Особливості параметричної ідентифікації ARC-кіл у частотній області
Розглянуто особливості параметричної ідентифікації ARC-кіл у частотній області за результатами вимірювання вузлових потенціалів. Для розв’язування проблеми неоднозначних груп запропоновано використовувати тестування в доступних і частково доступних вузлах кола. Запропонований алгоритм, який враховує...
Saved in:
| Published in: | Фізико-математичне моделювання та інформаційні технології |
|---|---|
| Date: | 2009 |
| Main Authors: | , , , |
| Format: | Article |
| Language: | Ukrainian |
| Published: |
Центр математичного моделювання Інституту прикладних проблем механіки і математики ім. Я.С. Підстригача НАН України
2009
|
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/22251 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Особливості параметричної ідентифікації ARC-кіл у частотній області / Б. Благітко, І. Заячук, В. Рабик, Л. Кіт // Фіз.-мат. моделювання та інформ. технології. — 2009. — Вип. 10. — С. 38-45. — Бібліогр.: 6 назв. — укр. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1859949271774658560 |
|---|---|
| author | Благітко, Б. Заячук, І. Рабик, В. Кіт, Л. |
| author_facet | Благітко, Б. Заячук, І. Рабик, В. Кіт, Л. |
| citation_txt | Особливості параметричної ідентифікації ARC-кіл у частотній області / Б. Благітко, І. Заячук, В. Рабик, Л. Кіт // Фіз.-мат. моделювання та інформ. технології. — 2009. — Вип. 10. — С. 38-45. — Бібліогр.: 6 назв. — укр. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Фізико-математичне моделювання та інформаційні технології |
| description | Розглянуто особливості параметричної ідентифікації ARC-кіл у частотній області за результатами вимірювання вузлових потенціалів. Для розв’язування проблеми неоднозначних груп запропоновано використовувати тестування в доступних і частково доступних вузлах кола. Запропонований алгоритм, який враховує під’єднання на кожному етапі тестування пасивних тестових елементів, дає можливість виключити вплив неоднозначних груп елементів і однозначно визначити параметри елементів за виміряними вузловими потенціалами. Описано методику та результати параметричної ідентифікації ARC-фільтра нижніх частот за виміряними амплітудами та фазами вузлових потенціалів.
Peculiarities of the ARC-circuits frequency domain diagnostics using the results of nodal potentials measurements are discussed. In order to overcome the problem of ambiguity groups the accessible and partly accessible nodes testing is suggested. The proposed algorithm allows us to eliminate the influence of ambiguity groups of elements and to define unambiguously the parameters of elements using measured nodal potentials. This is achieved by connecting the passive test elements at each stage of testing. Diagnostics of low-frequency ARC filter in amplitude/phase measurement mode is described.
В статье рассмотрены особенности параметрической идентификации ARC-цепей в частотной области по результатам измерения узловых потенциалов. Для решения проблемы неоднозначных групп предложено использовать тестирование в доступных и частично доступных узлах цепи. Предложенный алгоритм за счет подсоединения на каждом этапе тестирования пассивных тестовых элементов позволяет исключить влияние неоднозначных групп элементов и однозначно определить параметры элементов по измеренным узловым потенциалам. Приведены методика и результаты параметрической идентификации ARC-фильтра нижних частот при измерении амплитуд и фаз узловых потенциалов.
