Дослідження особливостей структури границь в плівках С60 методом електронної мікроскопії високої роздільної здатності (ЕМВРЗ)
Методом електронної мiкроскопiї високої роздiльної здатностi (ЕМВРЗ) у суцiльних плiвках фулериту C60 встановлено iснування двох типiв границь мiж кристалiтами. По-перше, це практично iдеальнi когерентнi границi мiж двiйниками. По-друге, некогерентнi границi, що iнiцiюють утворення множинних дефектi...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Доповіді НАН України |
|---|---|
| Datum: | 2010 |
| Hauptverfasser: | , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Ukrainisch |
| Veröffentlicht: |
Видавничий дім "Академперіодика" НАН України
2010
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/29833 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Дослідження особливостей структури границь в плівках С60 методом електронної мікроскопії високої роздільної здатності (ЕМВРЗ) / Ю.М. Солонiн, К.О. Грайворонська // Доп. НАН України. — 2010. — № 6. — С. 97-102. — Бібліогр.: 4 назв. — укр. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862704767646564352 |
|---|---|
| author | Солонін, Ю.М. Грайворонська, К.О. |
| author_facet | Солонін, Ю.М. Грайворонська, К.О. |
| citation_txt | Дослідження особливостей структури границь в плівках С60 методом електронної мікроскопії високої роздільної здатності (ЕМВРЗ) / Ю.М. Солонiн, К.О. Грайворонська // Доп. НАН України. — 2010. — № 6. — С. 97-102. — Бібліогр.: 4 назв. — укр. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Доповіді НАН України |
| description | Методом електронної мiкроскопiї високої роздiльної здатностi (ЕМВРЗ) у суцiльних плiвках фулериту C60 встановлено iснування двох типiв границь мiж кристалiтами. По-перше, це практично iдеальнi когерентнi границi мiж двiйниками. По-друге, некогерентнi границi, що iнiцiюють утворення множинних дефектiв пакування в одному iз прилеглих зерен.
By means of high resolution electron microscopy (HREM), two types of crystallite boundaries are found in fullerite C60 thin films: practically ideal coherent boundaries between twins and incoherent boundaries initiating the formation of multiple stacking faults in one of the adjacent grains.
|
| first_indexed | 2025-12-07T16:52:18Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-29833 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1025-6415 |
| language | Ukrainian |
| last_indexed | 2025-12-07T16:52:18Z |
| publishDate | 2010 |
| publisher | Видавничий дім "Академперіодика" НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Солонін, Ю.М. Грайворонська, К.О. 2012-01-06T10:52:39Z 2012-01-06T10:52:39Z 2010 Дослідження особливостей структури границь в плівках С60 методом електронної мікроскопії високої роздільної здатності (ЕМВРЗ) / Ю.М. Солонiн, К.О. Грайворонська // Доп. НАН України. — 2010. — № 6. — С. 97-102. — Бібліогр.: 4 назв. — укр. 1025-6415 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/29833 539.25:620.187 Методом електронної мiкроскопiї високої роздiльної здатностi (ЕМВРЗ) у суцiльних плiвках фулериту C60 встановлено iснування двох типiв границь мiж кристалiтами. По-перше, це практично iдеальнi когерентнi границi мiж двiйниками. По-друге, некогерентнi границi, що iнiцiюють утворення множинних дефектiв пакування в одному iз прилеглих зерен. By means of high resolution electron microscopy (HREM), two types of crystallite boundaries are found in fullerite C60 thin films: practically ideal coherent boundaries between twins and incoherent boundaries initiating the formation of multiple stacking faults in one of the adjacent grains. uk Видавничий дім "Академперіодика" НАН України Доповіді НАН України Матеріалознавство Дослідження особливостей структури границь в плівках С60 методом електронної мікроскопії високої роздільної здатності (ЕМВРЗ) The investigation of peculiarities of structure of boundaries in С60 films by high resolution electron microscopy (HREM) Article published earlier |
| spellingShingle | Дослідження особливостей структури границь в плівках С60 методом електронної мікроскопії високої роздільної здатності (ЕМВРЗ) Солонін, Ю.М. Грайворонська, К.О. Матеріалознавство |
| title | Дослідження особливостей структури границь в плівках С60 методом електронної мікроскопії високої роздільної здатності (ЕМВРЗ) |
| title_alt | The investigation of peculiarities of structure of boundaries in С60 films by high resolution electron microscopy (HREM) |
| title_full | Дослідження особливостей структури границь в плівках С60 методом електронної мікроскопії високої роздільної здатності (ЕМВРЗ) |
| title_fullStr | Дослідження особливостей структури границь в плівках С60 методом електронної мікроскопії високої роздільної здатності (ЕМВРЗ) |
| title_full_unstemmed | Дослідження особливостей структури границь в плівках С60 методом електронної мікроскопії високої роздільної здатності (ЕМВРЗ) |
| title_short | Дослідження особливостей структури границь в плівках С60 методом електронної мікроскопії високої роздільної здатності (ЕМВРЗ) |
| title_sort | дослідження особливостей структури границь в плівках с60 методом електронної мікроскопії високої роздільної здатності (емврз) |
| topic | Матеріалознавство |
| topic_facet | Матеріалознавство |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/29833 |
| work_keys_str_mv | AT solonínûm doslídžennâosoblivosteistrukturigranicʹvplívkahs60metodomelektronnoímíkroskopíívisokoírozdílʹnoízdatnostíemvrz AT graivoronsʹkako doslídžennâosoblivosteistrukturigranicʹvplívkahs60metodomelektronnoímíkroskopíívisokoírozdílʹnoízdatnostíemvrz AT solonínûm theinvestigationofpeculiaritiesofstructureofboundariesins60filmsbyhighresolutionelectronmicroscopyhrem AT graivoronsʹkako theinvestigationofpeculiaritiesofstructureofboundariesins60filmsbyhighresolutionelectronmicroscopyhrem |