Рентгеноструктурный анализ наноалмазов с использованием синхротронного излучения и компьютерного моделирования
The method of the structure analysis of detonation nanodiamonds (DND) based on the computer modeling is developed. DNDs with the parameters of natural diamond were shown to be synthesized. The relationship between quality of DND and the lattice parameters is established.
Saved in:
| Published in: | Породоразрушающий и металлообрабатывающий инструмент – техника и технология его изготовления и применения |
|---|---|
| Date: | 2009 |
| Main Authors: | , |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України
2009
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/22607 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Рентгеноструктурный анализ наноалмазов с использованием синхротронного излучения и компьютерного моделирования / Г.С. Юрьев, В.Ю. Долматов // Породоразрушающий и металлообрабатывающий инструмент – техника и технология его изготовления и применения: Сб. науч. тр. — К.: ІНМ ім. В.М. Бакуля НАН України, 2009. — Вип. 12. — С. 326-332. — Бібліогр.: 10 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1860270668768083968 |
|---|---|
| author | Юрьев, Г.С. Долматов, В.Ю. |
| author_facet | Юрьев, Г.С. Долматов, В.Ю. |
| citation_txt | Рентгеноструктурный анализ наноалмазов с использованием синхротронного излучения и компьютерного моделирования / Г.С. Юрьев, В.Ю. Долматов // Породоразрушающий и металлообрабатывающий инструмент – техника и технология его изготовления и применения: Сб. науч. тр. — К.: ІНМ ім. В.М. Бакуля НАН України, 2009. — Вип. 12. — С. 326-332. — Бібліогр.: 10 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Породоразрушающий и металлообрабатывающий инструмент – техника и технология его изготовления и применения |
| description | The method of the structure analysis of detonation nanodiamonds (DND) based on the computer modeling is developed. DNDs with the parameters of natural diamond were shown to be synthesized. The relationship between quality of DND and the lattice parameters is established.
|
| first_indexed | 2025-12-07T19:06:25Z |
| format | Article |
| fulltext |
Выпуск 12. ПОРОДОРАЗРУШАЮЩИЙ И МЕТАЛООБРАБАТЫВАЮЩИЙ ИНСТРУМЕНТ – ТЕХНИКА
И ТЕХНОЛОГИЯ ЕГО ИЗГОТОВЛЕНИЯ И ПРИМЕНЕНИЯ
326
10. Структура и седиментационная устойчивость суспензий наноалмазов детонационного
синтеза в неводных жидких средах / А. П. Возняковский, В. В. Клюбин,
В. Ю. Долматов, Л. В. Агибалова //Сверхтвердые матер. – 2000. – № 2. – С. 64 – 71.
11. Возняковский А. П. Самоорганизация в нанокомпозитах на основе наноналмазов де-
тонационного синтеза // Физика твердого тела. – 2004. – № 4. – С. 629 – 632.
Поступила 11.06.09
ДК 666.233
Г.С. Юрьев1, д-р хим. наук, В.Ю. Долматов2, канд. техн. наук
1Институт неорганической химии им. А.В. Николаева СО РАН, г. Новосибирск, РФ
2Федеральное Государственное Унитарное Предприятие «СКТБ «Технолог»,
г. Санкт-Петербург, РФ
РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ НАНОАЛМАЗОВ
С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ СИНХРОТРОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ
И КОМПЬЮТЕРНОГО МОДЕЛИРОВАНИЯ
The method of the structure analysis of detonation nanodiamonds (DND) based on the com-
puter modeling is developed. DNDs with the parameters of natural diamond were shown to be syn-
thesized. The relationship between quality of DND and the lattice parameters is established.