|
| first_indexed | 2025-12-07T16:15:59Z |
| format | Article |
| fulltext |
38
Особливості параметричної ідентифікації
ARC-кіл у частотній області
Богдан Благітко1, Ігор Заячук2, Василь Рабик3, Любомира Кіт4
1 к. т. н., доцент, Львівський національний університет імені Івана Франка, вул. ген. Тарнавського, 107, Львів,
79017, e-mail: blagitko@electronics.wups.lviv.ua
2 к. т. н., Центр математичного моделювання IППММ ім. Я. С. Пiдстригача НАН України, вул. Дж. Дудаєва, 15,
Львів, 79005, e-mail: igorzaj@litech.lviv.ua
3 к. т. н., доцент, Львівський національний університет імені Івана Франка, вул. ген. Тарнавського, 107, Львів, 79017
4 Центр математичного моделювання ІППММ ім. Я. С. Підстригача НАН України, вул. Дж. Дудаєва, 15, Львів, 79005
Розглянуто особливості параметричної ідентифікації ARC-кіл у частотній області за ре-
зультатами вимірювання вузлових потенціалів. Для розв’язування проблеми неоднозначних
груп запропоновано використовувати тестування в доступних і частково доступних вуз-
лах кола. Запропонований алгоритм, який враховує під’єднання на кожному етапі тесту-
вання пасивних тестових елементів, дає можливість виключити вплив неоднозначних груп
елементів і однозначно визначити параметри елементів за виміряними вузловими потенці-
алами. Описано методику та результати параметричної ідентифікації ARC-фільтра ниж-
ніх частот за виміряними амплітудами та фазами вузлових потенціалів.
Ключові слова: параметрична ідентифікація, електричне коло, вузловий по-
тенціал, багатотестовий метод, діагностика несправностей електричних кіл.
Вступ. У процесі параметричної ідентифікації електричних кіл у частотній області
практичні питання стають домінуючими. До них, насамперед, необхідно віднести
вибір вимірюваних величин, частотних точок, тестових джерел і їх внутрішніх
опорів, тестових елементів і їх параметрів, а також особливості розв’язування рів-
нянь параметричної ідентифікації [1].
Перехід від теоретичної до практичної параметричної ідентифікації доволі
складний. Для правильного вибору параметрів вимірювальної апаратури під час
параметричної ідентифікації електричних кіл дуже важливо оцінити залежність
похибки визначення параметрів елементів кола, що ідентифікуються, від значення
похибки вимірювального приладу. У роботі [2] проаналізовано метод, який по-
лягає в моделюванні залежності похибки діагностованих параметрів від похибки
дискретності АЦП, що використовується для вимірювання напруг. Згаданий вище
метод можна використовувати для тестування методів параметричної ідентифіка-
ції та прогнозування похибки вимірювального приладу, виходячи з допустимої
похибки ідентифікації параметрів елементів кола.
У праці [3] розглянуто три методи вибору частот синусоїдальних тестових
сигналів, що використовують для діагностики несправностей аналогових елект-
ричних кіл. Два з них базуються на аналізі чутливості та можуть бути частково
УДК 621.372.061
ISSN 1816-1545 Фізико-математичне моделювання та інформаційні технології
2009, вип. 10, 38-45
39
використані в лінійних електричних колах, враховуючи знання та досвід дослід-
ника. Третій метод забезпечує вибір вхідних частот під час тестування досліджу-
ваного кола без врахування будь-яких гіпотез і знань дослідника про коло.
Проблему ідентифікації параметрів реального кола описано в роботі [4]. Під
час її розв’язування особливо складною є проблема неоднозначності груп пара-
метрів елементів, тобто однозначності визначення параметрів елементів кола.
Група неоднозначності — це сукупність параметрів, які не можуть бути відо-
кремлені один від одного за результатами вимірювань, проведених під час тесту-
вання у вибраних вузлах кола. У цьому випадку для отримання єдиного розв’язку
задачі параметричної ідентифікації необхідно усунути вплив груп неоднозначності.
У роботі [5] запропоновано багатотестовий метод параметричної ідентифі-
кації електронних кіл по постійному струму, який розв’язує проблему неодно-
значності. У згаданому методі почергово до кожного з доступних вузлів кола під’єд-
нують тестові джерела або тестові зразкові резистори.
