Розв'язання оберненої задачі дифракції через реконструкцію матриці розсіювання в обмеженому частотному діапазоні
Запропоновано метод визначення проникності та товщини шарів плоскошаруватого діелектрика за відомими значеннями коефіцієнта відбиття плоскої електромагнітної хвилі. В основу методу покладено реконструкцію частотної залежності всіх елементів матриці розсіювання в обмеженому діапазоні частот. Високу т...
Gespeichert in:
| Datum: | 2010 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Ukrainian |
| Veröffentlicht: |
Видавничий дім "Академперіодика" НАН України
2010
|
| Schriftenreihe: | Доповіді НАН України |
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/30700 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Розв'язання оберненої задачі дифракції через реконструкцію матриці розсіювання в обмеженому частотному діапазоні / З.Т. Назарчук, А.Т. Синявський // Доп. НАН України. — 2010. — № 10. — С. 61-67. — Бібліогр.: 11 назв. — укр. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Zusammenfassung: | Запропоновано метод визначення проникності та товщини шарів плоскошаруватого діелектрика за відомими значеннями коефіцієнта відбиття плоскої електромагнітної хвилі. В основу методу покладено реконструкцію частотної залежності всіх елементів матриці розсіювання в обмеженому діапазоні частот. Високу точність обчислення досягнуто за рахунок ідентифікації спектральних коефіцієнтів, які виділено з елементів матриці розсіювання та описано скінченним рядом незатухаючих комплексних експонент. |
|---|