Relative length as a classification parameter of the crystallization mode of amorphous films

The possibility of using of the relative length δ₀ as a parameter, determining the polymorphous crystallization mode of amorphous films, was considered. Following polymorphous crystallization modes have been identified based on the structural and morphological characteristics. Layer polymorphous cry...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Вопросы атомной науки и техники
Date:2022
Main Author: Bagmut, A.G.
Format: Article
Language:English
Published: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2022
Subjects:
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/195829
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Relative length as a classification parameter of the crystallization mode of amorphous films / A.G. Bagmut // Problems of Atomic Science and Technology. — 2022. — № 1. — С. 64-68. — Бібліогр.: 7 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862749532983394304
author Bagmut, A.G.
author_facet Bagmut, A.G.
citation_txt Relative length as a classification parameter of the crystallization mode of amorphous films / A.G. Bagmut // Problems of Atomic Science and Technology. — 2022. — № 1. — С. 64-68. — Бібліогр.: 7 назв. — англ.
collection DSpace DC
container_title Вопросы атомной науки и техники
description The possibility of using of the relative length δ₀ as a parameter, determining the polymorphous crystallization mode of amorphous films, was considered. Following polymorphous crystallization modes have been identified based on the structural and morphological characteristics. Layer polymorphous crystallization mode, describes the nucleation and growth of a single-crystal layer in the field of the electron-beam impact, for which δ₀ is about several thousand (3000…5000). Island polymorphous crystallization mode, describes the nucleation and growth of a polycrystalline layer, for which δ₀ is about several hundred (100…1100). Dendrite polymorphous crystallization mode, describes the nucleation and growth of dendrite, for which δ₀ is about several thousand (∼ 4000). Розглянуто можливість використання відносної довжини δ₀ як параметр, що визначає тип поліморфної кристалізації аморфних плівок. Були ідентифіковані наступні типи поліморфної кристалізації на основі структурних і морфологічних характеристик. Це шарова поліморфна кристалізація, яка описує зародження і зростання монокристалічного шару в полі електронно-променевого впливу. Для неї δ₀ становить кількох тисяч (3000…5000). Острівцева поліморфна кристалізація описує зародження і зростання полікристалічного шару. Значення δ₀ становить кількох сотень (100…1100). Дендритна поліморфна кристалізація описує зародження і зростання дендриту. В цьому випадку δ₀ складає кілька тисяч (∼ 4000). Рассмотрена возможность использования относительной длины δ₀ в качестве параметра, определяющего тип полиморфной кристаллизации аморфных пленок. Были идентифицированы следующие типы полиморфной кристаллизации на основе структурных и морфологических характеристик. Слоевая полиморфная кристаллизация описывает зарождение и рост монокристаллического слоя в поле электронно-лучевого воздействия. Для нее δ₀ составляет нескольких тысяч (3000…5000). Островковая полиморфная кристаллизация описывает зарождение и рост поликристаллического слоя. Значение δ₀ составляет несколько сотен (100…1100). Дендритная полиморфная кристаллизация описывает зарождение и рост дендрита. В этом случае δ₀ составляет несколько тысяч (∼ 4000).
first_indexed 2025-12-07T21:00:42Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-195829
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 1562-6016
language English
last_indexed 2025-12-07T21:00:42Z
publishDate 2022
publisher Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
record_format dspace
spelling Bagmut, A.G.
2023-12-07T10:53:24Z
2023-12-07T10:53:24Z
2022
Relative length as a classification parameter of the crystallization mode of amorphous films / A.G. Bagmut // Problems of Atomic Science and Technology. — 2022. — № 1. — С. 64-68. — Бібліогр.: 7 назв. — англ.
1562-6016
PACS: 61.14.−x, 61.43.Dq, 61.72.Cc, 64.70.Kb, 68.37.Lp, 68.55.A−, 68.37.−d
DOI: https://doi.org/10.46813/2022-137-064
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/195829
The possibility of using of the relative length δ₀ as a parameter, determining the polymorphous crystallization mode of amorphous films, was considered. Following polymorphous crystallization modes have been identified based on the structural and morphological characteristics. Layer polymorphous crystallization mode, describes the nucleation and growth of a single-crystal layer in the field of the electron-beam impact, for which δ₀ is about several thousand (3000…5000). Island polymorphous crystallization mode, describes the nucleation and growth of a polycrystalline layer, for which δ₀ is about several hundred (100…1100). Dendrite polymorphous crystallization mode, describes the nucleation and growth of dendrite, for which δ₀ is about several thousand (∼ 4000).
Розглянуто можливість використання відносної довжини δ₀ як параметр, що визначає тип поліморфної кристалізації аморфних плівок. Були ідентифіковані наступні типи поліморфної кристалізації на основі структурних і морфологічних характеристик. Це шарова поліморфна кристалізація, яка описує зародження і зростання монокристалічного шару в полі електронно-променевого впливу. Для неї δ₀ становить кількох тисяч (3000…5000). Острівцева поліморфна кристалізація описує зародження і зростання полікристалічного шару. Значення δ₀ становить кількох сотень (100…1100). Дендритна поліморфна кристалізація описує зародження і зростання дендриту. В цьому випадку δ₀ складає кілька тисяч (∼ 4000).
Рассмотрена возможность использования относительной длины δ₀ в качестве параметра, определяющего тип полиморфной кристаллизации аморфных пленок. Были идентифицированы следующие типы полиморфной кристаллизации на основе структурных и морфологических характеристик. Слоевая полиморфная кристаллизация описывает зарождение и рост монокристаллического слоя в поле электронно-лучевого воздействия. Для нее δ₀ составляет нескольких тысяч (3000…5000). Островковая полиморфная кристаллизация описывает зарождение и рост поликристаллического слоя. Значение δ₀ составляет несколько сотен (100…1100). Дендритная полиморфная кристаллизация описывает зарождение и рост дендрита. В этом случае δ₀ составляет несколько тысяч (∼ 4000).
en
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
Вопросы атомной науки и техники
Physics and technology of structural materials
Relative length as a classification parameter of the crystallization mode of amorphous films
Відносна довжина як класифікаційний параметр кристалізаційних мод аморфних плівок
Относительная длина как классификационный параметр кристаллизационных мод в аморфных пленках
Article
published earlier
spellingShingle Relative length as a classification parameter of the crystallization mode of amorphous films
Bagmut, A.G.
Physics and technology of structural materials
title Relative length as a classification parameter of the crystallization mode of amorphous films
title_alt Відносна довжина як класифікаційний параметр кристалізаційних мод аморфних плівок
Относительная длина как классификационный параметр кристаллизационных мод в аморфных пленках
title_full Relative length as a classification parameter of the crystallization mode of amorphous films
title_fullStr Relative length as a classification parameter of the crystallization mode of amorphous films
title_full_unstemmed Relative length as a classification parameter of the crystallization mode of amorphous films
title_short Relative length as a classification parameter of the crystallization mode of amorphous films
title_sort relative length as a classification parameter of the crystallization mode of amorphous films
topic Physics and technology of structural materials
topic_facet Physics and technology of structural materials
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/195829
work_keys_str_mv AT bagmutag relativelengthasaclassificationparameterofthecrystallizationmodeofamorphousfilms
AT bagmutag vídnosnadovžinaâkklasifíkacíiniiparametrkristalízacíinihmodamorfnihplívok
AT bagmutag otnositelʹnaâdlinakakklassifikacionnyiparametrkristallizacionnyhmodvamorfnyhplenkah