Среди физических методов исследования рентгеноструктурный анализ, основанный
на дифракции рентгеновского излучения (XRD) на межатомных расстояниях, является пря-
мым методом определения структуры и размера наночастиц (НЧ). В нашем случае развит
метод изучения структуры и размера порошков детонационных наноалмазов (ДНА). Новым
является принцип создания компьютерных моделей наноалмазов (НА), которые необходимы
для теоретического расчета картин XRD и сравнения их с экспериментальной картиной для
характеризации ДНА. Преимущество метода заключается в определении параметров решет-
ки НЧ не по величинам dhkl в уравнении дифракции (n =2dhkl sinhkl), а по уравнению Дебая
[1], которое связывает картину XRD с межатомными расстояниями в НЧ.
Для технических применений (например, в гальванике, в полировании, добавление в
масла и смазки, в медицине, биологии и т.д.) необходимо синтезировать ДНА высокого каче-
ства. Они должны быть свободны от несгораемых примесей (техногенных загрязнений –
окислов и карбидов металлов) и должны содержать максимально возможное количество уг-
лерода, т.е. иметь совершенный элементный состав и параметры кристаллической решетки
макроалмаза. В данной работе для решения этой проблемы создан новый способ получения
ДНА подрывом заряда мощных взрывчатых веществ в оболочке из водного раствора смеси
восстановителей (рис. 1) и развит метод определения параметров решетки ДНА, величина
которых сравнима с используемой в анализе длиной волны.
Отметим, что уравнение дифракции (n =2dhklsinhkl) справедливо для поликристаллов
(ПК), величина которых бесконечна по сравнению с длиной волны [2]. Оболочка из конден-
сированной фазы (вода или лед) удерживает продукты детонации в геометрических размерах
заряда дополнительное время, что позволяет углероду более полно перейти в праструктуру
алмаза. Разработан способ детонационного синтеза ДНА и алмазной шихты (АШ) в водной
среде в присутствии активных восстановителей при весовом соотношении взрывчатого ве-
щества (ВВ): восстановитель как 1 : 0,1 – 10,0 [3, 4].
РАЗДЕЛ 2. ИНСТРУМЕНТАЛЬНЫЕ, КОНСТРУКЦИОННЫЕ И ФУНКЦИОНАЛЬНЫЕ МАТЕРИАЛЫ
НА ОСНОВЕ АЛМАЗА И КУБИЧЕСКОГО НИТРИДА БОРА
327
Рис. 1. Взрывная камера «Альфа
2 М» с объемом 2,14 м3 вид сбоку,
(заряд ВВ – 1 кг, состав ТГ
40/60)
Подрыв сплава тротил-гексоген, содержащего 40 % масс. тротила (ТГ 40), осуществ-
лялся в водной оболочке во взрывной камере объемом 1 м3, весовое соотношение (ВВ : вода)
поддерживалось как (1: 6), вес заряда (рис. 1) – 0,6 кг, среда подрыва – продукты предыду-
щих детонаций.
Экспериментальная картина XRD
регистрировалась в автоматическом режиме на –2
дифрактометре высокого разрешения дифракционного
пространства с использованием высокоинтенсивного
монохраматизированного (/ = 410-4) практически
не расходящегося синхротронного излучения, с
установкой монохроматора в дифрагированном пучке
для исключения комптоновского и флуоресцентного
излучения, при независимости дифрагированного
излучения от поглощения падающего излучения. Все
это указывает на то, что проведение эксперимента
выполнялось на уровне, не уступающем мировым
стандартам. Демонстрируется геометрическая схема
дифрактометра, в которой используемая
интенсивность превышает интенсивность излучения
рентгеновских трубок [1].
Для понимания структуры ДНА согласно
картине XRD, с помощью оригинального комплекса
программ создаются компьютерные модели НЧ на
основе элементарной ячейки (ЭЯ) натурального
алмаза.
