Formation and monitoring of secondary X-ray radiation under product processing with electron beam
When conducting an industrial radiation processes at an electron accelerator, a part of the beam energy is transformed into bremsstrahlung radiation. In such a way, the mixed e,X-radiation is formed in the area behind an irradiated object. The intensity of the electron and photon components in the r...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Вопросы атомной науки и техники |
|---|---|
| Дата: | 2021 |
| Автори: | , , , , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
2021
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/195811 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Formation and monitoring of secondary X-ray radiation under product processing with electron beam / R.I. Pomatsalyuk, V.A. Shevchenko D.V. Titov, A.Eh. Tenishev, V.L. Uvarov, A.A. Zakharchenko, V.N. Vereshchaka // Problems of Atomic Science and Technology. — 2021. — № 6. — С. 201-205. — Бібліогр.: 12 назв. — англ. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-195811 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
Pomatsalyuk, R.I. Shevchenko, V.A. Titov, D.V. Tenishev, A.Eh. Uvarov, V.L. Zakharchenko, A.A. Vereshchaka, V.N. 2023-12-07T10:41:37Z 2023-12-07T10:41:37Z 2021 Formation and monitoring of secondary X-ray radiation under product processing with electron beam / R.I. Pomatsalyuk, V.A. Shevchenko D.V. Titov, A.Eh. Tenishev, V.L. Uvarov, A.A. Zakharchenko, V.N. Vereshchaka // Problems of Atomic Science and Technology. — 2021. — № 6. — С. 201-205. — Бібліогр.: 12 назв. — англ. 1562-6016 PACS: 87.56.bd; 41.50.+h; 81.40.Wx; 87.53Bn DOI: https://doi.org/10.46813/2021-136-201 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/195811 When conducting an industrial radiation processes at an electron accelerator, a part of the beam energy is transformed into bremsstrahlung radiation. In such a way, the mixed e,X-radiation is formed in the area behind an irradiated object. The intensity of the electron and photon components in the radiation is determined by the energy and power of the primary electron beam, as well as by the parameters of the object and devices located behind it. In paper, the characteristics of the e,X-radiation accompanying the product processing by a scanning electron beam with energy 8…12 MeV at a LU-10 Linac of NSC KIPT are studied. The conditions for obtaining a source of secondary X-rays in the state of electronic equilibrium, as well as its monitoring using an extended free-air ionization chamber are explored. Such an extra-source of radiation can be used for carrying out various non-commercial programs like radiation tests, sanitization of archival materials and cultural heritage objects, etc. При проведенні радіаційно-технологічних програм на прискорювачі електронів частина енергії пучка трансформується в гальмівне випромінювання. Як наслідок, в області за об'єктом формується потік мішаного e,X-випромінювання. Інтенсивність його електронного та фотонного компонентів визначається енергією і потужністю первинного пучка електронів, а також параметрами об’єкта та розміщених за ним пристроїв. Досліджені характеристики e,X-випромінювання, що супроводжує обробку продукції скануючим пучком електронів з енергією 8…12 МеВ на промисловому прискорювачі ЛП-10 ННЦ ХФТІ. Вивчені умови отримання джерела вторинного гальмівного випромінювання в стані електронної рівноваги, а також його моніторингу з використанням протяжної вільно-повітряної іонізаційної камери. Таке додаткове джерело випромінювання може бути використано для проведення різних некомерційних програм, наприклад, радіаційних випробувань, санітарної обробки архівних матеріалів, об’єктів культурної спадщини та інше. При проведении радиационно-технологических программ на ускорителе электронов часть энергии пучка трансформируется в тормозное излучение. В результате, в области за объектом формируется поток смешанного e,X-излучения. Интенсивность его электронного и фотонного компонентов определяется энергией и мощностью первичного пучка электронов, а также параметрами объекта и размещенных за ним устройств. Изучены характеристики e,X-излучения, которое сопровождает обработку продукции сканирующим пучком электронов с энергией 8…12 МэВ на промышленном ускорителе ЛУ-10 ННЦ ХФТИ. Исследованы условия получения источника вторичного тормозного излучения в состоянии электронного равновесия, а также его мониторинга с использованием протяженной свободно-воздушной ионизационной камеры. Такой дополнительный источник излучения может быть использован для проведения некоммерческих программ, например, радиационных испытаний, санитарной обработки архивных материалов, объектов культурного наследия и т.