Influence of helium ions beams with energies 0.12 MeV on sputtering process on surface of tungsten

The samples of tungsten with a purity of 99.5 and 99.7% were irradiated with helium ion beams (EHe⁺ = 0.12 MeV). The total sputtering coefficients for the sample depth up to 60 Å from the surface of sample were obtained. It was found that on the surface of tungsten, the number of pits (the flecking...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Problems of Atomic Science and Technology
Date:2023
Main Authors: Manuilenko, O.V., Prokhorenko, E.M., Pavlii, K.V., Zajtsev, B.V., Dubniuk, S.N., Lytvynenko, V.V., Kasatkin, Yu.A., Prokhorenko, T.G.
Format: Article
Language:English
Published: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2023
Subjects:
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/196160
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Influence of helium ions beams with energies 0.12 MeV on sputtering process on surface of tungsten / O.V. Manuilenko, E.M. Prokhorenko, K.V. Pavlii, B.V. Zajtsev, S.N. Dubniuk, V.V. Lytvynenko, Yu.A. Kasatkin, T.G. Prokhorenko // Problems of Atomic Science and Technology. — 2023. — № 3. — С. 158-163. — Бібліогр.: 26 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-196160
record_format dspace
spelling Manuilenko, O.V.
Prokhorenko, E.M.
Pavlii, K.V.
Zajtsev, B.V.
Dubniuk, S.N.
Lytvynenko, V.V.
Kasatkin, Yu.A.
Prokhorenko, T.G.
2023-12-11T11:40:57Z
2023-12-11T11:40:57Z
2023
Influence of helium ions beams with energies 0.12 MeV on sputtering process on surface of tungsten / O.V. Manuilenko, E.M. Prokhorenko, K.V. Pavlii, B.V. Zajtsev, S.N. Dubniuk, V.V. Lytvynenko, Yu.A. Kasatkin, T.G. Prokhorenko // Problems of Atomic Science and Technology. — 2023. — № 3. — С. 158-163. — Бібліогр.: 26 назв. — англ.
1562-6016
PACS: 52.40.HF, 29.27Ac, 621.715:539.376, 87.55N
DOI: https://doi.org/10.46813/2023-145-158
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/196160
The samples of tungsten with a purity of 99.5 and 99.7% were irradiated with helium ion beams (EHe⁺ = 0.12 MeV). The total sputtering coefficients for the sample depth up to 60 Å from the surface of sample were obtained. It was found that on the surface of tungsten, the number of pits (the flecking effect) significantly exceeds the number of bubbles (the blistering effect). The damage profiles of the surface of tungsten as a result of irradiation with helium ions are calculated. The areas of maximal display of effects of damage are determined.
Проведено опромінення зразків вольфраму з чистотою 99,5 і 99,7% пучками іонів гелію (EHe⁺ = 0,12 МeВ). Отримано сумарні коефіцієнти розпилення за глибиною зразка до 60 Å від поверхні зразка. Знайдено, що на поверхні зразків вольфраму кількість ямок (ефект флекінгу) істотно перевищує кількість бульбашок (ефект блістерингу). Пораховані профілі пошкодження поверхні вольфраму в результаті опромінення іонами гелію. Визначено зони максимального прояву руйнівних ефектів.
en
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
Problems of Atomic Science and Technology
Applications and technologies
Influence of helium ions beams with energies 0.12 MeV on sputtering process on surface of tungsten
Вплив пучків іонів гелію з енергіями 0,12 МеВ на процес розпилення на поверхні вольфраму
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Influence of helium ions beams with energies 0.12 MeV on sputtering process on surface of tungsten
spellingShingle Influence of helium ions beams with energies 0.12 MeV on sputtering process on surface of tungsten
Manuilenko, O.V.
Prokhorenko, E.M.
Pavlii, K.V.
Zajtsev, B.V.
Dubniuk, S.N.
Lytvynenko, V.V.
Kasatkin, Yu.A.
Prokhorenko, T.G.
Applications and technologies
title_short Influence of helium ions beams with energies 0.12 MeV on sputtering process on surface of tungsten
title_full Influence of helium ions beams with energies 0.12 MeV on sputtering process on surface of tungsten
title_fullStr Influence of helium ions beams with energies 0.12 MeV on sputtering process on surface of tungsten
title_full_unstemmed Influence of helium ions beams with energies 0.12 MeV on sputtering process on surface of tungsten
title_sort influence of helium ions beams with energies 0.12 mev on sputtering process on surface of tungsten
author Manuilenko, O.V.
Prokhorenko, E.M.
