The boson peak and the first sharp diffraction peak in (As₂S₃)ₓ(GeS₂)₁₋ₓ glasses

The parameters of the boson peak (BP) and the first sharp diffraction peak (FSDP) in (As₂S₃)ₓ(GeS₂)₁₋ₓ glasses measured using high-resolution Raman spectroscopy and high-energy synchrotron X-ray diffraction measurements are examined as a function of x. It has been found that there is no correlation...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Дата:2021
Автори: Stronski, A.V., Kavetskyy, T.S., Revutska, L.O., Kaban, I., Jovari, P., Shportko, K.V., Sergienko, V.P., Popovych, M.V.
Формат: Стаття
Мова:Англійська
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2021
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/216224
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:The boson peak and the first sharp diffraction peak in (As₂S₃)ₓ(GeS₂)₁₋ₓ glasses / A.V. Stronski, T.S. Kavetskyy, L.O. Revutska, I. Kaban, P. Jovari, K.V. Shportko, V.P. Sergienko, M.V. Popovych // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2021. — Т. 24, № 3. — С. 312-318. — Бібліогр.: 28 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:The parameters of the boson peak (BP) and the first sharp diffraction peak (FSDP) in (As₂S₃)ₓ(GeS₂)₁₋ₓ glasses measured using high-resolution Raman spectroscopy and high-energy synchrotron X-ray diffraction measurements are examined as a function of x. It has been found that there is no correlation between the positions of BP and FSDP. The BP position shows a nonlinear composition behavior with a maximum at about x = 0.4, whereas the FSDP position changes virtually linearly with x. The intensities of both BP and FSDP show nonlinear composition dependences with the slope changes at x = 0.4, although there is no direct proportionality. Analysis of the partial structure factors for the glasses with x = 0.2, 0.4, and 0.6 obtained in another study has shown that the cation-cation atomic pairs of Ge–Ge, Ge–As, and As–As make the largest contribution to FSDP, where the Ge–Ge and Ge–As pairs are dominant. Параметри бозонного піка та першого різкого дифракційного піка в стеклах (As₂S₃)ₓ(GeS₂)₁₋ₓ, виміряні за допомогою КР-спектроскопії з високою роздільною здатністю та рентгенівської дифракції високих енергій синхротрона, досліджено як функцію x. Установлено, що між позиціями бозонного піка та першого різкого дифракційного піка немає взаємозв’язку. Положення бозонного піка показує нелінійну поведінку композиції з максимумом приблизно при x = 0,4, тоді як положення першого різкого дифракційного піка змінюється практично лінійно з x. Інтенсивності піків показують нелінійні залежності складу із змінами нахилу при x = 0,4, хоча прямої пропорційності немає. Аналіз структурних факторів для зразків x = 0,2, 0,4 та 0,6, отриманий в іншому дослідженні, показує, що катіон-катіонні атомні пари Ge-Ge, Ge-As та As-As роблять найбільший внесок у перший різкий дифракційний пік, де домінують пари Ge-Ge та Ge-As.
ISSN:1560-8034