Частота аберацій хромосом у осіб різного віку, які проживають у Києві

За допомогою G-диференційного забарвлення метафазних хромосом проведено цитогенетичне обстеження дітей віком від 12 до 16 років і дорослих віком від 27 до 48 років, які постійно проживали в Києві, заперечували свідомий контакт з іонізуючою радіацією та іншими мутагенами, вели здоровий спосіб життя....

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Доповіді НАН України
Дата:2010
Автори: Талан, О.О., Шеметун, О.В.
Формат: Стаття
Мова:Українська
Опубліковано: Видавничий дім "Академперіодика" НАН України 2010
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/30781
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Частота аберацій хромосом у осіб різного віку, які проживають у Києві / О.О. Талан, О.В. Шеметун // Доп. НАН України. — 2010. — № 11. — С. 148-152. — Бібліогр.: 15 назв. — укр.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:За допомогою G-диференційного забарвлення метафазних хромосом проведено цитогенетичне обстеження дітей віком від 12 до 16 років і дорослих віком від 27 до 48 років, які постійно проживали в Києві, заперечували свідомий контакт з іонізуючою радіацією та іншими мутагенами, вели здоровий спосіб життя. Відмічено зростання рівня аберацій хромосом у дорослих осіб (2,51±0,34 на 100 метафаз) порівняно з групою дітей (1,26±0,28 на 100 клітин), за рахунок транслокацій і делецій хромосом. Cytogenetic examination of two healthy human groups (children 12–16 years old and adults 27–48 years old constantly lived in Kyiv and denied a deliberated contact with known and suspected mutagens) is carried out with the help of the G-banding analysis. The increased level of chromosome aberrations in the group of adults (2.51±0.34 per 100 cells) has been established in comparison with the group of children (1.26±0.28 per 100 cells) due to translocations and deletions.
ISSN:1025-6415