Peculiarities of specular infrared reflection spectra of ZnO-based ceramics

Undoped and Mn-doped ZnO ceramics were theoretically and experimentally investigated using the specular infrared reflection method. It was shown that infrared reflection spectra can be modeled using the parameters explored for ZnO single crystals. For ceramic samples, it was shown that ZnO grains wi...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Datum:2021
Hauptverfasser: Melnichuk, O.V., Korsunska, N.O., Markevich, I.V., Boyko, V.V., Polishchuk, Yu.O., Tsybrii, Z.F., Melnichuk, L.Yu., Venger, Ye.F., Kladko, V.P., Khomenkova, L.Yu.
Format: Artikel
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2021
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/216299
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Peculiarities of specular infrared reflection spectra of ZnO-based ceramics / O.V. Melnichuk, N.O. Korsunska, I.V. Markevich, V.V. Boyko, Yu.O. Polishchuk, Z.F. Tsybrii, L.Yu. Melnichuk, Ye.F. Venger, V.P. Kladko, L.Yu. Khomenkova // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2021. — Т. 24, № 4. — С. 390-398. — Бібліогр.: 28 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862536424854650880
author Melnichuk, O.V.
Korsunska, N.O.
Markevich, I.V.
Boyko, V.V.
Polishchuk, Yu.O.
Tsybrii, Z.F.
Melnichuk, L.Yu.
Venger, Ye.F.
Kladko, V.P.
Khomenkova, L.Yu.
author_facet Melnichuk, O.V.
Korsunska, N.O.
Markevich, I.V.
Boyko, V.V.
Polishchuk, Yu.O.
Tsybrii, Z.F.
Melnichuk, L.Yu.
Venger, Ye.F.
Kladko, V.P.
Khomenkova, L.Yu.
citation_txt Peculiarities of specular infrared reflection spectra of ZnO-based ceramics / O.V. Melnichuk, N.O. Korsunska, I.V. Markevich, V.V. Boyko, Yu.O. Polishchuk, Z.F. Tsybrii, L.Yu. Melnichuk, Ye.F. Venger, V.P. Kladko, L.Yu. Khomenkova // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2021. — Т. 24, № 4. — С. 390-398. — Бібліогр.: 28 назв. — англ.
collection DSpace DC
container_title Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
description Undoped and Mn-doped ZnO ceramics were theoretically and experimentally investigated using the specular infrared reflection method. It was shown that infrared reflection spectra can be modeled using the parameters explored for ZnO single crystals. For ceramic samples, it was shown that ZnO grains with the orientation of the -axis along the normal to the electric field ( ⃗ ⊥ ) give the main contribution to IR reflection spectra. It has been ascertained that the surface roughness is manifested in these spectra mainly within the range 450…550 cm⁻¹, giving a negligible effect for the frequencies above the longitudinal phonon frequency. This allowed the electrophysical parameters of ZnO crystallites to be evaluated. In the case of undoped ceramics, the obtained results were found to be consistent with the values of direct current measurements. This finding supports the utility of infrared spectroscopy for the determination of the electrophysical parameters of polycrystalline ceramic materials. For Mn-doped ceramic samples, the conductivity value measured using the direct current method was found to be essentially lower than that determined from the simulation of infrared reflection spectra. This phenomenon was explained by barrier formation at the grain boundaries in Mn-doped ZnO ceramics. Виготовлено нелеговану та леговану манганом кераміку оксиду цинку та досліджено її структурні, оптичні та електричні властивості. Показано, що метод інфрачервоної спектроскопії може бути застосований для визначення електрофізичних параметрів керамічних зразків. При цьому для моделювання спектрів інфрачервоного відбивання таких зразків можна використовувати параметри, одержані для монокристалів ZnO. Виявлено, що основний внесок у спектри інфрачервоного відбивання керамічних зразків надають зерна ZnO з орієнтацією осі , перпендикулярної до напрямку вектора електричного поля (⃗⊥). Установлено, що шорсткість поверхні проявляється в цих спектрах переважно в діапазоні 450–550 см⁻¹, що дає незначний ефект у діапазоні частот вищих за частоту LO-фонона. Проведено оцінку електрофізичних параметрів нелегованих та легованих манганом зразків. Установлено, що у разі нелегованої кераміки отримані результати збігаються з результатами прямих вимірювань електропровідності зразків. Для керамічних зразків, легованих манганом, пряме вимірювання їх провідності дає значення, яке значно менше за величину, одержану при моделюванні спектрів інфрачервоного відбивання. Така відмінність пояснюється утворенням бар’єрів на границях зерен ZnO, легованих манганом.