Известны исследования, согласно которым синтезированы ДНА с параметрами ре-
шетки (a = 3,573 Ǻ [5], a ≈ 3,575 Ǻ [6], отличающимися от параметров натурального алмаза,
что, предполагается, обусловлено разными условиями синтеза. Однако очевидно, что, если
наноразмерный материал отличается от макроматериала, то он должен характеризоваться не
размером, а свойством, например, в случае наноалмаза картиной XRD, которая отличается от
картины макроалмаза положением и шириной отражений (hkl) [7]. При определении пара-
метров решетки ДНА согласно экспериментальной XRD картине обращает на себя внимание
тот факт, что контуры отражений (hkl) со стороны малых или больших дифракционных уг-
лов деформированы. Это свидетельствует о полидисперсности образцов ДНА, что подтвер-
ждается разложением экспериментального контура отражения (111) на его составляющие
благодаря расчету картин XRD от НА различной величины и с различными параметрами ре-
шетки.
Согласно компьютерным моделям НА было выполнено сравнение рассчитанных рас-
пределений атомов в структуре алмаза при параметрах решетки, больших или меньших па-
раметра решетки макроалмаза (рис. 2).
Установлено нарушение масштаба решетки НА, обусловленное изменением в соот-
ношении между его величиной и структурой. В сферических НА такое нарушение обнару-
жено при параметре решетки, увеличенном более чем на 1,141 % ( 0,041 Å, т.е. при а бо-
лее 3,6075 Å) или уменьшенном на 3,43 % ( 0,140 Å, т. е. при а менее 3,4268 Å) по срав-
нению с параметром решетки макроалмаза. Например, при параметре а =3,5923 Å (на 0,72 %
больше, чем в макроалмазе) распределение атомов в НА сохраняется, как в макроалмазе, до
радиуса 33,73 Å и далее нарушается. Это может указывать на то, что при образовании струк-
туры с параметрами решетки таких НА возможно присутствие дефектов и/или атомов друго-
го сорта (загрязнения). Очевидно, что на качество ДНА (дефектность) указывает отклонение
параметра его решетки от параметра макроалмаза.
Выпуск 12. ПОРОДОРАЗРУШАЮЩИЙ И МЕТАЛООБРАБАТЫВАЮЩИЙ ИНСТРУМЕНТ – ТЕХНИКА
И ТЕХНОЛОГИЯ ЕГО ИЗГОТОВЛЕНИЯ И ПРИМЕНЕНИЯ
328
Рис. 2. Фрагменты структур пустотелого НА из трех КС: 7-ой (черный цвет 82 атома ), 8-
ой (красный цвет 108 атомов) и 9-ой (синий цвет 168 атомов). Слева – структура с
увеличенным (а =3.62259 Å) параметром алмазной решетки (108 атомов в 8-ой КС). В
середине – структура с параметрами решетки (а =3.56679 Å) макроалмаза (132 атома в 8-
ой КС). Справа – отражение (111) в фрагменте картины XRD модельного НА,
образованного с 1-ой по 9-ю КС: пунктирная линия для НА с (а =3.62259 Å), сплошная линия –
с (а =3.56679 Å)
Известно, что в картине XRD ПК при возникновении в зернах (микрочастицах) мик-
ронапряжений должен наблюдаться сдвиг положений дифракционных отражений от кри-
сталлографических плоскостей, испытывающих напряжения, по сравнению с положением
аналогичных отражений в ПК без напряжений. При отсутствии микронапряжений в кристал-
лической решетке дифракционные отражения должны быть симметричны. При гомогенно
распределенных по объему ПК микронапряжениях в равных по размеру зернах также воз-
можны симметричные отражения. В изученных нами ДНА наблюдается симметричные от-
ражения. В случае нарушения масштаба кристаллической решетки алмаза можно предска-
зать, что структура неустойчива и со временем произойдет, например, ее частичная аморфи-
зация, которая обусловит вклад некристаллической составляющей в экспериментальную
XRD картину.
Нарушение масштаба структуры модельного НА с увеличенным по сравнению с ПК
алмазом параметром наглядно представлено на рис. 2, где показан фрагмент структуры
поверхности НА (пустотелого) из трех КС: 7-ой, 8-ой и 9-ой. При беглом сравнении
распределения атомов во фрагметах структур видна разница, обусловленная различными
параметрами решеток.
