The boson peak and the first sharp diffraction peak in (As₂S₃)ₓ(GeS₂)₁₋ₓ glasses
The parameters of the boson peak (BP) and the first sharp diffraction peak (FSDP) in (As₂S₃)ₓ(GeS₂)₁₋ₓ glasses measured using high-resolution Raman spectroscopy and high-energy synchrotron X-ray diffraction measurements are examined as a function of x. It has been found that there is no correlation...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
|---|---|
| Дата: | 2021 |
| Автори: | , , , , , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2021
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/216224 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | The boson peak and the first sharp diffraction peak in (As₂S₃)ₓ(GeS₂)₁₋ₓ glasses / A.V. Stronski, T.S. Kavetskyy, L.O. Revutska, I. Kaban, P. Jovari, K.V. Shportko, V.P. Sergienko, M.V. Popovych // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2021. — Т. 24, № 3. — С. 312-318. — Бібліогр.: 28 назв. — англ. |