У цій статті пропонується розв’язувати проблему неоднозначності парамет-
ричної ідентифікації електричних ARC-кіл у частотній області модифікованим
багатотестовим методом. Для цього почергово до кожного з доступних вузлів
кола під’єднують тестові джерела змінного струму заздалегідь відомої частоти, а
також до кожного з доступних і частково доступних вузлів почергово під’єднують
тестові пасивні елементи. Це можуть бути резистори, конденсатори або котушки
індуктивності з відомими параметрами. Тестування кола проводять почергово
з наступним вимірюванням вузлових потенціалів частково доступних вузлів, а
у разі необхідності, і доступних вузлів. За виміряними значеннями вузлових потен-
ціалів шляхом поповнення формується система рівнянь параметричної ідентифі-
кації. Розв’язок цієї системи дозволяє однозначно визначити параметри елементів
кола. Запропонований метод вирішує проблему неоднозначності за певних умов
тестування. До цих умов належать: вибір тестових вузлів на етапі проектування
кола, тобто тестових елементів, значень параметрів тестових елементів, а також
особливості топології кола.
1. Алгоритмізація методу параметричної ідентифікації лінійних ARC-кіл
Для опису лінійних ARC-кіл у частотній області використовуємо модифікований
метод вузлових потенціалів. Нехай схема складається з nX = nR + nC + nL елемен-
тів і має nA доступних, nP частково доступних і nI внутрішніх вузлів [5]. Зазвичай,
в ході параметричної ідентифікації послідовно під’єднують тестові джерела до
кожного з nA доступних вузлів і для кожного тесту вимірюють вузлові потенціали
в nA + nP доступних і частково доступних вузлах. Загальна кількість Q незалеж-
них вузлових потенціалів для nA тестів визначається співвідношенням
( )1 2 1
2 A A PQ n n n= + + . (1)
Використання тестування для різних частот дозволяє збільшити кількість
рівнянь параметричної ідентифікації в частотній області. Необхідна умова існу-
вання розв’язку задачі параметричної ідентифікації має вигляд
Богдан Благітко, Ігор Заячук, Василь Рабик, Любомира Кіт
Особливості параметричної ідентифікації ARC-кіл у частотній області
40
Xn qQ≤ (2)
у випадку вимірювання тільки амплітуд і
2Xn qQ≤ (3)
у випадку вимірювання амплітуд і фаз вузлових потенціалів. Тут q — кількість
частотних точок, у яких проводиться тестування.
У разі існування груп неоднозначності виконується додаткове тестування.
Відмінність, порівняно з «класичним», полягає в тому, що до певних доступних і
частково доступних вузлів під’єднуються тестові елементи (резистори, конденса-
тори, котушки індуктивності).
Рівняння параметричної ідентифікації для i-го тесту та частотної точки fj
має вигляд
( ) ( ) ( )( ), , 0m
i j i j i jF f V f V f= − =X X , (4)
де ( )( )1, , 1, ; m
A i ji n j q V f= = — компоненти вектора виміряних вузлових потенціа-
лів у доступних і частково доступних вузлах для i-го тесту; ( ),i jV fX — компо-
ненти вектора вузлових потенціалів, отриманих моделюванням схеми для i-го
тесту; X — вектор параметрів елементів, що діагностуються; крапка над симво-
лом означає похідну за часом.
У випадку вимірювання амплітуди та фази дійсна система рівнянь, яка
отримується з (4), є така
( )
( )
Re , 0,
Im , 0, 1, .
j
j
f
f j q
=
= =
F X
F X
(5)
Якщо ж вимірюються тільки амплітуди вузлових потенціалів, то отримаємо
таку систему рівнянь параметричної ідентифікації
( ) ( ) ( )( ), , , 1,m
j j jf f f j q= − =F X V V X . (6)
Системи рівнянь (5) і (6) є нелінійні. Розв’язуємо їх із використанням методу
Ньютона. Для покращення збіжності модифікуємо метод Ньютона шляхом вве-
дення додатного параметра α. Подамо систему нелінійних рівнянь (5) або (6)
у вигляді
( ) 0=F X , (7)
Параметр α на k-ій ітерації знаходимо шляхом мінімізації вектора нев’язки
( )min k k
k− α ∆F X X , (8)
де ( ) ( )1k k kd d
−
∆ = X F X X F X .
