Стан і перспективи наноструктурних термоелектричних матеріалів

У роботі проаналізовано властиві нанооб’єктів (типу квантових точок, квантових ниток і т. п.) недосконалості, які необхідно враховувати в разі розробки наноструктурних матеріалів, призначених для використання в мікроелектроніці, термоелектроперетворювачах нового покоління, а також в інших областях е...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Термоелектрика
Дата:2009
Автори: Баранський, П.І., Гайдар, Г.П.
Формат: Стаття
Мова:Ukrainian
Опубліковано: Інститут термоелектрики НАН України та МОН України 2009
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/27913
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Стан і перспективи наноструктурних термоелектричних матеріалів / П.І. Баранський, Г.П. Гайдар // Термоелектрика. — 2009. — № 1. — С. 56-59. — Бібліогр.: 20 назв. — укр.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:У роботі проаналізовано властиві нанооб’єктів (типу квантових точок, квантових ниток і т. п.) недосконалості, які необхідно враховувати в разі розробки наноструктурних матеріалів, призначених для використання в мікроелектроніці, термоелектроперетворювачах нового покоління, а також в інших областях електронної техніки. В работе проанализированы присущие нанообъектам (типа квантовых точек, квантовых нитей и т. п.) несовершенства, которые необходимо учитывать при разработке наноструктурных материалов, предназначенных для использования в микроэлектронике, термоэлектропреобразователях нового поколения, а также в других областях электронной техники. This paper analyzes peculiar to nanoobjects (quantum dots, quantum wires, etc.) imperfections that must be taken into account in the development of nanostructured material intended for use in microelectronics, thermoelectric converters of new generation, as well as in other fields of electronic engineering.
ISSN:1726-7714