Pavlii, K.V.
Zajtsev, B.V.
Dubniuk, S.N.
Lytvynenko, V.V.
Kasatkin, Yu.A.
Prokhorenko, T.G.
author_facet Manuilenko, O.V.
Prokhorenko, E.M.
Pavlii, K.V.
Zajtsev, B.V.
Dubniuk, S.N.
Lytvynenko, V.V.
Kasatkin, Yu.A.
Prokhorenko, T.G.
topic Applications and technologies
topic_facet Applications and technologies
publishDate 2023
language English
container_title Problems of Atomic Science and Technology
publisher Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
format Article
title_alt Вплив пучків іонів гелію з енергіями 0,12 МеВ на процес розпилення на поверхні вольфраму
description The samples of tungsten with a purity of 99.5 and 99.7% were irradiated with helium ion beams (EHe⁺ = 0.12 MeV). The total sputtering coefficients for the sample depth up to 60 Å from the surface of sample were obtained. It was found that on the surface of tungsten, the number of pits (the flecking effect) significantly exceeds the number of bubbles (the blistering effect). The damage profiles of the surface of tungsten as a result of irradiation with helium ions are calculated. The areas of maximal display of effects of damage are determined. Проведено опромінення зразків вольфраму з чистотою 99,5 і 99,7% пучками іонів гелію (EHe⁺ = 0,12 МeВ). Отримано сумарні коефіцієнти розпилення за глибиною зразка до 60 Å від поверхні зразка. Знайдено, що на поверхні зразків вольфраму кількість ямок (ефект флекінгу) істотно перевищує кількість бульбашок (ефект блістерингу). Пораховані профілі пошкодження поверхні вольфраму в результаті опромінення іонами гелію. Визначено зони максимального прояву руйнівних ефектів.
issn 1562-6016
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/196160
citation_txt Influence of helium ions beams with energies 0.12 MeV on sputtering process on surface of tungsten / O.V. Manuilenko, E.M. Prokhorenko, K.V. Pavlii, B.V. Zajtsev, S.N. Dubniuk, V.V. Lytvynenko, Yu.A. Kasatkin, T.G. Prokhorenko // Problems of Atomic Science and Technology. — 2023. — № 3. — С. 158-163. — Бібліогр.: 26 назв. — англ.
work_keys_str_mv AT manuilenkoov influenceofheliumionsbeamswithenergies012mevonsputteringprocessonsurfaceoftungsten
AT prokhorenkoem influenceofheliumionsbeamswithenergies012mevonsputteringprocessonsurfaceoftungsten
AT pavliikv influenceofheliumionsbeamswithenergies012mevonsputteringprocessonsurfaceoftungsten
AT zajtsevbv influenceofheliumionsbeamswithenergies012mevonsputteringprocessonsurfaceoftungsten
AT dubniuksn influenceofheliumionsbeamswithenergies012mevonsputteringprocessonsurfaceoftungsten
AT lytvynenkovv influenceofheliumionsbeamswithenergies012mevonsputteringprocessonsurfaceoftungsten
AT kasatkinyua influenceofheliumionsbeamswithenergies012mevonsputteringprocessonsurfaceoftungsten
AT prokhorenkotg influenceofheliumionsbeamswithenergies012mevonsputteringprocessonsurfaceoftungsten
AT manuilenkoov vplivpučkívíonívgelíûzenergíâmi012mevnaprocesrozpilennânapoverhnívolʹframu
AT prokhorenkoem vplivpučkívíonívgelíûzenergíâmi012mevnaprocesrozpilennânapoverhnívolʹframu
AT pavliikv vplivpučkívíonívgelíûzenergíâmi012mevnaprocesrozpilennânapoverhnívolʹframu
AT zajtsevbv vplivpučkívíonívgelíûzenergíâmi012mevnaprocesrozpilennânapoverhnívolʹframu
AT dubniuksn vplivpučkívíonívgelíûzenergíâmi012mevnaprocesrozpilennânapoverhnívolʹframu
AT lytvynenkovv vplivpučkívíonívgelíûzenergíâmi012mevnaprocesrozpilennânapoverhnívolʹframu
AT kasatkinyua vplivpučkívíonívgelíûzenergíâmi012mevnaprocesrozpilennânapoverhnívolʹframu
AT prokhorenkotg vplivpučkívíonívgelíûzenergíâmi012mevnaprocesrozpilennânapoverhnívolʹframu
first_indexed 2025-12-07T19:07:27Z
last_indexed 2025-12-07T19:07:27Z
_version_ 1850877618883133440