Солонін, Ю., & Грайворонська, К. (2010). Дослідження особливостей структури границь в плівках С60 методом електронної мікроскопії високої роздільної здатності (ЕМВРЗ). Доповіді НАН України.
Chicago Style (17th ed.) CitationСолонін, Ю.М, and К.О Грайворонська. "Дослідження особливостей структури границь в плівках С60 методом електронної мікроскопії високої роздільної здатності (ЕМВРЗ)." Доповіді НАН України 2010.
MLA (8th ed.) CitationСолонін, Ю.М, and К.О Грайворонська. "Дослідження особливостей структури границь в плівках С60 методом електронної мікроскопії високої роздільної здатності (ЕМВРЗ)." Доповіді НАН України, 2010.
Warning: These citations may not always be 100% accurate.