Козирев, Ю., Картель, М., Рубежанська, М., Скляр, В., Дмитрук, Н., Тайхерт, К., & Хофер, К. (2010). Дослідження систем нанокластерів Si та Ge на поверхні SiOx/Si, одержаних методом молекулярно-променевої епітаксії. Доповіді НАН України.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Козирев, Ю.М, М.Т Картель, М.Ю Рубежанська, В.К Скляр, Н.В Дмитрук, К Тайхерт, та К Хофер. "Дослідження систем нанокластерів Si та Ge на поверхні SiOx/Si, одержаних методом молекулярно-променевої епітаксії." Доповіді НАН України 2010.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Козирев, Ю.М, et al. "Дослідження систем нанокластерів Si та Ge на поверхні SiOx/Si, одержаних методом молекулярно-променевої епітаксії." Доповіді НАН України, 2010.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.