first_indexed 2026-04-15T11:39:11Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-216299
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 1560-8034
language English
last_indexed 2026-04-15T11:39:11Z
publishDate 2021
publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
record_format dspace
spelling Melnichuk, O.V.
Korsunska, N.O.
Markevich, I.V.
Boyko, V.V.
Polishchuk, Yu.O.
Tsybrii, Z.F.
Melnichuk, L.Yu.
Venger, Ye.F.
Kladko, V.P.
Khomenkova, L.Yu.
2026-04-13T09:14:40Z
2021
Peculiarities of specular infrared reflection spectra of ZnO-based ceramics / O.V. Melnichuk, N.O. Korsunska, I.V. Markevich, V.V. Boyko, Yu.O. Polishchuk, Z.F. Tsybrii, L.Yu. Melnichuk, Ye.F. Venger, V.P. Kladko, L.Yu. Khomenkova // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2021. — Т. 24, № 4. — С. 390-398. — Бібліогр.: 28 назв. — англ.
1560-8034
PACS: 78.20.Bh, 78.30.-j, 81.20.-n, 81.70.-q
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/216299
https://doi.org/10.15407/spqeo24.04.390
Undoped and Mn-doped ZnO ceramics were theoretically and experimentally investigated using the specular infrared reflection method. It was shown that infrared reflection spectra can be modeled using the parameters explored for ZnO single crystals. For ceramic samples, it was shown that ZnO grains with the orientation of the -axis along the normal to the electric field ( ⃗ ⊥ ) give the main contribution to IR reflection spectra. It has been ascertained that the surface roughness is manifested in these spectra mainly within the range 450…550 cm⁻¹, giving a negligible effect for the frequencies above the longitudinal phonon frequency. This allowed the electrophysical parameters of ZnO crystallites to be evaluated. In the case of undoped ceramics, the obtained results were found to be consistent with the values of direct current measurements. This finding supports the utility of infrared spectroscopy for the determination of the electrophysical parameters of polycrystalline ceramic materials. For Mn-doped ceramic samples, the conductivity value measured using the direct current method was found to be essentially lower than that determined from the simulation of infrared reflection spectra. This phenomenon was explained by barrier formation at the grain boundaries in Mn-doped ZnO ceramics.
Виготовлено нелеговану та леговану манганом кераміку оксиду цинку та досліджено її структурні, оптичні та електричні властивості. Показано, що метод інфрачервоної спектроскопії може бути застосований для визначення електрофізичних параметрів керамічних зразків. При цьому для моделювання спектрів інфрачервоного відбивання таких зразків можна використовувати параметри, одержані для монокристалів ZnO. Виявлено, що основний внесок у спектри інфрачервоного відбивання керамічних зразків надають зерна ZnO з орієнтацією осі , перпендикулярної до напрямку вектора електричного поля (⃗⊥). Установлено, що шорсткість поверхні проявляється в цих спектрах переважно в діапазоні 450–550 см⁻¹, що дає незначний ефект у діапазоні частот вищих за частоту LO-фонона. Проведено оцінку електрофізичних параметрів нелегованих та легованих манганом зразків. Установлено, що у разі нелегованої кераміки отримані результати збігаються з результатами прямих вимірювань електропровідності зразків. Для керамічних зразків, легованих манганом, пряме вимірювання їх провідності дає значення, яке значно менше за величину, одержану при моделюванні спектрів інфрачервоного відбивання. Така відмінність пояснюється утворенням бар’єрів на границях зерен ZnO, легованих манганом.
