Розподіл оксиду титану в нанокомпозитах системи SiO2–TiO2
The researches of the element structure of surface layers are carried out by methods of electronic raster microscopy and Auger-spectroscopy. The influence of dioxide titanium on structure surface layers of the system SiO2–TiO2 is investigated. A connection between the surface concentration of the se...
Збережено в:
| Дата: | 2007 |
|---|---|
| Автори: | , , , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Українська |
| Опубліковано: |
Видавничий дім "Академперіодика" НАН України
2007
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/1897 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Розподіл оксиду титану в нанокомпозитах системи SiO2–TiO2 / П.П. Горбик, В.М. Гунько, В.І. Зарко, О.О. Міщук, О.А. Співак, О.О. Чуйко // Доп. НАН України. — 2007. — N 1. — С. 143–148. — Бібліогр.: 10 назв. — укp. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1860069244061876224 |
|---|---|
| author | Горбик, П.П. Гунько, В.М. Зарко, В.І. Міщук, О.О. Співак, О.А. Чуйко, О.О. |
| author_facet | Горбик, П.П. Гунько, В.М. Зарко, В.І. Міщук, О.О. Співак, О.А. Чуйко, О.О. |
| citation_txt | Розподіл оксиду титану в нанокомпозитах системи SiO2–TiO2 / П.П. Горбик, В.М. Гунько, В.І. Зарко, О.О. Міщук, О.А. Співак, О.О. Чуйко // Доп. НАН України. — 2007. — N 1. — С. 143–148. — Бібліогр.: 10 назв. — укp. |
| collection | DSpace DC |
| description | The researches of the element structure of surface layers are carried out by methods of electronic raster microscopy and Auger-spectroscopy. The influence of dioxide titanium on structure surface layers of the system SiO2–TiO2 is investigated. A connection between the surface concentration of the second oxide phase in titanium silica or aluminum silica and their zeta-potential is investigated.
|
| first_indexed | 2025-12-07T17:10:03Z |
| format | Article |
| fulltext |
оповiдi
НАЦIОНАЛЬНОЇ
АКАДЕМIЇ НАУК
УКРАЇНИ
1 • 2007
ХIМIЯ
УДК 541.183
© 2007
П.П. Горбик, В.М. Гунько, В. I. Зарко, О. О. Мiщук,
О.А. Спiвак, академiк НАН України О. О. Чуйко
Розподiл оксиду титану в нанокомпозитах системи
SiO2−TiO2
The researches of the element structure of surface layers are carried out by methods of electronic
raster microscopy and Auger-spectroscopy. The influence of dioxide titanium on structure
surface layers of the system SiO2−TiO2 is investigated. A connection between the surface
concentration of the second oxide phase in titanium silica or aluminum silica and their zeta-
potential is investigated.
Досягнення нанорозмiру дисперсними частинками супроводжується iстотним збiльшенням
вкладу поверхневих ефектiв як у фiзичнi, так i хiмiчнi властивостi матерiалу [1, 2]. Вплив
поверхнi визначає своєрiднiсть об’ємних властивостей, дефектної структури, механiзмiв ад-
сорбцiї, хiмiчного складу, реакцiйної здатностi поверхнi нанокомпозитiв, зокрема на основi
високодисперсного кремнезему [3]. Тому вивчення закономiрностей формування елементно-
го складу приповерхневих шарiв матерiалу є актуальним для прогнозування фiзико-хiмiч-
них властивостей нанокомпозитiв i оптимiзацiї технологiї їх виготовлення та практичного
використання.
Метою роботи було вивчення впливу дiоксиду титану на склад приповерхневих шарiв
нанокомпозитiв системи SiO2−TiO2, отриманих на Калуському дослiдно-експерименталь-
ному заводi Iнституту хiмiї поверхнi НАН України методом пiрогенного синтезу iз сумiшi
SiCl4 й TiCl4 у полум’ї водневого пальника.
Методика дослiджень. Зразки нанокомпозитiв дослiджували методом електронної
растрової мiкроскопiї та електронної Оже-спектроскопiї [4, 5] за допомогою надвисокова-
куумного Оже-мiкрозонду марки JAMP-10S фiрми JEOL. Методом електронно-растрової
мiкроскопiї визначали дiлянки препарованого зразка нанокомпозита, найбiльш характернi
та оптимальнi для Оже-спектральних дослiджень. Електронно-растровi дослiдження вiдбу-
валися за такими параметрами електронно-оптичної системи: енергiя електронного променя
5 кеВ, струм променя 2 · 10−10 А, дiаметр пучка 0,05–0,1 мкм.
