Determination of the parameters of coherent magneto-optical layers on a finite absorbing substrate from thermal radiation spectra

A possibility of determining the parameters of a coherent magneto-optical layer on a finite incoherent absorbing substrate by analyzing the spectra of its thermal radiation (TR) has been investigated. On the example of a plane-parallel InAs semiconductor plate silver-coated on the back surface, it h...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Datum:2020
Hauptverfasser: Morozhenko, V.O., Maslov, V.P., Bariakhtar, I.V., Kachur, N.V.
Format: Artikel
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2020
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/215910
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Determination of the parameters of coherent magneto-optical layers on a finite absorbing substrate from thermal radiation spectra / V.O. Morozhenko, V.P. Maslov, I.V. Bariakhtar, N.V. Kachur // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2020. — Т. 23, № 4. — С. 400-407. — Бібліогр.: 19 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862561245533569024
author Morozhenko, V.O.
Maslov, V.P.
Bariakhtar, I.V.
Kachur, N.V.
author_facet Morozhenko, V.O.
Maslov, V.P.
Bariakhtar, I.V.
Kachur, N.V.
citation_txt Determination of the parameters of coherent magneto-optical layers on a finite absorbing substrate from thermal radiation spectra / V.O. Morozhenko, V.P. Maslov, I.V. Bariakhtar, N.V. Kachur // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2020. — Т. 23, № 4. — С. 400-407. — Бібліогр.: 19 назв. — англ.
collection DSpace DC
container_title Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
description A possibility of determining the parameters of a coherent magneto-optical layer on a finite incoherent absorbing substrate by analyzing the spectra of its thermal radiation (TR) has been investigated. On the example of a plane-parallel InAs semiconductor plate silver-coated on the back surface, it has been shown that a complex analysis of TR spectra, both without and with the presence of a magnetic field, makes it possible to determine the thickness, optical, magneto-optical, and electric parameters of the layer. Algorithms for the calculation and analysis of TR spectra are adduced, which simplify the determination of layer parameters and increase the accuracy of results. Comparing the position of the extremes of the experimental zero-field spectrum with the theoretical calculations, the thickness of the sample and the plasma oscillation frequency in the used semiconductor have been determined. The analysis of the relative contrast of interference oscillations in the TR spectrum in the magnetic field using previously defined parameters enabled us to ascertain the spectral dependence of the Faraday rotation angle and to determine the concentration, effective mass, and type of current carriers. It has been assumed that such analysis of luminescence spectra also allows determining the parameters of magneto-optical layers and structures. Досліджено можливість визначення параметрів когерентного магнітооптичного шару на некогерентній поглинаючій підкладці скінченної товщини шляхом аналізу спектрів його теплового випромінювання (ТР). На прикладі плоскопаралельної напівпровідникової пластини InAs, покритої сріблом на тильній поверхні, показано, що комплексний аналіз спектрів ТР як без магнітного поля, так і за його наявності дозволяє визначити товщину, оптичні, магнітооптичні та електричні параметри шару. Наведено алгоритми розрахунку та аналізу спектрів ТР, які спрощують визначення параметрів шару та підвищують точність результатів. Порівнюючи положення країв експериментального спектра нульового поля з теоретичними розрахунками, було визначено товщину зразка та частоту коливань плазми у використовуваному напівпровіднику. Аналіз відносної контрастності інтерференційних коливань у спектрі ТР у магнітному полі за допомогою раніше визначених параметрів дозволив встановити спектральну залежність кута повороту Фарадея та визначити концентрацію, ефективну масу та тип носіїв струму. Передбачається, що такий аналіз спектрів люмінесценції дозволяє також визначати параметри магнітооптичних шарів та структур.
first_indexed 2026-04-15T18:13:42Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-215910
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 1560-8034
language English
last_indexed 2026-04-15T18:13:42Z
publishDate 2020
publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
record_format dspace
spelling Morozhenko, V.O.
Maslov, V.P.
Bariakhtar, I.V.
Kachur, N.V.
2026-04-01T08:11:03Z
2020
Determination of the parameters of coherent magneto-optical layers on a finite absorbing substrate from thermal radiation spectra / V.O. Morozhenko, V.P. Maslov, I.V. Bariakhtar, N.V. Kachur // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2020. — Т. 23, № 4. — С. 400-407. — Бібліогр.: 19 назв. — англ.