Показано, что положения отражений ДНА зависят от размера и формы НА, а их про-
филь обусловлен аддитивным сложением картин дифракции от НА с различными парамет-
рами кристаллической решетки и разным числом атомов. Отличие параметров кристалличе-
ской решетки ДНА от параметров решетки макроалмаза указывает на различие структур –
пространственного расположения атомов. В связи с этим установлен доверительный интер-
вал параметров решетки, за пределами которого нарушается распределение атомов, харак-
терное для макроалмаза.
Сравнение экспериментальной и рассчитанных картин XRD на основе компьютерных
моделей при различных значениях параметров решетки, величинах и формы (сферической,
несферической) НА выполняется в соответствии с положениями дифракционных отражений,
их интенсивностью и контуром. По положению отражений определяются параметры кри-
сталлической решетки, которые находятся в доверительном интервале ( а) и характеризу-
ют качество ДНА относительно нормы (а =3,56679 Å – параметр решетки натурального алма-
за). Заметим, что положение отражений малых НА (сферических радиусом R 6,85 Å и не-
сферических величиной 5а5а5) отличаются от положений аналогичных отражений ПК
алмазов.
РАЗДЕЛ 2. ИНСТРУМЕНТАЛЬНЫЕ, КОНСТРУКЦИОННЫЕ И ФУНКЦИОНАЛЬНЫЕ МАТЕРИАЛЫ
НА ОСНОВЕ АЛМАЗА И КУБИЧЕСКОГО НИТРИДА БОРА
329
Экспериментальные картины XRD изученных образцов ДНА представлены слева на
рис. 3 и 4, в которых по положениям отражений (hkl) от кристаллографических плоскостей
установлено присутствие фаз ДНА и примесей, а также определены параметры решетки.
Рис. 3. Экспериментальная картина XRD образца №4 (слева). Дискретные отражения ПК
алмаза и графита (отражения G), Fe3O4 и H3.6Fe0.6Fe0.4(CN)6(H2O)1.6 обозначены *. Справа -
контур экспериментального отражения (111), в котором выделены контуры трех отраже-
ний, соответствующих величинам ДНА: 1 - R =10.513 Å; 2 – R =27.091 Å; 4 - R =43.125 Å; 3,
5 – суммарные контуры НА из контуров 1 и 2, а также из контуров 3 и 4, соответственно
Рис. 4. Слева: экспериментальная картина XRD образца ДНА №24. Дискретные отражения
поликристаллического алмаза обозначены пунктиром. Справа: контуры отражений (111):
1 – НА R =12.19 Å, 2 – R =35.16 Å, 3 – суммарный контур из контуров 1+2, 4 – НА R
=47.07 Å, 5 – суммарный контур из контуров 3+4, 6 – отражение поликристаллического
алмаза, 7 – экспериментальное отражение (а =3.572 Å)
При характеризации фазы ДНА использовались компьютерные модели НА, которые
различались параметрами кристаллической решетки, размером и формой. На эксперимен-
тальных картинах XRD кроме отражений фаз ДНА присутствуют отражения (hkl) фаз приме-
сей, которые указаны для каждого из изученных образцов. Их присутствие установлено
сравнением положений отражений на экспериментальных и теоретически рассчитанных кар-
тинах XRD, при этом при определении химических соединений фаз примесей принимались
во внимание результаты рентгеноспектрального элементного анализа, обнаружившего в об-
разцах химические элементы (Fe, Cr, Al, Na, K, Cu, Mg, Mn, Ti, Pb). Положения сильных от-
ражений (hkl) известных различных химических соединений, включающих эти элементы, а
также углерода, азота, кислорода, участвующих в процессе синтеза, были взяты из [8–10] для
сравнения с экспериментальными.
Причина отличия ДНА от ПК алмаза согласно дифракции как характеристическому
свойству связана с вкладом в картину межатомных расстояний в структуре ДНА, которые
отличаются от расстояний между кристаллографическими плоскостями в ПК алмазе. В связи
с этим для определения параметров решетки ДНА выполнен расчет теоретической картины
XRD НА из первых принципов согласно модели пространственного расположения атомов.
