Intensification of the process of plasma-induction growing of large profiled tungsten single crystals

The structure of a profiled tungsten single crystal obtained by plasma-induction layer-by-layer growth on a single crystal seed crystal at different deposition rates is investigated. Investigated – microhardness, size of the subgrain structure, angles of misorientation of subgrains, the nature of th...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Вопросы атомной науки и техники
Дата:2022
Автори: Shapovalov, V.O., Gnizdylo, O.M., Yakusha, V.V., Nikitenko, Yu.O., Berdnikova, E.M., Khohlova, J.A.
Формат: Стаття
Мова:Англійська
Опубліковано: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2022
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/195819
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Intensification of the process of plasma-induction growing of large profiled tungsten single crystals / V.O. Shapovalov, O.M. Gnizdylo, V.V. Yakusha, Yu.O. Nikitenko, E.M. Berdnikova, J.A. Khohlova // Problems of Atomic Science and Technology. — 2022. — № 1. — С. 40-45. — Бібліогр.: 15 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:The structure of a profiled tungsten single crystal obtained by plasma-induction layer-by-layer growth on a single crystal seed crystal at different deposition rates is investigated. Investigated – microhardness, size of the subgrain structure, angles of misorientation of subgrains, the nature of the distribution of dislocations, etc. A complex of experimental methods of modern physical materials science was used, including light, scanning and transmission microdiffraction electron microscopy. It was found that the ingot is a single crystal body with a crystallographic orientation given by the seed crystal. An increase in the growth rate to 70 mm/min leads to an insignificant decrease in microhardness, refinement of the substructure with a uniform distribution of the dislocation density, which makes it possible to obtain tungsten single crystals with a single crystal structure at disorientation angles not exceeding 3°. Досліджено структуру профільованого монокристала вольфраму, отриманого способом плазмово-індукційного пошарового вирощування на монокристалічному зародковому кристалі при різних швидкостях наплавки. Досліджено – мікротвердість; розміри субзеренної структури, кутів розорієнтування субзерен; характер розподілу дислокацій та ін. Застосовано комплекс експериментальних методів сучасного фізичного матеріалознавства, включаючи світлову, растрову та просвічуючу мікродифракційну електронну мікроскопії. Встановлено, що зливок є монокристалічним тілом з кристалографічною орієнтацією, яка була задана зародковим кристалом. Збільшення швидкості вирощування до 70 мм/хв призводить до незначного зменшення мікротвердості, подрібнення субструктури при рівномірному розподілі щільності дислокацій, що дозволяє отримувати монокристали вольфраму з монокристалічною структурою при кутах розорієнтації, що не перевищують 3°. Исследована структура профилированного монокристалла вольфрама, полученного способом плазменно-индукционного послойного выращивания на монокристаллическом зародышевом кристалле при различных скоростях наплавки. Исследованы – микротвердость; размеры субзеренной структуры, углов разориентирования субзерен; характер распределения дислокаций и т. д. Использован комплекс экспериментальных методов современного физического материаловедения, включая световую, растровую и просвечивающую микродифракционную электронную микроскопии. Установлено, что слиток является монокристаллическим телом с кристаллографической ориентацией, заданной зародышевым кристаллом. Увеличение скорости выращивания до 70 мм/мин приводит к незначительному уменьшению микротвердости, измельчению субструктуры при равномерном распределении плотности дислокаций, что позволяет получать вольфрамовые монокристаллы с монокристаллической структурой при углах разориентации, не превышающих 3°.
ISSN:1562-6016