Secondary electron emission from thin aluminum foils produced by high-energy electron beams

The description of the experimental equipment and technique for measuring the secondary emission of electrons (SEE) with application of accelerated electrons at the linear accelerator of the IHEPNP NSC KIPT with energies up to 30 MeV and a standard secondary emission monitor [1] are presented. Exper...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Вопросы атомной науки и техники
Дата:2021
Автори: Karpus, S.H., Kovalenko, G.D., Kazarinov, Yu.H., Dubina, V.M., Kasilov, V.Y., Kochetov, S.S., Shopen, O.O., Shliakhov, I.N.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2021
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/195465
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Secondary electron emission from thin aluminum foils produced by high-energy electron beams / S.H. Karpus, G.D. Kovalenko, Yu.H. Kazarinov, V.M. Dubina, V.Y. Kasilov, S.S. Kochetov, O.O. Shopen, I.N. Shliakhov // Problems of Atomic Science and Technology. — 2021. — № 6. — С. 38-41. — Бібліогр.: 16 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-195465
record_format dspace
spelling Karpus, S.H.
Kovalenko, G.D.
Kazarinov, Yu.H.
Dubina, V.M.
Kasilov, V.Y.
Kochetov, S.S.
Shopen, O.O.
Shliakhov, I.N.
2023-12-05T11:08:36Z
2023-12-05T11:08:36Z
2021
Secondary electron emission from thin aluminum foils produced by high-energy electron beams / S.H. Karpus, G.D. Kovalenko, Yu.H. Kazarinov, V.M. Dubina, V.Y. Kasilov, S.S. Kochetov, O.O. Shopen, I.N. Shliakhov // Problems of Atomic Science and Technology. — 2021. — № 6. — С. 38-41. — Бібліогр.: 16 назв. — англ.
1562-6016
PACS: 79.00.00, 06.20.Jr, 07.07.Df
DOI: https://doi.org/10.46813/2021-136-038
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/195465
The description of the experimental equipment and technique for measuring the secondary emission of electrons (SEE) with application of accelerated electrons at the linear accelerator of the IHEPNP NSC KIPT with energies up to 30 MeV and a standard secondary emission monitor [1] are presented. Experimental data of secondary electron emission yields from thin aluminum targets (8 and 50 μm) for primary electron beam energies of 16 and 25 MeV have been experimentally measured. The analysis of the experimental data and their comparison with the theory are carried out. It is shown that the proposed technique for measuring the yields of secondary electron emission is useful and applied for study of low-energy and δ-electrons yields from thin foils, as well as to research the effect of the density effect depending on the energy of the primary electron beam.
Надано опис експериментального обладнання та методики вимірювання виходів вторинної емісії електронів (ВЕЕ) при використанні пучка прискорених електронів на лінійному прискорювачі ІФВЕЯФ ННЦ ХФТІ з енергією до 30 МеВ і стандартного монітора вторинної емісії [1]. Отримано експериментальні дані по виходах вторинної емісії електронів з тонких мішеней алюмінію (8 і 50 мкм) для енергії первинного пучка електронів 16 і 25 МеВ. Проведено аналіз експериментальних даних і порівняння їх з теорією. Показано, що запропонована методика вимірювання виходів вторинної емісії електронів дозволяє отримувати дані по виходах низькоенергетичних і δ-електронів, а також дослідити вплив ефекту густини в залежності від енергії первинного пучка електронів.
Приведено описание экспериментального оборудования и методики измерения вторичной эмиссии электронов (ВЭЭ) с использованием ускоренных электронов на линейном ускорителе ИФВЭЯП ННЦ ХФТИ с энергиями до 30 МэВ и стандартном мониторе вторичной эмиссии [1]. Экспериментально измерены выходы вторичной электронной эмиссии из тонких алюминиевых мишеней (8 и 50 мкм) при энергиях первичного электронного пучка 16 и 25 МэВ. Проведен анализ экспериментальных данных и их сравнение с теорией. Показано, что предложенная методика измерения выходов вторичной эмиссии электронов позволяет получать данные по выходам низкоэнергетических и δ-электронов, а также исследовать влияние эффекта плотности в зависимости от энергии первичного пучка электронов.
en
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
Вопросы атомной науки и техники
Interaction of relativistic particles with crystals and matter
Secondary electron emission from thin aluminum foils produced by high-energy electron beams
Вторинна емісія електронів з тонких плівок алюмінію на пучках високоенергетичних електронів
Вторичная эмиссия электронов из тонких алюминиевых фольг на пучках высокоэнергетичных электронов
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Secondary electron emission from thin aluminum foils produced by high-energy electron beams
spellingShingle Secondary electron emission from thin aluminum foils produced by high-energy electron beams
Karpus, S.H.
