Karpus, S., Shliahov, I., Liashchov, M., Borisenko, V., Kochetov, S., Tsiats’ko, E., & Shopen, O. (2023). Application features of the electrostatic systems for measuring the secondary electron emission yield. Problems of Atomic Science and Technology.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Karpus, S., I. Shliahov, M. Liashchov, V. Borisenko, S. Kochetov, E. Tsiats’ko, та O. Shopen. "Application Features of the Electrostatic Systems for Measuring the Secondary Electron Emission Yield." Problems of Atomic Science and Technology 2023.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Karpus, S., et al. "Application Features of the Electrostatic Systems for Measuring the Secondary Electron Emission Yield." Problems of Atomic Science and Technology, 2023.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.