ISSN 1816-1545 Фізико-математичне моделювання та інформаційні технології
2009, вип. 10, 38-45
41
2. Приклад параметричної ідентифікації ARC-кола
Дослідимо запропоновану методику параметричної ідентифікації електричних ARC-
кіл на прикладі фільтра нижніх частот. Схему даного кола зображено на рисунку.
Даний фільтр має три каскади, перші два з яких мають структуру Саллен-Кі, а
третій каскад — 2Т-міст із несиметричною характеристикою. Розділення між кас-
кадами в цьому колі реалізовано з допомогою емітерних повторювачів, які утво-
рені двома транзисторами, з’єднаними за схемою Дарлінгтона. Параметричній
ідентифікації такого кола повинно передувати вимірювання амплітуд і фаз вузло-
вих потенціалів у доступних і частково доступних вузлах. Для цього прикладу
значення вузлових потенціалів у частотній області знаходили шляхом числового
розрахунку ARC-схеми.
Нехай у колі вузол 1 — доступний, а вузли — 6, 10, 12, 13, 16, 17 — част-
ково доступні. Це відповідає випадку вимірювання вузлових потенціалів входів і
виходів кожного каскаду, а також деяких внутрішніх вузлів. Елементи, що діаг-
ностуються — R4, R5, R7, R8, R11, R12, R13, C1, C2, C3, C4, C5, C6, C7. Решта елемен-
тів кола впливають на режим по постійному струму та повинні діагностуватися
на першому етапі параметричної ідентифікації кола по постійному струму.
Емітерні повторювачі кожного з каскадів фільтра замінено малосигнальною
моделлю Еберса-Молла, параметри якої визначають із результатів моделювання кола
по постійному струму. Деякі особливості такого моделювання розглянуто в роботі [6].
Параметрична ідентифікація здійснюється для малосигнальної схеми даного фільтра.
Результати моделювання справного та несправного кіл наведено в табл. 1,
а результати параметричної ідентифікації — у табл. 2. Аналіз результатів, наве-
дених у табл. 2, показує, що похибка визначення параметрів діагностованих еле-
ментів кола не перевищує 1,6 % і вона є найбільша для елементів 2Т-моста, що
пов’язано з високою чутливістю схеми 2Т-моста.
Рис. Принципова схема фільтра нижніх частот
R1
R4 R5
R2
R3 R6
R7 R8
R9
R10 R15
R11 R13
R12
R14
1 2 7 4 13 12 16
3
9
8
6
14
15
22
10
E3
ri3 ri1
CE
C1 C2 C3 C4
T1
T2
T3
T4
T5
T6
E1
RH
CH C5 C7
C6
20
21
11
18
17
E2
ri2
5
Богдан Благітко, Ігор Заячук, Василь Рабик, Любомира Кіт
Особливості параметричної ідентифікації ARC-кіл у частотній області
42
Таблиця 1
Результати моделювання справного та несправного кіл для частоти 60 Гц
Вузлові напруги у вольтах
Схема
1V 6V 10V 12V 13V 16V 17V
Re V 1,8603 1,2247 – 0,0617 – 0,3449 – 0,6067 – 0,4609 – 0,4978
Справна
Im V – 0,0218 – 1,2878 – 1,6940 – 1,8594 – 1,5862 – 1,7360 – 1,8795
Re V 1,8588 0,8158 – 0,9783 – 1,3465 – 1,2047 – 1,3328 – 1,4429
Несправна
