Secondary electron emission from thin aluminum foils produced by high-energy electron beams
The description of the experimental equipment and technique for measuring the secondary emission of electrons (SEE) with application of accelerated electrons at the linear accelerator of the IHEPNP NSC KIPT with energies up to 30 MeV and a standard secondary emission monitor [1] are presented. Exper...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Вопросы атомной науки и техники |
|---|---|
| Дата: | 2021 |
| Автори: | , , , , , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
2021
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/195465 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Secondary electron emission from thin aluminum foils produced by high-energy electron beams / S.H. Karpus, G.D. Kovalenko, Yu.H. Kazarinov, V.M. Dubina, V.Y. Kasilov, S.S. Kochetov, O.O. Shopen, I.N. Shliakhov // Problems of Atomic Science and Technology. — 2021. — № 6. — С. 38-41. — Бібліогр.: 16 назв. — англ. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-195465 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
Karpus, S.H. Kovalenko, G.D. Kazarinov, Yu.H. Dubina, V.M. Kasilov, V.Y. Kochetov, S.S. Shopen, O.O. Shliakhov, I.N. 2023-12-05T11:08:36Z 2023-12-05T11:08:36Z 2021 Secondary electron emission from thin aluminum foils produced by high-energy electron beams / S.H. Karpus, G.D. Kovalenko, Yu.H. Kazarinov, V.M. Dubina, V.Y. Kasilov, S.S. Kochetov, O.O. Shopen, I.N. Shliakhov // Problems of Atomic Science and Technology. — 2021. — № 6. — С. 38-41. — Бібліогр.: 16 назв. — англ. 1562-6016 PACS: 79.00.00, 06.20.Jr, 07.07.Df DOI: https://doi.org/10.46813/2021-136-038 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/195465 The description of the experimental equipment and technique for measuring the secondary emission of electrons (SEE) with application of accelerated electrons at the linear accelerator of the IHEPNP NSC KIPT with energies up to 30 MeV and a standard secondary emission monitor [1] are presented. Experimental data of secondary electron emission yields from thin aluminum targets (8 and 50 μm) for primary electron beam energies of 16 and 25 MeV have been experimentally measured. The analysis of the experimental data and their comparison with the theory are carried out. It is shown that the proposed technique for measuring the yields of secondary electron emission is useful and applied for study of low-energy and δ-electrons yields from thin foils, as well as to research the effect of the density effect depending on the energy of the primary electron beam. Надано опис експериментального обладнання та методики вимірювання виходів вторинної емісії електронів (ВЕЕ) при використанні пучка прискорених електронів на лінійному прискорювачі ІФВЕЯФ ННЦ ХФТІ з енергією до 30 МеВ і стандартного монітора вторинної емісії [1]. Отримано експериментальні дані по виходах вторинної емісії електронів з тонких мішеней алюмінію (8 і 50 мкм) для енергії первинного пучка електронів 16 і 25 МеВ. Проведено аналіз експериментальних даних і порівняння їх з теорією. Показано, що запропонована методика вимірювання виходів вторинної емісії електронів дозволяє отримувати дані по виходах низькоенергетичних і δ-електронів, а також дослідити вплив ефекту густини в залежності від енергії первинного пучка електронів. Приведено описание экспериментального оборудования и методики измерения вторичной эмиссии электронов (ВЭЭ) с использованием ускоренных электронов на линейном ускорителе ИФВЭЯП ННЦ ХФТИ с энергиями до 30 МэВ и стандартном мониторе вторичной эмиссии [1]. Экспериментально измерены выходы вторичной электронной эмиссии из тонких алюминиевых мишеней (8 и 50 мкм) при энергиях первичного электронного пучка 16 и 25 МэВ. Проведен анализ экспериментальных данных и их сравнение с теорией. Показано, что предложенная методика измерения выходов вторичной эмиссии электронов позволяет получать данные по выходам низкоэнергетических и δ-электронов, а также