Formation and monitoring of secondary X-ray radiation under product processing with electron beam

• Опубліковано в: : Вопросы атомной науки и техники
• Дата: 2021
• Автори: Pomatsalyuk, R.I., Shevchenko, V.A., Titov, D.V., Tenishev, A.Eh., Uvarov, V.L., Zakharchenko, A.A., Vereshchaka, V.N.
• Формат: Стаття
• Мова: English
• Опубліковано: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2021
• Теми: Application of accelerators in radiation technologies
• Онлайн доступ: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/195811
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Formation and monitoring of secondary X-ray radiation under product processing with electron beam / R.I. Pomatsalyuk, V.A. Shevchenko D.V. Titov, A.Eh. Tenishev, V.L. Uvarov, A.A. Zakharchenko, V.N. Vereshchaka // Problems of Atomic Science and Technology. — 2021. — № 6. — С. 201-205. — Бібліогр.: 12 назв. — англ.

When conducting an industrial radiation processes at an electron accelerator, a part of the beam energy is transformed into bremsstrahlung radiation. In such a way, the mixed e,X-radiation is formed in the area behind an irradiated object. The intensity of the electron and photon components in the r...