Im V – 0,0336 – 1,4215 – 0,8156 – 0,5837 – 0,2013 – 0,4222 – 0,4581
Таблиця 2
Результати параметричної ідентифікації фільтра нижніх частот
Елемент Номінальні
значення
Величина
несправності
Результат
параметричної
ідентифікації
Похибка
параметричної
ідентифікації (%)
R4 (кОм) 350,0 245,0 245,94 0,38
R5 (кОм) 350,0 455,0 450,24 1,05
R7 (кОм) 350,0 455,0 454,54 0,10
R8 (кОм) 350,0 455,0 454,33 0,15
R11(кОм) 236,0 306,0 302,72 1,07
R12(кОм) 102,0 132,0 130,48 1,15
R13(кОм) 236,0 165,0 162,35 1,61
C1 (Ф) 0,560·10 – 8 0,728·10 – 8 0,7279·10 – 8 0,01
C2 (Ф) 0,280·10 – 8 0,364·10 – 8 0,3660·10 – 8 0,55
C3 (Ф) 0,560·10 – 8 0,728·10 – 8 0,7293·10 – 8 0,18
C4 (Ф) 0,280·10 – 8 0,364·10 – 8 0,3644·10 – 8 0,11
C5 (Ф) 0,560·10 – 8 0,728·10 – 8 0,7375·10 – 8 1,31
C6 (Ф) 0,112·10 – 7 0,728·10 – 8 0,7876·10 – 8 0,20
C7 (Ф) 0,560·10 – 8 0,728·10 – 8 0,7379·10 – 8 1,36
Нехай тепер у колі вимірюються вузлові потенціали тільки вхідних і вихід-
них вузлів кожного каскаду. Вузол 1 — доступний, а вузли 5, 10, 17 — частково
доступні. Необхідна умова існування розв’язку задачі параметричної ідентифікації
виконується для двох частотних точок. Емпірично, виходячи з аплітудно-частотних
характеристик справного та несправного кіл, вибрано тестові частоти 60 Гц і 120 Гц.
Результати моделювання справного та несправного кіл у цьому випадку подано
у табл. 3, а результати параметричної ідентифікації — у табл. 4. Аналіз результа-
тів, наведених у табл. 4, свідчить, що похибка визначення параметрів діагносто-
ваних елементів першого та другого каскадів складає не більше 0,35 %.
Для перевірки правильності параметричної ідентифікації третього каскаду
проводимо інший тест. Тестове джерело напруги ET = 2 В із тестовим резистором
ISSN 1816-1545 Фізико-математичне моделювання та інформаційні технології
2009, вип. 10, 38-45
43
Таблиця 3
Результати моделювання справного та несправного кіл
Вузлові напруги у вольтах
Схема F (Гц)
1V 5V 10V 17V
Re V 1,8503 1,2348 – 0,0617 – 0,4978
Справна
Im V – 0,0218 – 1,2977 – 1,6940 – 1,8795
Re V 1,8588 0,8231 – 0,9783 – 1,4429
Несправна
60
Im V – 0,0336 – 1,4331 – 0,8156 – 0,4581
Re V 1,8368 – 0,1006 – 0,8034 – 0,0569
Справна
Im V – 0,0337 – 1,2271 0,1179 1,6085
Re V 1,8224 – 0,3165 – 0,1289 0,1526
Несправна
120
Im V – 0,0449 – 0,8314 0,2320 0,1262
Таблиця 4
Результати параметричної ідентифікації фільтра нижніх частот
Елемент Номінальні
значення
Величина
несправності
Результат
параметричної
ідентифікації
Похибка
параметричної
ідентифікації (%)
R4 (кОм) 350,0 245,0 245,17 0,07
R5 (кОм) 350,0 455,0 454,17 0,18
R7 (кОм) 350,0 455,0 456,53 0,34
R8 (кОм) 350,0 455,0 455,85 0,19
R11(кОм) 236,0 306,0 277,98 9,16
R12(кОм) 102,0 132,0 135,88 2,94
R13(кОм) 236,0 165,0 176,24 6,81
C1 (Ф) 0,560·10 – 8 0,728·10 – 8 0,7281·10 – 8 0,02
