Особливостi струмових нестабiльностей фосфiдо-галiєвих свiтлодiодiв, опромiнених нейтронами
GaP LEDs with atypical current characteristics are studied by optical and electrical methods. The thin structure of an S-shaped NDR region which appears in the current-voltage characteristics at low temperatures (100–77 K) after irradiation has become more expressive and possesses the higher oscil...
Saved in:
| Date: | 2008 |
|---|---|
| Main Authors: | , , , , , , |
| Format: | Article |
| Language: | Ukrainian |
| Published: |
Видавничий дім "Академперіодика" НАН України
2008
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/4125 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Особливостi струмових нестабiльностей фосфiдо-галiєвих свiтлодiодiв, опромiнених нейтронами / О.В. Конорева, В.Ф. Ластовецький, П. Г. Литовченко, В.Я. Опилат, Ю. Г. Гришин, I.В. Петренко, М.Б. Пiнковська, В.П. Тартачник // Доп. НАН України. — 2008. — № 3. — С. 71-76. — Бібліогр.: 9 назв. — укp. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-4125 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
Конорева, О.В. Ластовецький, В.Ф. Ластовецький, В.Ф. Опилат, В.Я. Гришин, Ю. Г. Петренко, I.В. Пiнковська, М.Б. Тартачник, В.П. 2009-07-16T08:24:01Z 2009-07-16T08:24:01Z 2008 Особливостi струмових нестабiльностей фосфiдо-галiєвих свiтлодiодiв, опромiнених нейтронами / О.В. Конорева, В.Ф. Ластовецький, П. Г. Литовченко, В.Я. Опилат, Ю. Г. Гришин, I.В. Петренко, М.Б. Пiнковська, В.П. Тартачник // Доп. НАН України. — 2008. — № 3. — С. 71-76. — Бібліогр.: 9 назв. — укp. 1025-6415 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/4125 538.935 GaP LEDs with atypical current characteristics are studied by optical and electrical methods. The thin structure of an S-shaped NDR region which appears in the current-voltage characteristics at low temperatures (100–77 K) after irradiation has become more expressive and possesses the higher oscillation amplitude. The high destructive influence of fast neutrons on the emitting recombination is caused by two factors: the electrical fields of radiation defects and the capture of charged carriers by their levels. uk Видавничий дім "Академперіодика" НАН України Фізика Особливостi струмових нестабiльностей фосфiдо-галiєвих свiтлодiодiв, опромiнених нейтронами Article published earlier |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| title |
Особливостi струмових нестабiльностей фосфiдо-галiєвих свiтлодiодiв, опромiнених нейтронами |
| spellingShingle |
Особливостi струмових нестабiльностей фосфiдо-галiєвих свiтлодiодiв, опромiнених нейтронами Конорева, О.В. Ластовецький, В.Ф. Ластовецький, В.Ф. Опилат, В.Я. Гришин, Ю. Г. Петренко, I.В. Пiнковська, М.Б. Тартачник, В.П. Фізика |
| title_short |
Особливостi струмових нестабiльностей фосфiдо-галiєвих свiтлодiодiв, опромiнених нейтронами |
| title_full |
Особливостi струмових нестабiльностей фосфiдо-галiєвих свiтлодiодiв, опромiнених нейтронами |
| title_fullStr |
Особливостi струмових нестабiльностей фосфiдо-галiєвих свiтлодiодiв, опромiнених нейтронами |
| title_full_unstemmed |
Особливостi струмових нестабiльностей фосфiдо-галiєвих свiтлодiодiв, опромiнених нейтронами |
| title_sort |
особливостi струмових нестабiльностей фосфiдо-галiєвих свiтлодiодiв, опромiнених нейтронами |
| author |
Конорева, О.В. Ластовецький, В.Ф. Ластовецький, В.Ф. Опилат, В.Я. Гришин, Ю. Г. Петренко, I.В. Пiнковська, М.Б. Тартачник, В.П. |
| author_facet |
Конорева, О.В. Ластовецький, В.Ф. Ластовецький, В.Ф. Опилат, В.Я. Гришин, Ю. Г. Петренко, I.В. Пiнковська, М.Б. Тартачник, В.П. |
| topic |
Фізика |
| topic_facet |
Фізика |
| publishDate |
2008 |
| language |
Ukrainian |
| publisher |
Видавничий дім "Академперіодика" НАН України |
| format |
Article |
| description |
GaP LEDs with atypical current characteristics are studied by optical and electrical methods.
The thin structure of an S-shaped NDR region which appears in the current-voltage characteristics at low temperatures (100–77 K) after irradiation has become more expressive and possesses
the higher oscillation amplitude. The high destructive influence of fast neutrons on the emitting
recombination is caused by two factors: the electrical fields of radiation defects and the capture
of charged carriers by their levels.
|
| issn |
1025-6415 |
| url |
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/4125 |
| citation_txt |
Особливостi струмових нестабiльностей фосфiдо-галiєвих свiтлодiодiв, опромiнених нейтронами / О.В. Конорева, В.Ф. Ластовецький, П. Г. Литовченко, В.Я. Опилат, Ю. Г. Гришин, I.В. Петренко, М.Б. Пiнковська, В.П. Тартачник // Доп. НАН України. — 2008. — № 3. — С. 71-76. — Бібліогр.: 9 назв. — укp. |
| work_keys_str_mv |
AT konorevaov osoblivostistrumovihnestabilʹnosteifosfidogaliêvihsvitlodiodivoprominenihneitronami AT lastovecʹkiivf osoblivostistrumovihnestabilʹnosteifosfidogaliêvihsvitlodiodivoprominenihneitronami AT lastovecʹkiivf osoblivostistrumovihnestabilʹnosteifosfidogaliêvihsvitlodiodivoprominenihneitronami AT opilatvâ osoblivostistrumovihnestabilʹnosteifosfidogaliêvihsvitlodiodivoprominenihneitronami AT grišinûg osoblivostistrumovihnestabilʹnosteifosfidogaliêvihsvitlodiodivoprominenihneitronami AT petrenkoiv osoblivostistrumovihnestabilʹnosteifosfidogaliêvihsvitlodiodivoprominenihneitronami AT pinkovsʹkamb osoblivostistrumovihnestabilʹnosteifosfidogaliêvihsvitlodiodivoprominenihneitronami AT tartačnikvp osoblivostistrumovihnestabilʹnosteifosfidogaliêvihsvitlodiodivoprominenihneitronami |
| first_indexed |
2025-12-07T20:24:29Z |
| last_indexed |
2025-12-07T20:24:29Z |
| _version_ |
1850882464643284992 |