п. en Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України Вопросы атомной науки и техники Application of accelerators in radiation technologies Formation and monitoring of secondary X-ray radiation under product processing with electron beam Формування та моніторинг вторинного гальмівного випромінювання при обробці продукції пучком електронів Формирование и мониторинг вторичного тормозного излучения при обработке продукции пучком электронов Article published earlier |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| title |
Formation and monitoring of secondary X-ray radiation under product processing with electron beam |
| spellingShingle |
Formation and monitoring of secondary X-ray radiation under product processing with electron beam Pomatsalyuk, R.I. Shevchenko, V.A. Titov, D.V. Tenishev, A.Eh. Uvarov, V.L. Zakharchenko, A.A. Vereshchaka, V.N. Application of accelerators in radiation technologies |
| title_short |
Formation and monitoring of secondary X-ray radiation under product processing with electron beam |
| title_full |
Formation and monitoring of secondary X-ray radiation under product processing with electron beam |
| title_fullStr |
Formation and monitoring of secondary X-ray radiation under product processing with electron beam |
| title_full_unstemmed |
Formation and monitoring of secondary X-ray radiation under product processing with electron beam |
| title_sort |
formation and monitoring of secondary x-ray radiation under product processing with electron beam |
| author |
Pomatsalyuk, R.I. Shevchenko, V.A. Titov, D.V. Tenishev, A.Eh. Uvarov, V.L. Zakharchenko, A.A. Vereshchaka, V.N. |
| author_facet |
Pomatsalyuk, R.I. Shevchenko, V.A. Titov, D.V. Tenishev, A.Eh. Uvarov, V.L. Zakharchenko, A.A. Vereshchaka, V.N. |
| topic |
Application of accelerators in radiation technologies |
| topic_facet |
Application of accelerators in radiation technologies |
| publishDate |
2021 |
| language |
English |
| container_title |
Вопросы атомной науки и техники |
| publisher |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України |
| format |
Article |
| title_alt |
Формування та моніторинг вторинного гальмівного випромінювання при обробці продукції пучком електронів Формирование и мониторинг вторичного тормозного излучения при обработке продукции пучком электронов |
| description |
When conducting an industrial radiation processes at an electron accelerator, a part of the beam energy is transformed into bremsstrahlung radiation. In such a way, the mixed e,X-radiation is formed in the area behind an irradiated object. The intensity of the electron and photon components in the radiation is determined by the energy and power of the primary electron beam, as well as by the parameters of the object and devices located behind it. In paper, the characteristics of the e,X-radiation accompanying the product processing by a scanning electron beam with energy 8…12 MeV at a LU-10 Linac of NSC KIPT are studied. The conditions for obtaining a source of secondary X-rays in the state of electronic equilibrium, as well as its monitoring using an extended free-air ionization chamber are explored. Such an extra-source of radiation can be used for carrying out various non-commercial programs like radiation tests, sanitization of archival materials and cultural heritage objects, etc.
При проведенні радіаційно-технологічних програм на прискорювачі електронів частина енергії пучка трансформується в гальмівне випромінювання. Як наслідок, в області за об'єктом формується потік мішаного e,X-випромінювання. Інтенсивність його електронного та фотонного компонентів визначається енергією і потужністю первинного пучка електронів, а також параметрами об’єкта та розміщених за ним пристроїв. Досліджені характеристики e,X-випромінювання, що супроводжує обробку продукції скануючим пучком електронів з енергією 8…12 МеВ на промисловому прискорювачі ЛП-10 ННЦ ХФТІ. Вивчені умови отримання джерела вторинного гальмівного випромінювання в стані електронної рівноваги, а також його моніторингу з використанням протяжної вільно-повітряної іонізаційної камери. Таке додаткове джерело випромінювання може бути використано для проведення різних некомерційних програм, наприклад, радіаційних випробувань, санітарної обробки архівних матеріалів, об’єктів культурної спадщини та інше.