исследовать влияние эффекта плотности в зависимости от энергии первичного пучка электронов. en Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України Вопросы атомной науки и техники Interaction of relativistic particles with crystals and matter Secondary electron emission from thin aluminum foils produced by high-energy electron beams Вторинна емісія електронів з тонких плівок алюмінію на пучках високоенергетичних електронів Вторичная эмиссия электронов из тонких алюминиевых фольг на пучках высокоэнергетичных электронов Article published earlier |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| title |
Secondary electron emission from thin aluminum foils produced by high-energy electron beams |
| spellingShingle |
Secondary electron emission from thin aluminum foils produced by high-energy electron beams Karpus, S.H. Kovalenko, G.D. Kazarinov, Yu.H. Dubina, V.M. Kasilov, V.Y. Kochetov, S.S. Shopen, O.O. Shliakhov, I.N. Interaction of relativistic particles with crystals and matter |
| title_short |
Secondary electron emission from thin aluminum foils produced by high-energy electron beams |
| title_full |
Secondary electron emission from thin aluminum foils produced by high-energy electron beams |
| title_fullStr |
Secondary electron emission from thin aluminum foils produced by high-energy electron beams |
| title_full_unstemmed |
Secondary electron emission from thin aluminum foils produced by high-energy electron beams |
| title_sort |
secondary electron emission from thin aluminum foils produced by high-energy electron beams |
| author |
Karpus, S.H. Kovalenko, G.D. Kazarinov, Yu.H. Dubina, V.M. Kasilov, V.Y. Kochetov, S.S. Shopen, O.O. Shliakhov, I.N. |
| author_facet |
Karpus, S.H. Kovalenko, G.D. Kazarinov, Yu.H. Dubina, V.M. Kasilov, V.Y. Kochetov, S.S. Shopen, O.O. Shliakhov, I.N. |
| topic |
Interaction of relativistic particles with crystals and matter |
| topic_facet |
Interaction of relativistic particles with crystals and matter |
| publishDate |
2021 |
| language |
English |
| container_title |
Вопросы атомной науки и техники |
| publisher |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України |
| format |
Article |
| title_alt |
Вторинна емісія електронів з тонких плівок алюмінію на пучках високоенергетичних електронів Вторичная эмиссия электронов из тонких алюминиевых фольг на пучках высокоэнергетичных электронов |
| description |
The description of the experimental equipment and technique for measuring the secondary emission of electrons (SEE) with application of accelerated electrons at the linear accelerator of the IHEPNP NSC KIPT with energies up to 30 MeV and a standard secondary emission monitor [1] are presented. Experimental data of secondary electron emission yields from thin aluminum targets (8 and 50 μm) for primary electron beam energies of 16 and 25 MeV have been experimentally measured. The analysis of the experimental data and their comparison with the theory are carried out. It is shown that the proposed technique for measuring the yields of secondary electron emission is useful and applied for study of low-energy and δ-electrons yields from thin foils, as well as to research the effect of the density effect depending on the energy of the primary electron beam.
Надано опис експериментального обладнання та методики вимірювання виходів вторинної емісії електронів (ВЕЕ) при використанні пучка прискорених електронів на лінійному прискорювачі ІФВЕЯФ ННЦ ХФТІ з енергією до 30 МеВ і стандартного монітора вторинної емісії [1]. Отримано експериментальні дані по виходах вторинної емісії електронів з тонких мішеней алюмінію (8 і 50 мкм) для енергії первинного пучка електронів 16 і 25 МеВ. Проведено аналіз експериментальних даних і порівняння їх з теорією. Показано, що запропонована методика вимірювання виходів вторинної емісії електронів дозволяє отримувати дані по виходах низькоенергетичних і δ-електронів, а також дослідити вплив ефекту густини в залежності від енергії первинного пучка електронів.