Оже-спектральнi дослiдження проводили при енергiї первинних електронiв 5 кеВ, стру-
мовi 5 ·10−7 А, дiаметрi пучка вiд 0,5 до 100 мкм. Величини струму i дiаметра електронного
ISSN 1025-6415 Доповiдi Нацiональної академiї наук України, 2007, №1 143
пучка було пiдiбрано таким чином, щоб запобiгти руйнуванню зразкiв пiд впливом опромi-
нення. Вакуумування зразкiв здiйснювалось до тиску 10−9–10−7 Па.
Реєстрацiя диференцiальних Оже-спектрiв E·dN(E)/dE вiдбувалась за допомогою енер-
гоаналiзатора типу “цилiндричне дзеркало” з роздiльною здатнiстю за енергiєю Оже-елект-
ронiв ∆E/E = 0,7%, амплiтудою модуляцiї напруги на енергоаналiзаторi 4 В, напругою
на каналотронi 2,5 кВ та постiйною часу тракту пiдсилення 1 с. Оже-спектри реєстрували
в режимi автоматичного запису з кроком 1 еВ за допомогою комп’ютера та за програмами
фiрми JEOL.
Перелiк зразкiв та характеристики порошкових нанокомпозитiв наведено в табл. 1.
Результати дослiджень та їх обговорення. Оскiльки порошки нанокомпозитiв пре-
парувались у матрицю iндiю, то для аналiзу вiдбиралися спектри, на яких iнтенсивностi
лiнiй iндiю та вуглецю були мiнiмальними. Встановлено, що наявнiсть вуглецю пов’язана
з поверхнею матрицi iндiю [6]. Слiд вiдзначити, що для бiльшостi дослiджених наносистем
типу SiO2−TiO2 вдалося отримати Оже-спектри з мiнiмальними iнтенсивностями лiнiй iн-
дiю та вуглецю, що свiдчить про можливiсть дослiдження зразкiв бiльшої товщини по-
рiвняно з наносистемами типу SiO2−Al2O3 [6]. Це пояснюється, iмовiрно, впливом оксиду
титану, електропровiднiсть якого значно перевищує електропровiднiсть оксидiв кремнiю та
алюмiнiю.
Характернi Оже-спектри препарованих зразкiв порошкових нанокомпозитiв типу
SiO2−TiO2 (табл. 1) наведено на рис. 1. Крiм лiнiй iндiю та вуглецю (поверхня метале-
вої матрицi), на спектрах реєструються лiнiї чотирьох елементiв: кремнiю, титану, кисню,
хлору. Вiрогiдно, що хлор є залишковою домiшкою, наявнiсть якої зумовлена особливостя-
ми технологiї синтезу, що може впливати на концентрацiю кисню в дослiджених зразках.
Аналiз хiмiчного зсуву LVV-лiнiї кремнiю свiдчить, що в приповерхневих шарах нано-
систем типу SiO2−TiO2 атоми кремнiю знаходяться тiльки в оксидних фазах, тобто в усiх
спектрах вiдсутня LVV-лiнiя 92 еВ, яка є характерною для вiдновленого кремнiю [7–9].
Концентрацiї елементiв у приповерхневих шарах нанокомпозитiв типу SiO2−TiO2 наве-
дено в табл. 1. Пiд час розрахункiв концентрацiй фаза поверхнi металевої матрицi (елементи
In, C) не враховувалася. Розрахунок концентрацiї титану проводили за LММ-лiнiєю 418 еВ
Ti, а кремнiю — за LVV-лiнiєю Si.
Табличнi данi свiдчать про зменшення поверхневої концентрацiї кисню на 18–25% у на-
нокомпозитiв типу SiO2−TiO2, вже починаючи з низьких концентрацiй TiO2, порiвняно
з чистим кремнеземом. Ця особливiсть добре спостерiгається на залежностi концентрацiї
Таблиця 1. Характеристики високодисперсних порошкових нанокомпозитiв SiO2−TiO2
Номер
зразка
Загальний вмiст
TiO2, % (мас.)
