Review of Graphene Properties in View of its Use as a Substrate for Matrix-Free Mass Spectrometry

Short review of the graphene basic properties is given. This material is discussed, in particular, as a possible ionization support for mass spectrometry. The attention is paid to the possible role of intrinsic and deliberately induced structural defects in electronic and chemical properties of grap...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Хімія, фізика та технологія поверхні
Дата:2010
Автори: Gabovich, V.A., Pokrovskiy, V.A.
Формат: Стаття
Мова:Англійська
Опубліковано: Інститут хімії поверхні ім. О.О. Чуйка НАН України 2010
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/28999
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Review of Graphene Properties in View of its Use as a Substrate for Matrix-Free Mass Spectrometry / V.A. Gabovich, V.A. Pokrovskiy // Хімія, фізика та технологія поверхні. — 2010. — Т. 1, № 3. — С. 312-314. — Бібліогр.: 15 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862671510015049728
author Gabovich, V.A.
Pokrovskiy, V.A.
author_facet Gabovich, V.A.
Pokrovskiy, V.A.
citation_txt Review of Graphene Properties in View of its Use as a Substrate for Matrix-Free Mass Spectrometry / V.A. Gabovich, V.A. Pokrovskiy // Хімія, фізика та технологія поверхні. — 2010. — Т. 1, № 3. — С. 312-314. — Бібліогр.: 15 назв. — англ.
collection DSpace DC
container_title Хімія, фізика та технологія поверхні
description Short review of the graphene basic properties is given. This material is discussed, in particular, as a possible ionization support for mass spectrometry. The attention is paid to the possible role of intrinsic and deliberately induced structural defects in electronic and chemical properties of graphene substrates. Представлено короткий огляд основних властивостей графену. Цей матеріал розглядається з точки зору можливого використання як підкладки для мас-спектрометричних досліджень. Також розглянуто вплив природних та штучно створених дефектів на електронні та хімічні властивості графенових структур. Представлен краткий обзор основных свойств графена. Этот материал рассматривается с точки зрения возможного использования в качестве подложки при масс-спектрометрических исследованиях. Также рассмотрена роль естественных и искусственно созданных дефектов в электронных и химических свойствах графеновых структур.
first_indexed 2025-12-07T15:33:05Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-28999
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 2079-1704
language English
last_indexed 2025-12-07T15:33:05Z
publishDate 2010
publisher Інститут хімії поверхні ім. О.О. Чуйка НАН України
record_format dspace
spelling Gabovich, V.A.
Pokrovskiy, V.A.
2011-11-27T17:32:32Z
2011-11-27T17:32:32Z
2010
Review of Graphene Properties in View of its Use as a Substrate for Matrix-Free Mass Spectrometry / V.A. Gabovich, V.A. Pokrovskiy // Хімія, фізика та технологія поверхні. — 2010. — Т. 1, № 3. — С. 312-314. — Бібліогр.: 15 назв. — англ.
2079-1704
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/28999
537.9
Short review of the graphene basic properties is given. This material is discussed, in particular, as a possible ionization support for mass spectrometry. The attention is paid to the possible role of intrinsic and deliberately induced structural defects in electronic and chemical properties of graphene substrates.
Представлено короткий огляд основних властивостей графену. Цей матеріал розглядається з точки зору можливого використання як підкладки для мас-спектрометричних досліджень. Також розглянуто вплив природних та штучно створених дефектів на електронні та хімічні властивості графенових структур.
Представлен краткий обзор основных свойств графена. Этот материал рассматривается с точки зрения возможного использования в качестве подложки при масс-спектрометрических исследованиях. Также рассмотрена роль естественных и искусственно созданных дефектов в электронных и химических свойствах графеновых структур.
en
Інститут хімії поверхні ім. О.О. Чуйка НАН України
Хімія, фізика та технологія поверхні
Неорганічні та вуглецеві наноматеріали і наносистеми
Review of Graphene Properties in View of its Use as a Substrate for Matrix-Free Mass Spectrometry
Огляд властивостей графену в зв’язку з його використанням як підкладки для безматричної мас-спектрометрії
Обзор свойств графена в связи с его использованием как подложки для безматричной масс-спектрометрии
Article
published earlier
spellingShingle Review of Graphene Properties in View of its Use as a Substrate for Matrix-Free Mass Spectrometry
Gabovich, V.A.
Pokrovskiy, V.A.
Неорганічні та вуглецеві наноматеріали і наносистеми
title Review of Graphene Properties in View of its Use as a Substrate for Matrix-Free Mass Spectrometry
title_alt Огляд властивостей графену в зв’язку з його використанням як підкладки для безматричної мас-спектрометрії
Обзор свойств графена в связи с его использованием как подложки для безматричной масс-спектрометрии
title_full Review of Graphene Properties in View of its Use as a Substrate for Matrix-Free Mass Spectrometry
title_fullStr Review of Graphene Properties in View of its Use as a Substrate for Matrix-Free Mass Spectrometry
title_full_unstemmed Review of Graphene Properties in View of its Use as a Substrate for Matrix-Free Mass Spectrometry
title_short Review of Graphene Properties in View of its Use as a Substrate for Matrix-Free Mass Spectrometry
title_sort review of graphene properties in view of its use as a substrate for matrix-free mass spectrometry
topic Неорганічні та вуглецеві наноматеріали і наносистеми
topic_facet Неорганічні та вуглецеві наноматеріали і наносистеми
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/28999
work_keys_str_mv AT gabovichva reviewofgraphenepropertiesinviewofitsuseasasubstrateformatrixfreemassspectrometry
AT pokrovskiyva reviewofgraphenepropertiesinviewofitsuseasasubstrateformatrixfreemassspectrometry
AT gabovichva oglâdvlastivosteigrafenuvzvâzkuziogovikoristannâmâkpídkladkidlâbezmatričnoímasspektrometríí
AT pokrovskiyva oglâdvlastivosteigrafenuvzvâzkuziogovikoristannâmâkpídkladkidlâbezmatričnoímasspektrometríí
AT gabovichva obzorsvoistvgrafenavsvâzisegoispolʹzovaniemkakpodložkidlâbezmatričnoimassspektrometrii
AT pokrovskiyva obzorsvoistvgrafenavsvâzisegoispolʹzovaniemkakpodložkidlâbezmatričnoimassspektrometrii