1560-8034
PACS: 44.40.+a, 42.25.Hz, 78.20.Ls, 79.60.Dp
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/215910
https://doi.org/10.15407/spqeo23.04.400
A possibility of determining the parameters of a coherent magneto-optical layer on a finite incoherent absorbing substrate by analyzing the spectra of its thermal radiation (TR) has been investigated. On the example of a plane-parallel InAs semiconductor plate silver-coated on the back surface, it has been shown that a complex analysis of TR spectra, both without and with the presence of a magnetic field, makes it possible to determine the thickness, optical, magneto-optical, and electric parameters of the layer. Algorithms for the calculation and analysis of TR spectra are adduced, which simplify the determination of layer parameters and increase the accuracy of results. Comparing the position of the extremes of the experimental zero-field spectrum with the theoretical calculations, the thickness of the sample and the plasma oscillation frequency in the used semiconductor have been determined. The analysis of the relative contrast of interference oscillations in the TR spectrum in the magnetic field using previously defined parameters enabled us to ascertain the spectral dependence of the Faraday rotation angle and to determine the concentration, effective mass, and type of current carriers. It has been assumed that such analysis of luminescence spectra also allows determining the parameters of magneto-optical layers and structures.
Досліджено можливість визначення параметрів когерентного магнітооптичного шару на некогерентній поглинаючій підкладці скінченної товщини шляхом аналізу спектрів його теплового випромінювання (ТР). На прикладі плоскопаралельної напівпровідникової пластини InAs, покритої сріблом на тильній поверхні, показано, що комплексний аналіз спектрів ТР як без магнітного поля, так і за його наявності дозволяє визначити товщину, оптичні, магнітооптичні та електричні параметри шару. Наведено алгоритми розрахунку та аналізу спектрів ТР, які спрощують визначення параметрів шару та підвищують точність результатів. Порівнюючи положення країв експериментального спектра нульового поля з теоретичними розрахунками, було визначено товщину зразка та частоту коливань плазми у використовуваному напівпровіднику. Аналіз відносної контрастності інтерференційних коливань у спектрі ТР у магнітному полі за допомогою раніше визначених параметрів дозволив встановити спектральну залежність кута повороту Фарадея та визначити концентрацію, ефективну масу та тип носіїв струму. Передбачається, що такий аналіз спектрів люмінесценції дозволяє також визначати параметри магнітооптичних шарів та структур.
en
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Optics
Determination of the parameters of coherent magneto-optical layers on a finite absorbing substrate from thermal radiation spectra
Визначення параметрів когерентних магнітооптичних шарів на кінцевій поглинаючій підкладці за спектрами теплового випромінювання
Article
published earlier
spellingShingle Determination of the parameters of coherent magneto-optical layers on a finite absorbing substrate from thermal radiation spectra
Morozhenko, V.O.
Maslov, V.P.
Bariakhtar, I.V.
Kachur, N.V.
Optics
title Determination of the parameters of coherent magneto-optical layers on a finite absorbing substrate from thermal radiation spectra
title_alt Визначення параметрів когерентних магнітооптичних шарів на кінцевій поглинаючій підкладці за спектрами теплового випромінювання
title_full Determination of the parameters of coherent magneto-optical layers on a finite absorbing substrate from thermal radiation spectra
title_fullStr Determination of the parameters of coherent magneto-optical layers on a finite absorbing substrate from thermal radiation spectra
title_full_unstemmed Determination of the parameters of coherent magneto-optical layers on a finite absorbing substrate from thermal radiation spectra
title_short Determination of the parameters of coherent magneto-optical layers on a finite absorbing substrate from thermal radiation spectra
title_sort determination of the parameters of coherent magneto-optical layers on a finite absorbing substrate from thermal radiation spectra
topic Optics
topic_facet Optics
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/215910
work_keys_str_mv AT morozhenkovo determinationoftheparametersofcoherentmagnetoopticallayersonafiniteabsorbingsubstratefromthermalradiationspectra
AT maslovvp determinationoftheparametersofcoherentmagnetoopticallayersonafiniteabsorbingsubstratefromthermalradiationspectra
AT bariakhtariv determinationoftheparametersofcoherentmagnetoopticallayersonafiniteabsorbingsubstratefromthermalradiationspectra
AT kachurnv determinationoftheparametersofcoherentmagnetoopticallayersonafiniteabsorbingsubstratefromthermalradiationspectra
AT morozhenkovo viznačennâparametrívkogerentnihmagnítooptičnihšarívnakíncevíipoglinaûčíipídkladcízaspektramiteplovogovipromínûvannâ
AT maslovvp viznačennâparametrívkogerentnihmagnítooptičnihšarívnakíncevíipoglinaûčíipídkladcízaspektramiteplovogovipromínûvannâ
AT bariakhtariv viznačennâparametrívkogerentnihmagnítooptičnihšarívnakíncevíipoglinaûčíipídkladcízaspektramiteplovogovipromínûvannâ
AT kachurnv viznačennâparametrívkogerentnihmagnítooptičnihšarívnakíncevíipoglinaûčíipídkladcízaspektramiteplovogovipromínûvannâ