Опыт применения метода Эйхгорна при создании фотографического каталога

В выбранной области неба осуществлено выравнивание методом Эйхгорна в случае двукратного перекрытия пластинок. Использованы модели восьми и шести постоянных, метод наименьших квадратов с весами. Средняя квадратичная разность полученных положений и опорного каталога равны 0.29" и 0.26" по α...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Кинематика и физика небесных тел
Datum:1993
1. Verfasser: Галиева, З.А.
Format: Artikel
Sprache:Russisch
Veröffentlicht: Головна астрономічна обсерваторія НАН України 1993
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/211701
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Опыт применения метода Эйхгорна при создании фотографического каталога / З.А. Галиева // Кинематика и физика небесных тел. — 1993. — Т. 9, № 1. — С. 67-72. — Бібліогр.: 6 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Beschreibung
Zusammenfassung:В выбранной области неба осуществлено выравнивание методом Эйхгорна в случае двукратного перекрытия пластинок. Использованы модели восьми и шести постоянных, метод наименьших квадратов с весами. Средняя квадратичная разность полученных положений и опорного каталога равны 0.29" и 0.26" по α и δ соответственно. У вибраній області неба здійснено вирівнювання методом Ейхгорна у випадку двократного перекриття платівок. Використовувались моделі восьми і шести постійних, метод найменших квадратів з вагами. Середня квадратична різниця одержаних положень і опорного каталога дорівнюють 0.29" та 0.26" по α і δ відповідно. The block adjustment of stellar position errors in the limited area of the sky in case of twofold coverage is performed. The models of eight and six plate constants and the weighted least squares adjustment are used. The root mean square deviations between model and reference positions are 0.29" and 0.26" in α and δ, respectively.
ISSN:0233-7665