Стан і перспективи наноструктурних термоелектричних матеріалів

У роботі проаналізовано властиві нанооб’єктів (типу квантових точок, квантових ниток і т. п.) недосконалості, які необхідно враховувати в разі розробки наноструктурних матеріалів, призначених для використання в мікроелектроніці, термоелектроперетворювачах нового покоління, а також в інших областях е...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Термоелектрика
Date:2009
Main Authors: Баранський, П.І., Гайдар, Г.П.
Format: Article
Language:Ukrainian
Published: Інститут термоелектрики НАН України та МОН України 2009
Subjects:
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/27913
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Стан і перспективи наноструктурних термоелектричних матеріалів / П.І. Баранський, Г.П. Гайдар // Термоелектрика. — 2009. — № 1. — С. 56-59. — Бібліогр.: 20 назв. — укр.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Description
Summary:У роботі проаналізовано властиві нанооб’єктів (типу квантових точок, квантових ниток і т. п.) недосконалості, які необхідно враховувати в разі розробки наноструктурних матеріалів, призначених для використання в мікроелектроніці, термоелектроперетворювачах нового покоління, а також в інших областях електронної техніки. В работе проанализированы присущие нанообъектам (типа квантовых точек, квантовых нитей и т. п.) несовершенства, которые необходимо учитывать при разработке наноструктурных материалов, предназначенных для использования в микроэлектронике, термоэлектропреобразователях нового поколения, а также в других областях электронной техники. This paper analyzes peculiar to nanoobjects (quantum dots, quantum wires, etc.) imperfections that must be taken into account in the development of nanostructured material intended for use in microelectronics, thermoelectric converters of new generation, as well as in other fields of electronic engineering.
ISSN:1726-7714