C2 (Ф) 0,280·10 – 8 0,364·10 – 8 0,3664·10 – 8 0,12
C3 (Ф) 0,560·10 – 8 0,728·10 – 8 0,7261·10 – 8 0,26
C4 (Ф) 0,280·10 – 8 0,364·10 – 8 0,3631·10 – 8 0,26
C5 (Ф) 0,560·10 – 8 0,728·10 – 8 0,7053·10 – 8 3,11
C6 (Ф) 0,112·10 – 7 0,786·10 – 8 0,8067·10 – 8 2,63
C7 (Ф) 0,560·10 – 8 0,728·10 – 8 0,7760·10 – 8 6,59
RT = 60 Ом під’єднуємо до 10-го вузла та проводимо вимірювання вузлових по-
тенціалів у 12-ому та 17-ому вузлах. Результати моделювання цього кола подано
у табл. 5, а результати параметричної ідентифікації третього каскаду фільтра нижніх
частот — у табл. 6. Бачимо, що похибка визначення параметрів діагностованих
елементів складає не більше 2,0 %.
Богдан Благітко, Ігор Заячук, Василь Рабик, Любомира Кіт
Особливості параметричної ідентифікації ARC-кіл у частотній області
44
Таблиця 5
Результати моделювання справного та несправного кіл
Вузлові напруги у вольтах
Схема F (Гц)
10V 12V 17V
Re V 1,5372 1,7017 1,7279
Справна
Im V 0,0188 – 0,2307 – 0,3693
Re V 1,5372 1,7057 1,7004
Несправна
60
Im V 0,0188 – 0,4783 – 0,6696
Re V 1,4765 1,1130 0,2419
Справна
Im V – 0,1269 – 2,4419 – 2,9262
Re V 1,4763 0,5569 0,1074
Несправна
120
Im V – 0,1264 – 1,0621 – 1,1010
Таблиця 6
Результати параметричної ідентифікації третього каскаду фільтра
Елемент Номінальні
значення
Величина
несправності
Результат
параметричної
ідентифікації
Похибка
параметричної
ідентифікації (%)
R11 (кОм) 236,0 306,0 302,26 1,22
R12 (кОм) 102,0 132,0 130,50 1,11
R13 (кОм) 236,0 165,0 163,13 1,13
C5 (Ф) 0,560·10 – 8 0,728·10 – 8 0,7434·10 – 8 1,97
C6 (Ф) 0,112·10 – 7 0,786·10 – 8 0,7955·10 – 8 1,20
C7 (Ф) 0,560·10 – 8 0,728·10 – 8 0,7317·10 – 8 0,50
Висновки. Основні особливості параметричної ідентифікації ARC-кіл у частот-
ній області полягають у виборі методу вимірювання амплітуд і фаз вузлових по-
тенціалів і вимірювальних приладів, наявності груп неоднозначності в колі, ви-
значенні кількості параметрів елементів кола, які можуть бути діагностовані за
обмеженої кількості доступних і частково доступних вузлів, а також у виборі ме-
тоду формування та розв’язування систем рівнянь параметричної ідентифікації.
Запропонований підхід на прикладі параметричної ідентифікації ARC-фільтра
нижніх частот показав ефективність вибору методу вимірювання амплітуд і фаз
вузлових потенціалів для усунення проблем неоднозначності параметричної
ідентифікації у разі під’єднання тестових елементів (резисторів, конденсаторів,
котушок індуктивностей) до доступних і частково доступних вузлів.
ISSN 1816-1545 Фізико-математичне моделювання та інформаційні технології
2009, вип. 10, 38-45
45
Література
[1] Бэндлер, Дж. Диагностика неисправностей в аналоговых цепях / Дж. Бэндлер, А. Э. Салама //
ТИИЭР. — 1985. — T. 73, № 8. — C. 35-104.
