An application of microwaves refraction for inhomogeneous plasma diagnostic
A brief review of the main microwave diagnostics methods of inhomogeneous plasma based on the refraction of microwaves is given. These methods make it possible to determine the plasma density distribution, the magnetic field distribution, the electron collision frequency, and the electron temperatur...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Вопросы атомной науки и техники |
|---|---|
| Datum: | 2021 |
| Hauptverfasser: | , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
2021
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/194777 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | An application of microwaves refraction for inhomogeneous plasma diagnostic / Y.V. Siusko, Yu.V. Kovtun // Problems of atomic science and tecnology. — 2021. — № 1. — С. 163-170. — Бібліогр.: 55 назв. — англ. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-194777 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
Siusko, Y.V. Kovtun, Yu.V. 2023-11-29T15:16:09Z 2023-11-29T15:16:09Z 2021 An application of microwaves refraction for inhomogeneous plasma diagnostic / Y.V. Siusko, Yu.V. Kovtun // Problems of atomic science and tecnology. — 2021. — № 1. — С. 163-170. — Бібліогр.: 55 назв. — англ. 1562-6016 PACS: 52.70.-m; 52.70.Gw https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/194777 A brief review of the main microwave diagnostics methods of inhomogeneous plasma based on the refraction of microwaves is given. These methods make it possible to determine the plasma density distribution, the magnetic field distribution, the electron collision frequency, and the electron temperature profile. In addition, the determination of the average density of the peripheral plasma layers and the local inhomogeneities of the rotating plasma are also possible. The effect of refraction on the accuracy of determining the plasma parameters by using microwave methods for plasma diagnostics is considered. Наведено короткий огляд основних методів мікрохвильової діагностики неоднорідної плазми, що використовують рефракцію мікрохвиль. Ці методи дозволяють визначити розподіли густини плазми та магнітного поля, частоту зіткнень електронів і профіль електронної температури. Крім того, можливе визначення середньої густини периферійних шарів плазми та локальних неоднорідностей плазми, що обертається. Розглянуто вплив рефракції на точність визначення параметрів плазми при використанні мікрохвильових методів діагностики плазми. Приведен краткий обзор основных методов микроволновой диагностики неоднородной плазмы, использующих рефракцию микроволн. Эти методы позволяют определить распределения плотности плазмы и магнитного поля, частоту столкновений электронов и профиль электронной температуры. Кроме того, возможно определение средней плотности периферийных слоев плазмы и локальных неоднородностей вращающейся плазмы. Рассмотрено влияние рефракции на точность определения параметров плазмы при использовании микроволновых мeтодов диагностики плазмы. This work has been carried out within the framework of the EUROfusion Consortium and has received funding from the Euratom research and training programme 2014-2018 and 2019-2020 under grant agreement No. 633053. The views and opinions expressed herein do not necessarily reflect those of the European Commission.’ Work performed under EUROfusion WP EDU. en Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України Вопросы атомной науки и техники Plasma diagnostics An application of microwaves refraction for inhomogeneous plasma diagnostic Застосування рефракції мікрохвиль для діагностики неоднорідній плазми Применение рефракции микроволн для диагностики неоднородной плазмы Article published earlier |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| title |
An application of microwaves refraction for inhomogeneous plasma diagnostic |
| spellingShingle |
An application of microwaves refraction for inhomogeneous plasma diagnostic Siusko, Y.V. Kovtun, Yu.V. Plasma diagnostics |
| title_short |
An application of microwaves refraction for inhomogeneous plasma diagnostic |
| title_full |
An application of microwaves refraction for inhomogeneous plasma diagnostic |
| title_fullStr |
An application of microwaves refraction for inhomogeneous plasma diagnostic |
| title_full_unstemmed |
An application of microwaves refraction for inhomogeneous plasma diagnostic |
| title_sort |
application of microwaves refraction for inhomogeneous plasma diagnostic |
| author |
Siusko, Y.V. Kovtun, Yu.V. |
| author_facet |
Siusko, Y.V. Kovtun, Yu.V. |
| topic |
Plasma diagnostics |
| topic_facet |
Plasma diagnostics |
| publishDate |
2021 |
| language |
English |
| container_title |
Вопросы атомной науки и техники |
| publisher |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України |
| format |
Article |
| title_alt |
Застосування рефракції мікрохвиль для діагностики неоднорідній плазми Применение рефракции микроволн для диагностики неоднородной плазмы |
| description |
A brief review of the main microwave diagnostics methods of inhomogeneous plasma based on the refraction of microwaves is given. These methods make it possible to determine the plasma density distribution, the magnetic field distribution, the electron collision frequency, and the electron temperature profile. In addition, the determination of the average density of the peripheral plasma layers and the local inhomogeneities of the rotating plasma are also possible. The effect of refraction on the accuracy of determining the plasma parameters by using microwave methods for plasma diagnostics is considered.
Наведено короткий огляд основних методів мікрохвильової діагностики неоднорідної плазми, що використовують рефракцію мікрохвиль. Ці методи дозволяють визначити розподіли густини плазми та магнітного поля, частоту зіткнень електронів і профіль електронної температури. Крім того, можливе визначення середньої густини периферійних шарів плазми та локальних неоднорідностей плазми, що обертається. Розглянуто вплив рефракції на точність визначення параметрів плазми при використанні мікрохвильових методів діагностики плазми.
Приведен краткий обзор основных методов микроволновой диагностики неоднородной плазмы, использующих рефракцию микроволн. Эти методы позволяют определить распределения плотности плазмы и магнитного поля, частоту столкновений электронов и профиль электронной температуры. Кроме того, возможно определение средней плотности периферийных слоев плазмы и локальных неоднородностей вращающейся плазмы. Рассмотрено влияние рефракции на точность определения параметров плазмы при использовании микроволновых мeтодов диагностики плазмы.
|
| issn |
1562-6016 |
| url |
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/194777 |
| citation_txt |
An application of microwaves refraction for inhomogeneous plasma diagnostic / Y.V. Siusko, Yu.V. Kovtun // Problems of atomic science and tecnology. — 2021. — № 1. — С. 163-170. — Бібліогр.: 55 назв. — англ. |
| work_keys_str_mv |
AT siuskoyv anapplicationofmicrowavesrefractionforinhomogeneousplasmadiagnostic AT kovtunyuv anapplicationofmicrowavesrefractionforinhomogeneousplasmadiagnostic AT siuskoyv zastosuvannârefrakcíímíkrohvilʹdlâdíagnostikineodnorídníiplazmi AT kovtunyuv zastosuvannârefrakcíímíkrohvilʹdlâdíagnostikineodnorídníiplazmi AT siuskoyv primenenierefrakciimikrovolndlâdiagnostikineodnorodnoiplazmy AT kovtunyuv primenenierefrakciimikrovolndlâdiagnostikineodnorodnoiplazmy AT siuskoyv applicationofmicrowavesrefractionforinhomogeneousplasmadiagnostic AT kovtunyuv applicationofmicrowavesrefractionforinhomogeneousplasmadiagnostic |
| first_indexed |
2025-11-28T01:35:44Z |
| last_indexed |
2025-11-28T01:35:44Z |
| _version_ |
1850853147656847360 |