Питома площа
поверхнi, м2/г
Поверхнева концентрацiя елементiв, % (ат.)
Тi Si (Si−O) O Cl
1 0 312 0 30,2 65,8 4,0
2 2 77 4,3 40,1 53,8 1,8
3 9 238 7,1 26,4 66,4 —
4 14 137 7,8 39,6 49,1 3,5
5 20 86 6,5 36,9 52,3 4,3
6 40 109 7,4 32,3 60,3 —
7 65 34 14,4 29,6 54,2 1,8
8 94 30 30,9 3,4 64,0 1,7
9 100 50 31,5 0 68,5 —
144 ISSN 1025-6415 Reports of the National Academy of Sciences of Ukraine, 2007, №1
Рис. 1. Диференцiальнi Оже-спектри:
а: 1 — препарованого в матрицю iндiю високодисперсного SiO2 (зразок 1, табл. 1); 2, 3 — порошки на-
нокомпозити SiO2−TiO2 (у матрицi In) з вiдносно низьким вмiстом TiO2 (зразки 2, 5 вiдповiдно); б : 1
′,
2
′ — препарованих у матрицю iндiю нанокомпозитiв SiO2 — TiO2 з високим вмiстом TiO2 (зразки 6, 7
вiдповiдно); 3
′ — високодисперсний TiO2 у матрицi In (зразок 9 )
кисню в приповерхневому шарi зерен нанокомпозитiв вiд загального вмiсту оксиду TiO2
(рис. 2, а).
Мiнiмальна поверхнева концентрацiя кисню спостерiгається в дiапазонi концентрацiй
TiO2 вiд 14 до 20%. Подальше зростання загального вмiсту TiO2 у складi нанокомпозита
в цiлому сприяє рiвномiрному збiльшенню концентрацiї кисню на поверхнi зерен до значень,
характерних для стехiометрiї чистого TiO2.
Зауважимо, що значнi вiдхилення вiд наведеної на рис. 2, а залежностi проявляються
у випадках зразкiв з мiнiмальною (практично нульовою) концентрацiєю залишкової домiш-
ки хлору (див. табл. 1, зразки 3, 6 ). Отже, цей елемент може вiдiгравати важливу роль
у формуваннi структури нанокомпозита.
Рис. 2, б iлюструє залежностi концентрацiї катiонiв на поверхнi зерен нанокомпозита вiд
загального вмiсту TiO2. Зiставлення з рис. 3 дозволяє зробити висновок про iснування зво-
ротної кореляцiї мiж змiнами концентрацiй кисню та кремнiю. Зокрема, подiбна кореляцiя
стосується i зазначених значних вiдхилень вiд загальної тенденцiї (наприклад, див. табл. 1,
зразок 3 ). Загалом, поверхня дослiджених нанокомпозитiв типу SiO2−TiO2 порiвняно з їх
об’ємом є збiдненою на кисень (крива 1) та збагаченою на кремнiй (крива 2).
Залежнiсть для поверхневої концентрацiї титану, з одного боку, є менш чутливою до
непередбачуваних вiдхилень поверхневої концентрацiї кисню, а з iншого — має складнi-
ший характер. Для малих концентрацiй TiO2 у складi композита (див. табл. 1, зразки 2–4 )
можна вважати, що переважна кiлькiсть атомiв титану утворює сегрегацiї на поверхнi зе-
рен. В цiлому, поверхнева концентрацiя титану бiльша за його концентрацiю в об’ємi для
зразкiв нанокомпозита з загальним вмiстом оксиду TiO2 до 20% (зразки 2–5 ). Для зразкiв,
ISSN 1025-6415 Доповiдi Нацiональної академiї наук України, 2007, №1 145
Рис. 2. Залежнiсть концентрацiї кисню (а), титану (1 ) й кремнiю (2 ) у приповерхневих шарах нанокомпо-
зитiв SiO2−TiO2 вiд загального вмiсту TiO2 (б )
якi мають загальний вмiст оксиду TiO2, вищий за 20% (iнтервал 20–80%), поверхня зерен
збiднена титаном порiвняно з їх об’ємом (зразки 6, 7 ). Поверхнева та об’ємна концентрацiї
титану вирiвнюються для випадкiв нанокомпозитiв iз значним загальним вмiстом оксиду
TiO2 (зразок 8 — 94%).