Расчеты картин осуществлялись при различных значениях параметров решетки, величин и
формы НА, в которых отсутствует дальний порядок. Сравнение теоретической и экспери-
Выпуск 12. ПОРОДОРАЗРУШАЮЩИЙ И МЕТАЛООБРАБАТЫВАЮЩИЙ ИНСТРУМЕНТ – ТЕХНИКА
И ТЕХНОЛОГИЯ ЕГО ИЗГОТОВЛЕНИЯ И ПРИМЕНЕНИЯ
330
ментальной картин позволяет определить параметры решетки методом проб по совпадению
положений их отражений, а величину нанокристаллов по ширине отражений, которая также
обусловлена сравнимостью величины ДНА с длиной волны дифрагируемого излучения. Как
отмечалось ранее, экспериментальные картины XRD регистрировались с высоким разреше-
нием дифракционного пространства, что обеспечивалось отношением (/ =410-4), малой
расходимостью излучения и практическим отсутствием его поляризации, поскольку СИ по-
ляризовано в горизонтальной плоскости орбиты ускорителя при детектировании дифракци-
онного пространства в вертикальной плоскости.
Метод рентгеноструктурного анализа с использованием СИ высокой интенсивности
позволяет регистрировать такие детали картины, как например «плечи» на фронте отраже-
ний, которые, как правило, воспроизводились теоретическим расчетом XRD. При синтезе
ДНА из ВВ возможно образование полидисперсных ДНА. В этом случае картины XRD пред-
ставлялись суммой независимых картин сферических НА, рассчитанных для различных ве-
личин и параметров их решетки. Размытые отражения (111), (220), (311) сравнивались с ана-
логичными отражениями экспериментальных картин образцов ДНА. Полидисперсность ДНА
следует из сравнения (рис. 3 и 4, справа) фрагментов картин, содержащих отражения (111)
экспериментальные и рассчитанные согласно величинам (радиусам R, Å) ДНА.
На рис. 3, слева представлена экспериментальная картина XRD образца № 4, синтези-
рованного в отсутствие восстановителей. Образец содержал 96,7 % масс. ДНА, несгораемых
примесей 1,5 % масс., окисляемого углерода 1,6 % масс. На картине положения отражений
фаз примесей указывают на присутствие графита [8], Fe3O4 [9] и H3.6Fe0.6Fe0.4(CN)6 (H2O)1.6
[10]. Величины радиусов (R, Å) ДНА определялись сравнением контура экспериментальных
отражений (111) ДНА с контуром, представленным суммой теоретически рассчитанных кон-
туров (111) для различных по величине НА, имеющих соответствующие параметры кристал-
лической решетки. На рис. 3, справа представлено разложение контура экспериментального
отражения (111) на три отражения различной ширины, соответствующих различным по ве-
личине НА с различными параметрами решетки: 1 – контур отражения НА R = 10,513 Å, а
= 3,56265 Å (d111 = 2,09376 Å, 2 = 43,1730); 2 – контур отражения НА R =27,091 Å, а = 3,56679
Å (d111 = 2,059 Å, 2 = 43,9340); 3 – суммарный контур из контуров 1+2, 4 – контур отражения
НА R = 43,125 Å, а = 3,56679 Å; 5 – суммарный контур из контуров 3+4 аддитивного сложе-
ния отражений НА, который соответствует экспериментальному отражению (111).
Нами изучен также образец № 24, полученный детонационном синтезом при добавле-
нии в воду восстановителя марки А-М (мочевина), вещества, которое более легко окисляет-
ся, что оказывает влияние на результат синтеза. Естественно, что окислители («ПД»: CO2,
H2O, NO2, N2O3) взаимодействуют, прежде всего, с более легко окисляющимися восстанови-
телями, чем с достаточно трудно окисляемым углеродом и особенно с ДНА. В связи с этим
увеличивался выход алмазной шихты (АШ) и ДНА и количественно изменялся их элемент-
ный состав, включая содержание углерода. Кроме того, наличие легко окисляемых восстано-
вителей среди продуктов детонации способствует сохранению ДНА, уменьшая его графити-
зацию. С использованием восстановителей при синтезе алмазной шихты содержание ДНА в
ней увеличивается незначительно (на 2–5 % масс.), однако общее количество шихты возрас-
тает в 2 раза, поэтому и выход ДНА в расчете на исходное ВВ возрастает также в 2 раза.