Приведено описание экспериментального оборудования и методики измерения вторичной эмиссии электронов (ВЭЭ) с использованием ускоренных электронов на линейном ускорителе ИФВЭЯП ННЦ ХФТИ с энергиями до 30 МэВ и стандартном мониторе вторичной эмиссии [1]. Экспериментально измерены выходы вторичной электронной эмиссии из тонких алюминиевых мишеней (8 и 50 мкм) при энергиях первичного электронного пучка 16 и 25 МэВ. Проведен анализ экспериментальных данных и их сравнение с теорией. Показано, что предложенная методика измерения выходов вторичной эмиссии электронов позволяет получать данные по выходам низкоэнергетических и δ-электронов, а также исследовать влияние эффекта плотности в зависимости от энергии первичного пучка электронов.
|
| issn |
1562-6016 |
| url |
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/195465 |
| citation_txt |
Secondary electron emission from thin aluminum foils produced by high-energy electron beams / S.H. Karpus, G.D. Kovalenko, Yu.H. Kazarinov, V.M. Dubina, V.Y. Kasilov, S.S. Kochetov, O.O. Shopen, I.N. Shliakhov // Problems of Atomic Science and Technology. — 2021. — № 6. — С. 38-41. — Бібліогр.: 16 назв. — англ. |
| work_keys_str_mv |
AT karpussh secondaryelectronemissionfromthinaluminumfoilsproducedbyhighenergyelectronbeams AT kovalenkogd secondaryelectronemissionfromthinaluminumfoilsproducedbyhighenergyelectronbeams AT kazarinovyuh secondaryelectronemissionfromthinaluminumfoilsproducedbyhighenergyelectronbeams AT dubinavm secondaryelectronemissionfromthinaluminumfoilsproducedbyhighenergyelectronbeams AT kasilovvy secondaryelectronemissionfromthinaluminumfoilsproducedbyhighenergyelectronbeams AT kochetovss secondaryelectronemissionfromthinaluminumfoilsproducedbyhighenergyelectronbeams AT shopenoo secondaryelectronemissionfromthinaluminumfoilsproducedbyhighenergyelectronbeams AT shliakhovin secondaryelectronemissionfromthinaluminumfoilsproducedbyhighenergyelectronbeams AT karpussh vtorinnaemísíâelektronívztonkihplívokalûmíníûnapučkahvisokoenergetičnihelektronív AT kovalenkogd vtorinnaemísíâelektronívztonkihplívokalûmíníûnapučkahvisokoenergetičnihelektronív AT kazarinovyuh vtorinnaemísíâelektronívztonkihplívokalûmíníûnapučkahvisokoenergetičnihelektronív AT dubinavm vtorinnaemísíâelektronívztonkihplívokalûmíníûnapučkahvisokoenergetičnihelektronív AT kasilovvy vtorinnaemísíâelektronívztonkihplívokalûmíníûnapučkahvisokoenergetičnihelektronív AT kochetovss vtorinnaemísíâelektronívztonkihplívokalûmíníûnapučkahvisokoenergetičnihelektronív AT shopenoo vtorinnaemísíâelektronívztonkihplívokalûmíníûnapučkahvisokoenergetičnihelektronív AT shliakhovin vtorinnaemísíâelektronívztonkihplívokalûmíníûnapučkahvisokoenergetičnihelektronív AT karpussh vtoričnaâémissiâélektronoviztonkihalûminievyhfolʹgnapučkahvysokoénergetičnyhélektronov AT kovalenkogd vtoričnaâémissiâélektronoviztonkihalûminievyhfolʹgnapučkahvysokoénergetičnyhélektronov AT kazarinovyuh vtoričnaâémissiâélektronoviztonkihalûminievyhfolʹgnapučkahvysokoénergetičnyhélektronov AT dubinavm vtoričnaâémissiâélektronoviztonkihalûminievyhfolʹgnapučkahvysokoénergetičnyhélektronov AT kasilovvy vtoričnaâémissiâélektronoviztonkihalûminievyhfolʹgnapučkahvysokoénergetičnyhélektronov AT kochetovss vtoričnaâémissiâélektronoviztonkihalûminievyhfolʹgnapučkahvysokoénergetičnyhélektronov AT shopenoo vtoričnaâémissiâélektronoviztonkihalûminievyhfolʹgnapučkahvysokoénergetičnyhélektronov AT shliakhovin vtoričnaâémissiâélektronoviztonkihalûminievyhfolʹgnapučkahvysokoénergetičnyhélektronov |
| first_indexed |
2025-12-07T19:17:16Z |
| last_indexed |
2025-12-07T19:17:16Z |
| _version_ |
1850878236220719104 |