Kovalenko, G.D.
Kazarinov, Yu.H.
Dubina, V.M.
Kasilov, V.Y.
Kochetov, S.S.
Shopen, O.O.
Shliakhov, I.N.
Interaction of relativistic particles with crystals and matter
title_short Secondary electron emission from thin aluminum foils produced by high-energy electron beams
title_full Secondary electron emission from thin aluminum foils produced by high-energy electron beams
title_fullStr Secondary electron emission from thin aluminum foils produced by high-energy electron beams
title_full_unstemmed Secondary electron emission from thin aluminum foils produced by high-energy electron beams
title_sort secondary electron emission from thin aluminum foils produced by high-energy electron beams
author Karpus, S.H.
Kovalenko, G.D.
Kazarinov, Yu.H.
Dubina, V.M.
Kasilov, V.Y.
Kochetov, S.S.
Shopen, O.O.
Shliakhov, I.N.
author_facet Karpus, S.H.
Kovalenko, G.D.
Kazarinov, Yu.H.
Dubina, V.M.
Kasilov, V.Y.
Kochetov, S.S.
Shopen, O.O.
Shliakhov, I.N.
topic Interaction of relativistic particles with crystals and matter
topic_facet Interaction of relativistic particles with crystals and matter
publishDate 2021
language English
container_title Вопросы атомной науки и техники
publisher Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
format Article
title_alt Вторинна емісія електронів з тонких плівок алюмінію на пучках високоенергетичних електронів
Вторичная эмиссия электронов из тонких алюминиевых фольг на пучках высокоэнергетичных электронов
description The description of the experimental equipment and technique for measuring the secondary emission of electrons (SEE) with application of accelerated electrons at the linear accelerator of the IHEPNP NSC KIPT with energies up to 30 MeV and a standard secondary emission monitor [1] are presented. Experimental data of secondary electron emission yields from thin aluminum targets (8 and 50 μm) for primary electron beam energies of 16 and 25 MeV have been experimentally measured. The analysis of the experimental data and their comparison with the theory are carried out. It is shown that the proposed technique for measuring the yields of secondary electron emission is useful and applied for study of low-energy and δ-electrons yields from thin foils, as well as to research the effect of the density effect depending on the energy of the primary electron beam. Надано опис експериментального обладнання та методики вимірювання виходів вторинної емісії електронів (ВЕЕ) при використанні пучка прискорених електронів на лінійному прискорювачі ІФВЕЯФ ННЦ ХФТІ з енергією до 30 МеВ і стандартного монітора вторинної емісії [1]. Отримано експериментальні дані по виходах вторинної емісії електронів з тонких мішеней алюмінію (8 і 50 мкм) для енергії первинного пучка електронів 16 і 25 МеВ. Проведено аналіз експериментальних даних і порівняння їх з теорією. Показано, що запропонована методика вимірювання виходів вторинної емісії електронів дозволяє отримувати дані по виходах низькоенергетичних і δ-електронів, а також дослідити вплив ефекту густини в залежності від енергії первинного пучка електронів. Приведено описание экспериментального оборудования и методики измерения вторичной эмиссии электронов (ВЭЭ) с использованием ускоренных электронов на линейном ускорителе ИФВЭЯП ННЦ ХФТИ с энергиями до 30 МэВ и стандартном мониторе вторичной эмиссии [1]. Экспериментально измерены выходы вторичной электронной эмиссии из тонких алюминиевых мишеней (8 и 50 мкм) при энергиях первичного электронного пучка 16 и 25 МэВ. Проведен анализ экспериментальных данных и их сравнение с теорией. Показано, что предложенная методика измерения выходов вторичной эмиссии электронов позволяет получать данные по выходам низкоэнергетических и δ-электронов, а также исследовать влияние эффекта плотности в зависимости от энергии первичного пучка электронов.