Отже, з введенням до складу нанокомпозита дiоксиду титану на поверхнi частинок фор-
мується структура, елементний склад якої добре описується лiнiйною комбiнацiєю концент-
рацiй монооксиду кремнiю та дiоксиду титану: nSiO + mTiO2 (див. табл. 1, зразки 2 ; 4–9 )
при змiнi загального вмiсту останнього в широких межах (2–100% (мас.)).
Отриманi результати дозволяють прослiдкувати зв’язок мiж поверхневою концентра-
цiєю другої оксидної фази в титанокремнеземах (ТК) або алюмокремнеземах (АК) та їх
ζ-потенцiалом. Як вiдомо, заряд оксидної поверхнi у водному середовищi залежить вiд при-
роди її поверхневих функцiональних груп i pH середовища. Утворення заряду на поверхнi
оксидiв SiO2, TiO2 або Al2O3 можна представити через асоцiацiю або дисоцiацiю протона:
−Me−OH + H+
↔ −Me−OH+
2
, (1)
−Me−OH ↔ −Me−O− + H+, (2)
де Me — Si, Ti, Al.
У точцi нульового заряду (ТНЗ) — pHТНЗ або в iзоелектричнiй точцi (IЕТ) — pHIЕТ кон-
центрацiї (Me−O−) = (Me−OH+
2
). Це означає, що при pH < pHIЕТ на поверхнi переважають
центри (Me−OH+
2
), а при pH > pHIЕТ — центри (Me−O−).
Iзоелектричнi точки для вихiдних оксидiв (SiO2, TiO2, Al2O3) добре вiдомi. Для SiO2
pHIЕТ = 2,2; для TiO2 pHIЕТ = 6,0; а для Al2O3 pHIЕТ = 9,8 [10]. Для змiшаних оксид-
них систем SiO2−TiO2 (ТК) й SiO2−Al2O3 (АК) IЕТ повиннi знаходитися мiж IЕТ SiO2
та IЕТ TiO2 (або Al2O3). Однак для ТК i АК, синтезованих за пiрогенною технологiєю,
вимiрянi IЕТ систем виявляються нижче значення IЕТ SiO2 [10], причому при будь-яких
концентрацiях фаз TiO2 (або Al2O3) 6 40% по масi.
У кислому середовищi на поверхнi ТК й АК повиннi переважати позитивно заряд-
женi атоми Ti й Al, тобто центри (Me−OH+
2
), рiст яких на поверхнi приведе до збiль-
шення ζ-потенцiала систем ТК й АК. Така змiна ζ-потенцiала зумовлена особливостями
способу синтезу цих змiшаних оксидних систем, внаслiдок чого на поверхнi наночастинок
ТК (або АК) знаходиться бiльша, нiж випливає iз стехiометричних спiввiдношень, кiль-
кiсть атомiв титану (або алюмiнiю [6]), причому переважна частина цих атомiв утворює
146 ISSN 1025-6415 Reports of the National Academy of Sciences of Ukraine, 2007, №1
Рис. 3. Залежностi потенцiала у водних суспензiях (CТК(АК) = 0,2%, pH 3 (а) та концентрацiї атомiв Ti (або
Al) (б ) на поверхнi пiрогенних систем ТК i АК вiд загального вмiсту фази МеО
титано(алюмо)силоксановi мiстки, якi за своєю природою є кислими активними центра-
ми i в присутностi молекул води проявляють бренстедiвську кислотнiсть: Si−O(H)−Ti,
Si−O(H)−Al [10].
Дiйсно, порiвняння кривих змiни величини ζ-потенцiала при pH 3 для пiрогенних сис-
тем ТК й АК (див. рис. 3, а) i поверхневої концентрацiї атомiв Ti (або Al) (див. рис. 3, б )
показують, що збiльшення поверхневої концентрацiї другої оксидної фази в ТК (або АК)
призводить до збiльшення ζ-потенцiала, причому кожна пара кривих є симбатними, а їх
максимуми збiгаються. Це вказує на визначальну роль поверхневих атомiв титану й алю-
мiнiю як у процесах адсорбцii iонiв важких металiв [6], так i при утвореннi заряджених
центрiв поверхнi, що формують приповерхневий подвiйний електричний шар нанокомпози-
тiв пiрогенних систем ТК й АК.