The National Research Fund of Ukraine supported this work from the state budget, project 2020.02/0380 “Structural transformations and non-equilibrium electronic processes in broadband oxides and their solid solutions”.
en
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Semiconductor physics
Peculiarities of specular infrared reflection spectra of ZnO-based ceramics
Особливості спектрів дзеркального інфрачервоного відбивання кераміки на основі оксиду цинку
Article
published earlier
spellingShingle Peculiarities of specular infrared reflection spectra of ZnO-based ceramics
Melnichuk, O.V.
Korsunska, N.O.
Markevich, I.V.
Boyko, V.V.
Polishchuk, Yu.O.
Tsybrii, Z.F.
Melnichuk, L.Yu.
Venger, Ye.F.
Kladko, V.P.
Khomenkova, L.Yu.
Semiconductor physics
title Peculiarities of specular infrared reflection spectra of ZnO-based ceramics
title_alt Особливості спектрів дзеркального інфрачервоного відбивання кераміки на основі оксиду цинку
title_full Peculiarities of specular infrared reflection spectra of ZnO-based ceramics
title_fullStr Peculiarities of specular infrared reflection spectra of ZnO-based ceramics
title_full_unstemmed Peculiarities of specular infrared reflection spectra of ZnO-based ceramics
title_short Peculiarities of specular infrared reflection spectra of ZnO-based ceramics
title_sort peculiarities of specular infrared reflection spectra of zno-based ceramics
topic Semiconductor physics
topic_facet Semiconductor physics
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/216299
work_keys_str_mv AT melnichukov peculiaritiesofspecularinfraredreflectionspectraofznobasedceramics
AT korsunskano peculiaritiesofspecularinfraredreflectionspectraofznobasedceramics
AT markevichiv peculiaritiesofspecularinfraredreflectionspectraofznobasedceramics
AT boykovv peculiaritiesofspecularinfraredreflectionspectraofznobasedceramics
AT polishchukyuo peculiaritiesofspecularinfraredreflectionspectraofznobasedceramics
AT tsybriizf peculiaritiesofspecularinfraredreflectionspectraofznobasedceramics
AT melnichuklyu peculiaritiesofspecularinfraredreflectionspectraofznobasedceramics
AT vengeryef peculiaritiesofspecularinfraredreflectionspectraofznobasedceramics
AT kladkovp peculiaritiesofspecularinfraredreflectionspectraofznobasedceramics
AT khomenkovalyu peculiaritiesofspecularinfraredreflectionspectraofznobasedceramics
AT melnichukov osoblivostíspektrívdzerkalʹnogoínfračervonogovídbivannâkeramíkinaosnovíoksiducinku
AT korsunskano osoblivostíspektrívdzerkalʹnogoínfračervonogovídbivannâkeramíkinaosnovíoksiducinku
AT markevichiv osoblivostíspektrívdzerkalʹnogoínfračervonogovídbivannâkeramíkinaosnovíoksiducinku
AT boykovv osoblivostíspektrívdzerkalʹnogoínfračervonogovídbivannâkeramíkinaosnovíoksiducinku
AT polishchukyuo osoblivostíspektrívdzerkalʹnogoínfračervonogovídbivannâkeramíkinaosnovíoksiducinku
AT tsybriizf osoblivostíspektrívdzerkalʹnogoínfračervonogovídbivannâkeramíkinaosnovíoksiducinku
AT melnichuklyu osoblivostíspektrívdzerkalʹnogoínfračervonogovídbivannâkeramíkinaosnovíoksiducinku
AT vengeryef osoblivostíspektrívdzerkalʹnogoínfračervonogovídbivannâkeramíkinaosnovíoksiducinku
AT kladkovp osoblivostíspektrívdzerkalʹnogoínfračervonogovídbivannâkeramíkinaosnovíoksiducinku
AT khomenkovalyu osoblivostíspektrívdzerkalʹnogoínfračervonogovídbivannâkeramíkinaosnovíoksiducinku