Низкое содержание (0,1–0,3% масс.) несгораемых примесей (окислы и карбиды ме-
таллов) позволяет использовать такие ДНА во многих технологических применениях. В то
же время, количество не алмазного углерода в ДНА достаточно постоянно – 0,8–1,4 % масс.,
и такое количество не влияет ни на одну из технологий использования ДНА. Содержание
алмазной фазы в очищенных ДНА доходит до 99,1% масс.
Экспериментальная картина XRD образца № 24, синтезированного в присутствии мо-
чевины, приведена на рис. 4, слева, в которой отсутствовали отражения примеси графита,
включая отражение (002). На рис. 4, справа контур экспериментального отражения (111)
ДНА представлен суммой рассчитанных площадей трех контуров отражений (111) НА раз-
РАЗДЕЛ 2. ИНСТРУМЕНТАЛЬНЫЕ, КОНСТРУКЦИОННЫЕ И ФУНКЦИОНАЛЬНЫЕ МАТЕРИАЛЫ
НА ОСНОВЕ АЛМАЗА И КУБИЧЕСКОГО НИТРИДА БОРА
331
личных радиусов. Контур отражения НА (R = 12,194 Å, а = 3,56679 Å) превалирует над анало-
гичными площадями НА с радиусами R = 35,163 Å и R = 47,075 Å, которые, в свою очередь,
слабо отличались друг от друга. Параметр решетки ДНА по положению отражений опреде-
лен равным а =3,5719 Å.
Наконец, нами обращено внимание на то, что в публикациях по структуре ДНА
встречаются экспериментальные картины XRD, в которых сильно завышена интенсивность
отражения (111) по сравнению с аналогичным отражением макроалмаза. Это указывает на
преимущественный рост ДНА в направлении [111]. Для определения формы ДНА (текстуры)
в соответствии с указанным характером экспериментальной картины XRD выполнено срав-
нение ее с рассчитанными картинами для компьютерных моделей НА различной величины и
формы.
Модели создавались трансляцией ЭЯ алмаза (а = 3,56679 Å) в 3D пространстве с раз-
личными шагами по осям х, y, z. Из этой модели вырезались различные параллелепипеды. На
рис. 5, в середине, представлена модель параллелепипеда с выбранным кристаллографиче-
ским направлением [111] и конкретным числом плоскостей (111). Удовлетворительное сход-
ство по интенсивности и положению отражений видно из сравнения экспериментальной XRD
картины ДНА с рассчитанной картиной для модельного текстурированного НА (величиной
5,28 Å 7,13 Å 19,7 Å) (рис. 5, справа).
Рис. 5. Слева - компьютерная модель НА; в середине - фрагмент этой модели.
Справа – сравнение картин XRD: жирная кривая –экспериментальная, пунктирная
кривая–теоретически рассчитанная согласно модели (в середине рисунка), дискретные
отражения принадлежат поликристаллическому алмазу
Выводы
Установлено, что НА с параметром решетки, уменьшенном или увеличенном по срав-
нению с параметром макроалмаза, имеют структуру, отличающуюся от структуры макроал-
маза. Это различие продемонстрировано созданием компьютерных моделей структур НА с
увеличенным параметром решетки и с параметром решетки макроалмаза. Отметим, что раз-
работанная методика определения параметров решетки и величины сферических НА обосно-
вывает качественность наноматериала (продукции) и обладает предсказательной силой, т.е.