Роботу виконано в рамках завдань комплексної програми фундаментальних дослiджень “На-
носистеми, наноматерiали та нанотехнологiї”.
1. Снитко О.В., Саченко А. В., Примаченко В. Е. Проблемы физики поверхности полупроводников /
Под общ. ред. О.В. Снитко. – Киев: Наук. думка, 1981. – 332 с.
2. Гуткин М.Ю., Овидько И.А. Дефекты и механизмы пластичности в наноструктурных и некристал-
лических материалах. – Москва: Изд-во Янус, 2000. – 178 с.
3. Моррисон С. Химическая физика поверхности твердого тела / Под ред. Ф.Ф. Волькенштейна. –
Москва: Мир, 1980. – 488 с.
4. Васильев М.А. Структура и динамика поверхности переходных металлов. – Киев: Наук. думка,
1988. – 248 с.
5. Анализ поверхности методами Оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии / Под ред.
Д. Бриггса, М.П. Сиха. – Москва: Мир, 1987. – 600 с.
6. Горбик П.П., Гунько В.М., Зарко В.И. и др. О распределении оксида алюминия в высокодисперсной
оксидной системе Al2O3/SiO2 // Доп. НАН України. – 2004. – Nо 11. – С. 150–154.
7. Иванов В.Ш., Брытов И.А., Кораблев В. В. Атлас Оже-спектров химических элементов и их соеди-
нений. – Москва, 1986. – В86. – 112 с. – Деп. в ЦИОНТ ПИК ВИНИТИ 25.06.86, № 6359.
ISSN 1025-6415 Доповiдi Нацiональної академiї наук України, 2007, №1 147
8. Terryu H. A new approach to the use of Auger-lineshape effects as a routine technique for characterization
of chemical bounding // Appl. Surf. Sci. – 1985. – 24. Nо 2. – P. 283–286.
9. Wirth. Th. Quantitative Auger electron spectroscopy of silicides by extended matrix correction using
dN(E)/dE spectra // Surf. Interf. Anal. – 1992. – 18, Nо 1. – P. 3–11.
10. Gun’ko V.M., Zarko V. I., Chibowski E., Leboda R. Aqueous suspension of fumed oxides: particle size
distribution and zeta potential // Adv. Coll. and Surf. – 2001. – 91. – P. 1–112.
Надiйшло до редакцiї 18.02.2005Iнститут хiмiї поверхнi НАН України, Київ
УДК 546.185
© 2007
I. В. Огородник, I. В. Затовський, член-кореспондент НАН України
М. С. Слободяник
Кристалiзацiя складних фосфатiв у розплавах системи
K2O−P2O5−TiO2−ZnO
The crystallization fields and conditions of the formation of complex phosphates have been studi-
ed for the flux system K2O−P2O5−TiO2−ZnO. KTi2(PO4)3, KTiOPO4, K2Zn0.5Ti1.5(PO4)3,
K1+yZnxTi2−x(PO4)3 (0 6 x 6 0.5; 0 6 y 6 1) and KZnPO4 are synthesized. The cell
parameters of the obtained compounds are calculated by the powder XRD. Ti4+ → Ti3+ reducti-
on processes are observed during the crystallization of langbeinite-like phosphates. The presence
of titanium(III) in the obtained compounds is discovered using EPR- and electron spectroscopy.
Каркаснi фосфати р- та d-металiв є перспективними кристалiчними матрицями для ство-
рення нових люмiнесцентних та сцинтиляцiйних матерiалiв [1, 2]. У цьому аспектi значний
iнтерес представляють складнi фосфати на основi магнiю, мангану, цинку, кадмiю, строн-
цiю, титану та iн. [3]. Одним з пiдходiв до одержання таких сполук є метод високотемпера-
турного розчинного-розплавного синтезу, що широко застосовується не лише для синтезу,
а й для вирощування монокристалiв фосфатiв. Дослiдження процесiв фазоутворення в со-
льових розплавах головним чином спрямованi на оптимiзацiю умов одержання вiдомих та
нових сполук з необхiдними характеристиками для створення функцiональних матерiалiв.
