Локализация неисправных электронных подсхем методом обучающих и проверочных характеристик
Запропоновано метод локалізації несправних підсхем електронних пристроїв, який ґрунтується на принципі декомпозиції. Показано, що шляхом перевірки певним чином сформованих гіпотез відносно стану складових частин електронних пристроїв (суть аналізу їх характеристик), можна виділити несправну підсхему...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Математичне та комп'ютерне моделювання. Серія: Фізико-математичні науки |
|---|---|
| Datum: | 2008 |
| Hauptverfasser: | , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russisch |
| Veröffentlicht: |
Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України
2008
|
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/18685 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Локализация неисправных электронных подсхем методом обучающих и проверочных характеристик / С.А. Положаенко, А.А. Верлань, И.Х. Осман // Математичне та комп'ютерне моделювання. Серія: Технічні науки: зб. наук. пр. — Кам’янець-Подільський: Кам'янець-Подільськ. нац. ун-т, 2008. — Вип. 1. — С. 140-144. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862720277689925632 |
|---|---|
| author | Положаенко, С.А. Верлань, А.А. Осман, И.Х. |
| author_facet | Положаенко, С.А. Верлань, А.А. Осман, И.Х. |
| citation_txt | Локализация неисправных электронных подсхем методом обучающих и проверочных характеристик / С.А. Положаенко, А.А. Верлань, И.Х. Осман // Математичне та комп'ютерне моделювання. Серія: Технічні науки: зб. наук. пр. — Кам’янець-Подільський: Кам'янець-Подільськ. нац. ун-т, 2008. — Вип. 1. — С. 140-144. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Математичне та комп'ютерне моделювання. Серія: Фізико-математичні науки |
| description | Запропоновано метод локалізації несправних підсхем електронних пристроїв, який ґрунтується на принципі декомпозиції. Показано, що шляхом перевірки певним чином сформованих гіпотез відносно стану складових частин електронних пристроїв (суть аналізу їх характеристик), можна виділити несправну підсхему. Доведено ефективність методів локалізації при діагностиці електронних пристроїв.
The method of localization of defective subsystems of electronic devices, which, is offered it is founded on principle of decomposition. It is shown, that by verification definitely of the formed hypotheses in relation to being of component parts of electronic devices (essence of analysis of their descriptions), and it is possible to select defective of subsystem. Efficiency of methods of localization is led to at diagnostics of electronic devices.
|
| first_indexed | 2025-12-07T18:23:52Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-18685 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | XXXX-0060 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-12-07T18:23:52Z |
| publishDate | 2008 |
| publisher | Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Положаенко, С.А. Верлань, А.А. Осман, И.Х. 2011-04-07T19:06:50Z 2011-04-07T19:06:50Z 2008 Локализация неисправных электронных подсхем методом обучающих и проверочных характеристик / С.А. Положаенко, А.А. Верлань, И.Х. Осман // Математичне та комп'ютерне моделювання. Серія: Технічні науки: зб. наук. пр. — Кам’янець-Подільський: Кам'янець-Подільськ. нац. ун-т, 2008. — Вип. 1. — С. 140-144. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. XXXX-0060 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/18685 621.36.2 Запропоновано метод локалізації несправних підсхем електронних пристроїв, який ґрунтується на принципі декомпозиції. Показано, що шляхом перевірки певним чином сформованих гіпотез відносно стану складових частин електронних пристроїв (суть аналізу їх характеристик), можна виділити несправну підсхему. Доведено ефективність методів локалізації при діагностиці електронних пристроїв. The method of localization of defective subsystems of electronic devices, which, is offered it is founded on principle of decomposition. It is shown, that by verification definitely of the formed hypotheses in relation to being of component parts of electronic devices (essence of analysis of their descriptions), and it is possible to select defective of subsystem. Efficiency of methods of localization is led to at diagnostics of electronic devices. ru Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України Математичне та комп'ютерне моделювання. Серія: Фізико-математичні науки Локализация неисправных электронных подсхем методом обучающих и проверочных характеристик Article published earlier |
| spellingShingle | Локализация неисправных электронных подсхем методом обучающих и проверочных характеристик Положаенко, С.А. Верлань, А.А. Осман, И.Х. |
| title | Локализация неисправных электронных подсхем методом обучающих и проверочных характеристик |
| title_full | Локализация неисправных электронных подсхем методом обучающих и проверочных характеристик |
| title_fullStr | Локализация неисправных электронных подсхем методом обучающих и проверочных характеристик |
| title_full_unstemmed | Локализация неисправных электронных подсхем методом обучающих и проверочных характеристик |
| title_short | Локализация неисправных электронных подсхем методом обучающих и проверочных характеристик |
| title_sort | локализация неисправных электронных подсхем методом обучающих и проверочных характеристик |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/18685 |
| work_keys_str_mv | AT položaenkosa lokalizaciâneispravnyhélektronnyhpodshemmetodomobučaûŝihiproveročnyhharakteristik AT verlanʹaa lokalizaciâneispravnyhélektronnyhpodshemmetodomobučaûŝihiproveročnyhharakteristik AT osmanih lokalizaciâneispravnyhélektronnyhpodshemmetodomobučaûŝihiproveročnyhharakteristik |