обнаруживает нестабильность структуры и нарушение в распределении атомов внешней час-
ти наноалмаза. Отличие параметров кристаллической решетки ДНА от параметров решетки
макроалмаза, указывающее на различие структур, позволило установить доверительный ин-
тервал параметров решетки, за пределами которого нарушается распределение атомов, ха-
рактерное для макроалмаза.
Показано, что экспериментальные отражения ДНА зависят от размера и формы НА.
Контур экспериментального отражения (111) определяется полидисперсностью ДНА, что
подтверждает аддитивное сложение отражений (111) в картинах НА c различными парамет-
рами кристаллической решетки и числом атомов.
Практической значимостью работы является развитие методики структурного анализа
для определения параметров решетки и влияния на них условий синтеза, что позволило син-
тезировать ДНА с параметрами решетки натурального алмаза.
Выпуск 12. ПОРОДОРАЗРУШАЮЩИЙ И МЕТАЛООБРАБАТЫВАЮЩИЙ ИНСТРУМЕНТ – ТЕХНИКА
И ТЕХНОЛОГИЯ ЕГО ИЗГОТОВЛЕНИЯ И ПРИМЕНЕНИЯ
332
Работа по изучению ДНА выполнялась в рамках Госконтракта № 02.523.11.3003 от 16
мая 2007 г.
Литература
1. Yurjev G. S. Structural analysis of detonation nanodiamonds inclusive of core/shell hy-
brids. In: Diamond and Related Materials Research. Ed. Shimizu S. – N–Y.: Nova Science
Publishers Inc., 2008. – P 151–179.
2. Гусев А. И., Ремпель А. А. Нанокристаллические материалы. – М.: Физматлит, 2001. –
222 с.
3. Международная заявка РСТ/RU 2005/000686. МКИ СО1В31/06, (Международная за-
явка РСТ/RU 2005/000686. Наноалмаз и способ его получения / В.Ю. Долматов. –
Приоритет от 30.12.2005 г. (WO 2007/078210 от 12.07.2007)). (Пат. РФ №2348580. На-
ноалмаз и способ его получения / В.Ю. Долматов – Приоритет от 30.12.2005, зарег. 10
марта 2009.).
4. Международная заявка РСТ/RU 2005/000685. МКИ (Международная заявка РСТ/RU
2005/000685. Алмаз-углеродный материал и способ его получения/ В.Ю. Долматов. –
Приоритет от 30.12.2005 г., (WO 2007/078209 от 12.07.2007.)).
5. Shames A. I. et al. Defects and impurities in nanodiamonds: EPR, NMR and TEM study // J.
Phys. Chem. Sol. – 2002. – 63, N 11. – P. 1993–2001.
6. Chen P. W. et al. Spherical nanometer-sized diamond obtained from detonation // Diamond
Related Mat. – 2000. – 9, N 9–10. – P. 1722–1725.
7. Юрьев Г. С., Долматов В. Ю., Косов А. В. Рентгеноструктурный анализ ДНА с ис-
пользованием синхротронного излучения: определение параметров кристаллической
решетки, размера нанокристаллов и компьютерное моделирование. Сб.: Породораз-
рушающий металлообрабатывающий инструмент, технология его изготовления. – Ки-
ев: ИСМ им. Бакуля В.Н. НАН Украины, 2008. – Вып. 11. – С. 261–267.
8. JPDS-DIA. – 41, N 1487.
9. ICSD No 36314, Claassen A.A. The scattering power of oxygen and iron for X-Rays. // Pro-
ceedings of the Physical Society, London. – 1926. – 38. – P. 482–487.
10. ICSD No2863. Haser R., Pierrot M. Etude structurale de la serie des hexacyanofer-
rates(II,III) d'hydrogene: H3+x (Fe(II)x Fe(III)1-x (C N)6)(H2 O)y. III. La phase rhom-
boedr. R, H(II)0.6 Fe(II)3.6 Fe(III)0.4 (C N)6) (H2 O)1.6 // Acta Crystallographica B.–
1972.– 28.– P. 2542-2547. – (ICSD N 2863).
