Numerical simulation of reproduction of the development conditions of the next trichel pulse in negative corona
Numerical simulations of the negative corona at a constant applied voltage in the Trichel pulse mode are carried out for different contents of an electronegative gas component. The dependences of the total current peak value and the time interval between pulses on the values of the applied voltage a...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Problems of Atomic Science and Technology |
|---|---|
| Дата: | 2023 |
| Автор: | |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
2023
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/196191 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Numerical simulation of reproduction of the development conditions of the next trichel pulse in negative corona / V. Ostroushko // Problems of Atomic Science and Technology. — 2023. — № 4. — С. 134-138. — Бібліогр.: 7 назв. — англ. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Резюме: | Numerical simulations of the negative corona at a constant applied voltage in the Trichel pulse mode are carried out for different contents of an electronegative gas component. The dependences of the total current peak value and the time interval between pulses on the values of the applied voltage and the content of electronegative components are obtained. The results are somewhat explained using simplified models.
Виконувалося числове моделювання негативної корони при постійній докладеній напрузі у режимі імпульсів Тричела для різного вмісту електронегативних складових у газі. Отримано залежності пікового значення повного струму та інтервалу між імпульсами від значень докладеної напруги та вмісту електронегативних складових. Результати певною мірою пояснені з використанням спрощених моделей.
|
|---|---|
| ISSN: | 1562-6016 |