Солонін, Ю., & Грайворонська, К. (2010). Дослідження особливостей структури границь в плівках С60 методом електронної мікроскопії високої роздільної здатності (ЕМВРЗ). Доповіді НАН України.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Солонін, Ю.М, та К.О Грайворонська. "Дослідження особливостей структури границь в плівках С60 методом електронної мікроскопії високої роздільної здатності (ЕМВРЗ)." Доповіді НАН України 2010.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Солонін, Ю.М, та К.О Грайворонська. "Дослідження особливостей структури границь в плівках С60 методом електронної мікроскопії високої роздільної здатності (ЕМВРЗ)." Доповіді НАН України, 2010.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.