[2] Благитко, Б. Я. Влияние погрешности измерения узловых потенциалов на результаты диаг-
ностики электрических цепей / Б. Я. Благитко // Теоретическая электротехника. — 1990. —
Вып. 48. — С. 101-108.
[3] Automated Selection of Test Frequencies for Fault Diagnosis in Analog Electronic Circuits /
C. Alippi, M. Catelani, A. Fort, M. Mugnaini // IEEE Transactions on Instrumentation and Measu-
rement. — 2005. — Vol. 54, No 3. — P. 1033-1044.
[4] Благітко, Б. Я. Проблема неоднозначності у разі діагностики електричних кіл / Б. Я. Благітко,
В. Г. Рабик // Теоретична електротехніка. — 2000. — Вип. 55. — С. 20-24.
[5] Благитко, Б. Я. Основы теории диагностики аналоговых электронных цепей по постоянному
току / Б. Я. Благитко, В. Г. Рабык // Теоретическая электротехника. — 1988. — Вып. 44. —
С. 121-129.
[6] Благитко, Б. Я. Учет зависимости коэффициента передачи тока биполярных транзисторов
в модели цепи / Б. Я. Благитко, И. М. Заячук // Теоретическая электротехника. — 1984. —
Вып. 36. — С. 99-104.
Peculiarities of the ARC-circuits frequency domain diagnostics
Bohdan Blagitko, Igor Zayachuk, Vasyl Rabyk, Lyubomyra Kit
Peculiarities of the ARC-circuits frequency domain diagnostics using the results of nodal potentials
measurements are discussed. In order to overcome the problem of ambiguity groups the accessible
and partly accessible nodes testing is suggested. The proposed algorithm allows us to eliminate
the influence of ambiguity groups of elements and to define unambiguously the parameters of ele-
ments using measured nodal potentials. This is achieved by connecting the passive test elements at
each stage of testing. Diagnostics of low-frequency ARC filter in amplitude/phase measurement
mode is described.
Особенности параметрической идентификации
ARC-цепей в частотной области
Богдан Благитко, Игор Заячук, Василий Рабык, Любомыра Кит
В статье рассмотрены особенности параметрической идентификации ARC-цепей в час-
тотной области по результатам измерения узловых потенциалов. Для решения проблемы
неоднозначных групп предложено использовать тестирование в доступных и частично до-
ступных узлах цепи. Предложенный алгоритм за счет подсоединения на каждом этапе
тестирования пассивных тестовых элементов позволяет исключить влияние неоднозначных
групп элементов и однозначно определить параметры элементов по измеренным узловым
потенциалам. Приведены методика и результаты параметрической идентификации ARC-
фильтра нижних частот при измерении амплитуд и фаз узловых потенциалов.