issn 1562-6016
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/195465
citation_txt Secondary electron emission from thin aluminum foils produced by high-energy electron beams / S.H. Karpus, G.D. Kovalenko, Yu.H. Kazarinov, V.M. Dubina, V.Y. Kasilov, S.S. Kochetov, O.O. Shopen, I.N. Shliakhov // Problems of Atomic Science and Technology. — 2021. — № 6. — С. 38-41. — Бібліогр.: 16 назв. — англ.
work_keys_str_mv AT karpussh secondaryelectronemissionfromthinaluminumfoilsproducedbyhighenergyelectronbeams
AT kovalenkogd secondaryelectronemissionfromthinaluminumfoilsproducedbyhighenergyelectronbeams
AT kazarinovyuh secondaryelectronemissionfromthinaluminumfoilsproducedbyhighenergyelectronbeams
AT dubinavm secondaryelectronemissionfromthinaluminumfoilsproducedbyhighenergyelectronbeams
AT kasilovvy secondaryelectronemissionfromthinaluminumfoilsproducedbyhighenergyelectronbeams
AT kochetovss secondaryelectronemissionfromthinaluminumfoilsproducedbyhighenergyelectronbeams
AT shopenoo secondaryelectronemissionfromthinaluminumfoilsproducedbyhighenergyelectronbeams
AT shliakhovin secondaryelectronemissionfromthinaluminumfoilsproducedbyhighenergyelectronbeams
AT karpussh vtorinnaemísíâelektronívztonkihplívokalûmíníûnapučkahvisokoenergetičnihelektronív
AT kovalenkogd vtorinnaemísíâelektronívztonkihplívokalûmíníûnapučkahvisokoenergetičnihelektronív
AT kazarinovyuh vtorinnaemísíâelektronívztonkihplívokalûmíníûnapučkahvisokoenergetičnihelektronív
AT dubinavm vtorinnaemísíâelektronívztonkihplívokalûmíníûnapučkahvisokoenergetičnihelektronív
AT kasilovvy vtorinnaemísíâelektronívztonkihplívokalûmíníûnapučkahvisokoenergetičnihelektronív
AT kochetovss vtorinnaemísíâelektronívztonkihplívokalûmíníûnapučkahvisokoenergetičnihelektronív
AT shopenoo vtorinnaemísíâelektronívztonkihplívokalûmíníûnapučkahvisokoenergetičnihelektronív
AT shliakhovin vtorinnaemísíâelektronívztonkihplívokalûmíníûnapučkahvisokoenergetičnihelektronív
AT karpussh vtoričnaâémissiâélektronoviztonkihalûminievyhfolʹgnapučkahvysokoénergetičnyhélektronov
AT kovalenkogd vtoričnaâémissiâélektronoviztonkihalûminievyhfolʹgnapučkahvysokoénergetičnyhélektronov
AT kazarinovyuh vtoričnaâémissiâélektronoviztonkihalûminievyhfolʹgnapučkahvysokoénergetičnyhélektronov
AT dubinavm vtoričnaâémissiâélektronoviztonkihalûminievyhfolʹgnapučkahvysokoénergetičnyhélektronov
AT kasilovvy vtoričnaâémissiâélektronoviztonkihalûminievyhfolʹgnapučkahvysokoénergetičnyhélektronov
AT kochetovss vtoričnaâémissiâélektronoviztonkihalûminievyhfolʹgnapučkahvysokoénergetičnyhélektronov
AT shopenoo vtoričnaâémissiâélektronoviztonkihalûminievyhfolʹgnapučkahvysokoénergetičnyhélektronov
AT shliakhovin vtoričnaâémissiâélektronoviztonkihalûminievyhfolʹgnapučkahvysokoénergetičnyhélektronov
first_indexed 2025-12-07T19:17:16Z
last_indexed 2025-12-07T19:17:16Z
_version_ 1850878236220719104