APA (7th ed.) Citation

Козирев, Ю., Картель, М., Рубежанська, М., Скляр, В., Дмитрук, Н., Тайхерт, К., & Хофер, К. (2010). Дослідження систем нанокластерів Si та Ge на поверхні SiOx/Si, одержаних методом молекулярно-променевої епітаксії. Доповіді НАН України.

Chicago Style (17th ed.) Citation

Козирев, Ю.М, М.Т Картель, М.Ю Рубежанська, В.К Скляр, Н.В Дмитрук, К Тайхерт, and К Хофер. "Дослідження систем нанокластерів Si та Ge на поверхні SiOx/Si, одержаних методом молекулярно-променевої епітаксії." Доповіді НАН України 2010.

MLA (8th ed.) Citation

Козирев, Ю.М, et al. "Дослідження систем нанокластерів Si та Ge на поверхні SiOx/Si, одержаних методом молекулярно-променевої епітаксії." Доповіді НАН України, 2010.

Warning: These citations may not always be 100% accurate.