Зображення обкладинки

Ellipsometry and optical spectroscopy of low-dimensional family TMDs

Here, we report a comprehensive study of the fundamental optical properties of two-dimensional materials. These properties have been ascertained using spectroscopic ellipsometry, optical spectroscopy of Raman scattering, and photoluminescence. We have focused on the optical properties of the chemica...

Повний опис

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :	Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Дата:	2017
Автори:	Kravets, V.G., Prorok, V.V., Poperenko, L.V., Shaykevich, I.A.
Формат:	Стаття
Мова:	Англійська
Опубліковано:	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2017
Онлайн доступ:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/214956
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:	Ellipsometry and optical spectroscopy of low-dimensional family TMDs / V.G. Kravets, V.V. Prorok, L.V. Poperenko, I.A. Shaykevich // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2017. — Т. 20, № 3. — С. 284-296. — Бібліогр.: 43 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Схожі ресурси

Ellipsometry and optical spectroscopy of low-dimensional family TMDs
за авторством: V. G. Kravets, та інші
Опубліковано: (2017)

Influence of the surface roughness and oxide surface layer onto Si optical constants measured by the ellipsometry technique
за авторством: Rozouvan, T.S., та інші
Опубліковано: (2015)

Influence of the surface roughness and oxide surface layer onto Si optical constants measured by the ellipsometry technique
за авторством: T. S. Rozouvan, та інші
Опубліковано: (2015)

Using ellipsometry methods for depth analyzing the optical disc data layer relief structures
за авторством: Kravets, V.G., та інші
Опубліковано: (2008)

Ellipsometry examination of copper alloys with transitive metals
за авторством: Filipov, Y.V., та інші
Опубліковано: (2004)

Optical properties of graphene film growing on a thin copper layer
за авторством: Rozouvan, T.S., та інші
Опубліковано: (2016)

Ellipsometry of hybrid noble metal-dielectric nanostructures
за авторством: Yampolskiy, A.L., та інші
Опубліковано: (2018)

Study of low-pressure discharge by optical emission spectroscopy
за авторством: Afanasіeva, I.A., та інші
Опубліковано: (2020)

Optical characterization of thin Au films by standard and polaritonic ellipsometry
за авторством: Dmitruk, N.L., та інші
Опубліковано: (2003)

Ellipsometry of hybrid noble metal-dielectric nanostructures
за авторством: A. L. Yampolskiy, та інші
Опубліковано: (2018)

TMR, MRE, and X-ray photoelectron spectroscopy of Fe-SiO₂ granular films
за авторством: Kravets, V.G., та інші
Опубліковано: (2005)

The role of the magnetic component of a strong light field in the electrostrictive effect
за авторством: Poperenko, L.V., та інші
Опубліковано: (2018)

Optical properties of graphene film growing on a thin copper layer
за авторством: T. S. Rozouvan, та інші
Опубліковано: (2016)

Optical and magneto-optical properties of thin films for high density information recording
за авторством: Kravets, V.G., та інші
Опубліковано: (2002)

Detection of interaction between the nanoparticles on surface using ellipsometry
за авторством: T. A. Mishakova, та інші
Опубліковано: (2011)

Optical properties of the modified structures of surface layers of amorphous metallic alloy ribbons
за авторством: Poperenko, L.V., та інші
Опубліковано: (2006)

Some features of polarization modulation in spectroscopy of optical and photoelectric effects
за авторством: Kondratenko, S.V., та інші
Опубліковано: (2004)

Nonlinear optical spectroscopy of epitaxial magnetic garnet films
за авторством: Pavlov, V.V., та інші
Опубліковано: (2002)

London forces in highly oriented pyrolytic graphite
за авторством: Poperenko, L.V., та інші
Опубліковано: (2017)

Features of third-order optical nonlinearity in carbon disulfide
за авторством: Poperenko, L.V., та інші
Опубліковано: (2019)

The role of magnetic component of a strong light field in electrostrictive effect
за авторством: L. V. Poperenko, та інші
Опубліковано: (2018)

Optical properties, form of granules and electronic parameters of binary Al/Cr composites
за авторством: Shaykevich, I.A., та інші
Опубліковано: (2000)

Investigation of channels of Cs-137 and K transfer from soil to plant under natural conditions with optical and gamma spectrometry
за авторством: V. V. Prorok, та інші
Опубліковано: (2012)

Investigation of channels of Cs-137 and K transfer from soil to plant under natural conditions with optical and gamma spectrometry
за авторством: V. V. Prorok, та інші
Опубліковано: (2012)

Дослідження каналів надходження 137Сs та К з ґрунту до рослини у природних умовах за допомогою оптичної та гамма-спектроскопії
за авторством: Prorok, V.V., та інші
Опубліковано: (2012)

Analysis of the fundamental characteristics of diamond-like crystals and low-dimensional structures
за авторством: Litovchenko, V.G.
Опубліковано: (2004)

Magneto-optical spectroscopy of magnetic multilayers: Theory and experiment (A review)
за авторством: Antonov, V.N., та інші
Опубліковано: (2001)

Determination of parameters of cadmium telluride films on silicon by the methods of main angle and multiangular ellipsometry
за авторством: Odarych, V.A., та інші
Опубліковано: (2006)

Magneto-optical spectroscopy of d- and f-ferromagnetic materials: recent theoretical progress
за авторством: Antonov, V.N., та інші
Опубліковано: (1999)

Asymptotics of Airy function in optical spectroscopy of crystals
за авторством: Ya. Dovhyi
Опубліковано: (2014)

Optical properties of thin films of titanium with transient layers on them
за авторством: Lendel, V.V., та інші
Опубліковано: (2010)

Characterization of Cobalt phthalocyanine thin film on silicon substrate using spectroscopic ellipsometry
за авторством: K. M. Al-Adamat, та інші
Опубліковано: (2021)

Characterization of Cobalt phthalocyanine thin film on silicon substrate using spectroscopic ellipsometry
за авторством: K. M. Al-Adamat, та інші
Опубліковано: (2021)

Origin of surface layer on common substrates for functional material films probed by ellipsometry
за авторством: Belyaeva, A.I., та інші
Опубліковано: (2003)

Auger electron spectroscopy of boron nitride whiskers produced in optical furnace without catalysts
за авторством: Sartinska, L.L., та інші
Опубліковано: (2009)

Optical investigation of the electronic structure of alloys Сu-Fе
за авторством: Vovchenko, V.V., та інші
Опубліковано: (2007)

Optical and Magnetooptical Spectroscopy of the Nanostructural Multilayered Films: Possible Applications
за авторством: Kudryavtsev, Yu.V., та інші
Опубліковано: (2005)

Investigation of DC glow discharge in CO₂ using optical emission spectroscopy
за авторством: Lisovskiy, V.A., та інші
Опубліковано: (2018)

Energy loss researches of diamond microgrinded laser mirrors by Fourier optics methods
за авторством: Staschuk, V.S., та інші
Опубліковано: (2009)

Optical spectroscopy and current detection during warm-up and destruction of impurity–helium condensates
за авторством: Krushinskaya, I.N., та інші
Опубліковано: (2015)