Представлено професором В. Чекуріним
Отримано 28.04.09
|
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-22251 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1816-1545 |
| language | Ukrainian |
| last_indexed | 2025-12-07T16:15:59Z |
| publishDate | 2009 |
| publisher | Центр математичного моделювання Інституту прикладних проблем механіки і математики ім. Я.С. Підстригача НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Благітко, Б. Заячук, І. Рабик, В. Кіт, Л. 2011-06-20T22:19:41Z 2011-06-20T22:19:41Z 2009 Особливості параметричної ідентифікації ARC-кіл у частотній області / Б. Благітко, І. Заячук, В. Рабик, Л. Кіт // Фіз.-мат. моделювання та інформ. технології. — 2009. — Вип. 10. — С. 38-45. — Бібліогр.: 6 назв. — укр. 1816-1545 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/22251 621.372.061 Розглянуто особливості параметричної ідентифікації ARC-кіл у частотній області за результатами вимірювання вузлових потенціалів. Для розв’язування проблеми неоднозначних груп запропоновано використовувати тестування в доступних і частково доступних вузлах кола. Запропонований алгоритм, який враховує під’єднання на кожному етапі тестування пасивних тестових елементів, дає можливість виключити вплив неоднозначних груп елементів і однозначно визначити параметри елементів за виміряними вузловими потенціалами. Описано методику та результати параметричної ідентифікації ARC-фільтра нижніх частот за виміряними амплітудами та фазами вузлових потенціалів. Peculiarities of the ARC-circuits frequency domain diagnostics using the results of nodal potentials measurements are discussed. In order to overcome the problem of ambiguity groups the accessible and partly accessible nodes testing is suggested. The proposed algorithm allows us to eliminate the influence of ambiguity groups of elements and to define unambiguously the parameters of elements using measured nodal potentials. This is achieved by connecting the passive test elements at each stage of testing. Diagnostics of low-frequency ARC filter in amplitude/phase measurement mode is described. В статье рассмотрены особенности параметрической идентификации ARC-цепей в частотной области по результатам измерения узловых потенциалов. Для решения проблемы неоднозначных групп предложено использовать тестирование в доступных и частично доступных узлах цепи. Предложенный алгоритм за счет подсоединения на каждом этапе тестирования пассивных тестовых элементов позволяет исключить влияние неоднозначных групп элементов и однозначно определить параметры элементов по измеренным узловым потенциалам. Приведены методика и результаты параметрической идентификации ARC-фильтра нижних частот при измерении амплитуд и фаз узловых потенциалов. uk Центр математичного моделювання Інституту прикладних проблем механіки і математики ім. Я.С. Підстригача НАН України Фізико-математичне моделювання та інформаційні технології Особливості параметричної ідентифікації ARC-кіл у частотній області Peculiarities of the ARC-circuits frequency domain diagnostics Особенности параметрической идентификации ARC-цепей в частотной области Article published earlier |
| spellingShingle | Особливості параметричної ідентифікації ARC-кіл у частотній області Благітко, Б. Заячук, І. Рабик, В. Кіт, Л. |
| title | Особливості параметричної ідентифікації ARC-кіл у частотній області |
| title_alt | Peculiarities of the ARC-circuits frequency domain diagnostics Особенности параметрической идентификации ARC-цепей в частотной области |
| title_full | Особливості параметричної ідентифікації ARC-кіл у частотній області |
| title_fullStr | Особливості параметричної ідентифікації ARC-кіл у частотній області |
| title_full_unstemmed | Особливості параметричної ідентифікації ARC-кіл у частотній області |
| title_short | Особливості параметричної ідентифікації ARC-кіл у частотній області |
| title_sort | особливості параметричної ідентифікації arc-кіл у частотній області |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/22251 |
| work_keys_str_mv | AT blagítkob osoblivostíparametričnoíídentifíkacííarckílučastotníioblastí AT zaâčukí osoblivostíparametričnoíídentifíkacííarckílučastotníioblastí AT rabikv osoblivostíparametričnoíídentifíkacííarckílučastotníioblastí AT kítl osoblivostíparametričnoíídentifíkacííarckílučastotníioblastí AT blagítkob peculiaritiesofthearccircuitsfrequencydomaindiagnostics AT zaâčukí peculiaritiesofthearccircuitsfrequencydomaindiagnostics AT rabikv peculiaritiesofthearccircuitsfrequencydomaindiagnostics AT kítl peculiaritiesofthearccircuitsfrequencydomaindiagnostics AT blagítkob osobennostiparametričeskoiidentifikaciiarccepeivčastotnoioblasti AT zaâčukí osobennostiparametričeskoiidentifikaciiarccepeivčastotnoioblasti AT rabikv osobennostiparametričeskoiidentifikaciiarccepeivčastotnoioblasti AT kítl osobennostiparametričeskoiidentifikaciiarccepeivčastotnoioblasti |