Поступила 29.05.09
УДК 621.921.343
А. М. Панова1, Г. П. Богатирьова1, д-р. техн. наук, В. Я. Забуга2, Г. Г. Цапюк2, кандидати
хімічних наук, А. М. Катруша1, канд. техн. наук, Н. О. Шевченко2, І. В. Пшенична2
1Інститут надтвердих матеріалів ім. В. М. Бакуля НАН України, м. Київ
2Київський національний університет імені Тараса Шевченка, Україна
ВПЛИВ НЕМЕТАЛЕВИХ СПОЛУК НА ТЕРМОСТІЙКІСТЬ ПОРОШКІВ
НАНОАЛМАЗУ ДЕТОНАЦІЙНОГО СИНТЕЗУ
Catalytic influence of ammonium chloride on thermal resistance nanodiamond powders has
been examined. Increase of sample speed oxidation, with was pretreated by NH4Cl solution, com-
|
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-22607 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | XXXX-0065 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-12-07T19:06:25Z |
| publishDate | 2009 |
| publisher | Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Юрьев, Г.С. Долматов, В.Ю. 2011-06-26T21:33:04Z 2011-06-26T21:33:04Z 2009 Рентгеноструктурный анализ наноалмазов с использованием синхротронного излучения и компьютерного моделирования / Г.С. Юрьев, В.Ю. Долматов // Породоразрушающий и металлообрабатывающий инструмент – техника и технология его изготовления и применения: Сб. науч. тр. — К.: ІНМ ім. В.М. Бакуля НАН України, 2009. — Вип. 12. — С. 326-332. — Бібліогр.: 10 назв. — рос. XXXX-0065 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/22607 666.233 The method of the structure analysis of detonation nanodiamonds (DND) based on the computer modeling is developed. DNDs with the parameters of natural diamond were shown to be synthesized. The relationship between quality of DND and the lattice parameters is established. Работа по изучению ДНА выполнялась в рамках Госконтракта № 02.523.11.3003 от 16 мая 2007 г. ru Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України Породоразрушающий и металлообрабатывающий инструмент – техника и технология его изготовления и применения Инструментальные, конструкционные и функциональные материалы на основе алмаза и кубического нитрида бора Рентгеноструктурный анализ наноалмазов с использованием синхротронного излучения и компьютерного моделирования Article published earlier |
| spellingShingle | Рентгеноструктурный анализ наноалмазов с использованием синхротронного излучения и компьютерного моделирования Юрьев, Г.С. Долматов, В.Ю. Инструментальные, конструкционные и функциональные материалы на основе алмаза и кубического нитрида бора |
| title | Рентгеноструктурный анализ наноалмазов с использованием синхротронного излучения и компьютерного моделирования |
| title_full | Рентгеноструктурный анализ наноалмазов с использованием синхротронного излучения и компьютерного моделирования |
| title_fullStr | Рентгеноструктурный анализ наноалмазов с использованием синхротронного излучения и компьютерного моделирования |
| title_full_unstemmed | Рентгеноструктурный анализ наноалмазов с использованием синхротронного излучения и компьютерного моделирования |
| title_short | Рентгеноструктурный анализ наноалмазов с использованием синхротронного излучения и компьютерного моделирования |
| title_sort | рентгеноструктурный анализ наноалмазов с использованием синхротронного излучения и компьютерного моделирования |
| topic | Инструментальные, конструкционные и функциональные материалы на основе алмаза и кубического нитрида бора |
| topic_facet | Инструментальные, конструкционные и функциональные материалы на основе алмаза и кубического нитрида бора |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/22607 |
| work_keys_str_mv | AT ûrʹevgs rentgenostrukturnyianaliznanoalmazovsispolʹzovaniemsinhrotronnogoizlučeniâikompʹûternogomodelirovaniâ AT dolmatovvû rentgenostrukturnyianaliznanoalmazovsispolʹzovaniemsinhrotronnogoizlučeniâikompʹûternogomodelirovaniâ |