У цiй роботi було дослiджено процеси фазоутворення для розчинiв-розплавiв системи
K2O−P2O5−TiO2−ZnO в умовах спонтанної кристалiзацiї. Кристалiзацiю проводили для
iзоконцентрацiйних розрiзiв для значень Ti/P = 0,125, 0,150 й 0,175. При цьому спiввiдно-
шення K/P та Zn/Ti варiювали в межах вiд 0,8 до 1,4 та вiд 0,5 до 2,5 вiдповiдно.
За вихiднi реагенти використовували фосфати та оксиди таких квалiфiкацiй чистоти:
KPO3 (“ч”), K4P2O7 (“ч”), H3PO4 (“ч. д. а.”), TiO2 (“о. с. ч.”), ZnO (“о. с. ч.”). Перетертi у ага-
товiй ступi вихiднi шихти помiщали у платиновi тиглi та нагрiвали до 1000–1150 ◦С. Для
одержання розчинiв-розплавiв з спiввiдношеннями K/P < 1 до шихт додавали розраховану
кiлькiсть ортофосфорної кислоти. У таких випадках нагрiвання проводили iз ступiнчастою
витримкою протягом 2 год при 200 та 400 ◦С. Для досягнення гомогенностi розплавiв,
останнi витримувались 2–6 год при 1000 ◦С (спiввiдношення K/P = 1,0–1,5) або 4–8 год
при 1150 ◦С (спiввiдношення K/P < 1). Повноту розчинення оксидiв контролювали шляхом
148 ISSN 1025-6415 Reports of the National Academy of Sciences of Ukraine, 2007, №1
|
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-1897 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1025-6415 |
| language | Ukrainian |
| last_indexed | 2025-12-07T17:10:03Z |
| publishDate | 2007 |
| publisher | Видавничий дім "Академперіодика" НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Горбик, П.П. Гунько, В.М. Зарко, В.І. Міщук, О.О. Співак, О.А. Чуйко, О.О. 2008-09-03T13:08:39Z 2008-09-03T13:08:39Z 2007 Розподіл оксиду титану в нанокомпозитах системи SiO2–TiO2 / П.П. Горбик, В.М. Гунько, В.І. Зарко, О.О. Міщук, О.А. Співак, О.О. Чуйко // Доп. НАН України. — 2007. — N 1. — С. 143–148. — Бібліогр.: 10 назв. — укp. 1025-6415 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/1897 541.183 The researches of the element structure of surface layers are carried out by methods of electronic raster microscopy and Auger-spectroscopy. The influence of dioxide titanium on structure surface layers of the system SiO2–TiO2 is investigated. A connection between the surface concentration of the second oxide phase in titanium silica or aluminum silica and their zeta-potential is investigated. uk Видавничий дім "Академперіодика" НАН України Хімія Розподіл оксиду титану в нанокомпозитах системи SiO2–TiO2 Article published earlier |
| spellingShingle | Розподіл оксиду титану в нанокомпозитах системи SiO2–TiO2 Горбик, П.П. Гунько, В.М. Зарко, В.І. Міщук, О.О. Співак, О.А. Чуйко, О.О. Хімія |
| title | Розподіл оксиду титану в нанокомпозитах системи SiO2–TiO2 |
| title_full | Розподіл оксиду титану в нанокомпозитах системи SiO2–TiO2 |
| title_fullStr | Розподіл оксиду титану в нанокомпозитах системи SiO2–TiO2 |
| title_full_unstemmed | Розподіл оксиду титану в нанокомпозитах системи SiO2–TiO2 |
| title_short | Розподіл оксиду титану в нанокомпозитах системи SiO2–TiO2 |
| title_sort | розподіл оксиду титану в нанокомпозитах системи sio2–tio2 |
| topic | Хімія |
| topic_facet | Хімія |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/1897 |
| work_keys_str_mv | AT gorbikpp rozpodíloksidutitanuvnanokompozitahsistemisio2tio2 AT gunʹkovm rozpodíloksidutitanuvnanokompozitahsistemisio2tio2 AT zarkoví rozpodíloksidutitanuvnanokompozitahsistemisio2tio2 AT míŝukoo rozpodíloksidutitanuvnanokompozitahsistemisio2tio2 AT spívakoa rozpodíloksidutitanuvnanokompozitahsistemisio2tio2 AT čuikooo rozpodíloksidutitanuvnanokompozitahsistemisio2tio2 |