багатодолинних напівпровідниках |
| title_sort | до методики визначення поперечного тензоопору в багатодолинних напівпровідниках |
| topic | Фізика |
| topic_facet | Фізика |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/184956 |
| work_keys_str_mv | AT gaidargp dometodikiviznačennâpoperečnogotenzooporuvbagatodolinnihnapívprovídnikah AT gaidargp onthemethodologyofdeterminingthetransversetensoresistanceinmultivalleysemiconductors |