При проведении радиационно-технологических программ на ускорителе электронов часть энергии пучка трансформируется в тормозное излучение. В результате, в области за объектом формируется поток смешанного e,X-излучения. Интенсивность его электронного и фотонного компонентов определяется энергией и мощностью первичного пучка электронов, а также параметрами объекта и размещенных за ним устройств. Изучены характеристики e,X-излучения, которое сопровождает обработку продукции сканирующим пучком электронов с энергией 8…12 МэВ на промышленном ускорителе ЛУ-10 ННЦ ХФТИ. Исследованы условия получения источника вторичного тормозного излучения в состоянии электронного равновесия, а также его мониторинга с использованием протяженной свободно-воздушной ионизационной камеры. Такой дополнительный источник излучения может быть использован для проведения некоммерческих программ, например, радиационных испытаний, санитарной обработки архивных материалов, объектов культурного наследия и т.п.
|
| issn |
1562-6016 |
| url |
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/195811 |
| citation_txt |
Formation and monitoring of secondary X-ray radiation under product processing with electron beam / R.I. Pomatsalyuk, V.A. Shevchenko D.V. Titov, A.Eh. Tenishev, V.L. Uvarov, A.A. Zakharchenko, V.N. Vereshchaka // Problems of Atomic Science and Technology. — 2021. — № 6. — С. 201-205. — Бібліогр.: 12 назв. — англ. |
| work_keys_str_mv |
AT pomatsalyukri formationandmonitoringofsecondaryxrayradiationunderproductprocessingwithelectronbeam AT shevchenkova formationandmonitoringofsecondaryxrayradiationunderproductprocessingwithelectronbeam AT titovdv formationandmonitoringofsecondaryxrayradiationunderproductprocessingwithelectronbeam AT tenishevaeh formationandmonitoringofsecondaryxrayradiationunderproductprocessingwithelectronbeam AT uvarovvl formationandmonitoringofsecondaryxrayradiationunderproductprocessingwithelectronbeam AT zakharchenkoaa formationandmonitoringofsecondaryxrayradiationunderproductprocessingwithelectronbeam AT vereshchakavn formationandmonitoringofsecondaryxrayradiationunderproductprocessingwithelectronbeam AT pomatsalyukri formuvannâtamonítoringvtorinnogogalʹmívnogovipromínûvannâpriobrobcíprodukcíípučkomelektronív AT shevchenkova formuvannâtamonítoringvtorinnogogalʹmívnogovipromínûvannâpriobrobcíprodukcíípučkomelektronív AT titovdv formuvannâtamonítoringvtorinnogogalʹmívnogovipromínûvannâpriobrobcíprodukcíípučkomelektronív AT tenishevaeh formuvannâtamonítoringvtorinnogogalʹmívnogovipromínûvannâpriobrobcíprodukcíípučkomelektronív AT uvarovvl formuvannâtamonítoringvtorinnogogalʹmívnogovipromínûvannâpriobrobcíprodukcíípučkomelektronív AT zakharchenkoaa formuvannâtamonítoringvtorinnogogalʹmívnogovipromínûvannâpriobrobcíprodukcíípučkomelektronív AT vereshchakavn formuvannâtamonítoringvtorinnogogalʹmívnogovipromínûvannâpriobrobcíprodukcíípučkomelektronív AT pomatsalyukri formirovanieimonitoringvtoričnogotormoznogoizlučeniâpriobrabotkeprodukciipučkomélektronov AT shevchenkova formirovanieimonitoringvtoričnogotormoznogoizlučeniâpriobrabotkeprodukciipučkomélektronov AT titovdv formirovanieimonitoringvtoričnogotormoznogoizlučeniâpriobrabotkeprodukciipučkomélektronov AT tenishevaeh formirovanieimonitoringvtoričnogotormoznogoizlučeniâpriobrabotkeprodukciipučkomélektronov AT uvarovvl formirovanieimonitoringvtoričnogotormoznogoizlučeniâpriobrabotkeprodukciipučkomélektronov AT zakharchenkoaa formirovanieimonitoringvtoričnogotormoznogoizlučeniâpriobrabotkeprodukciipučkomélektronov AT vereshchakavn formirovanieimonitoringvtoričnogotormoznogoizlučeniâpriobrabotkeprodukciipučkomélektronov |
| first_indexed |
2025-12-07T20:44:04Z |
| last_indexed |
2025-12-07T20:44:04Z |
| _version_ |
1850883697155244032 |