Внутренний размерный эффект плавления в слоистых пленочных системах эвтектического типа

• Дата: 2008
• Автори: Сухов, В.Н., Чурилов, И.Г.
• Формат: Стаття
• Мова: Російська
• Опубліковано: Інститут проблем матеріалознавства ім. І. М. Францевича НАН України 2008
• Теми: Поверхностные свойства расплавов и твердых тел, смачивание, адгезия
• Онлайн доступ: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/4371
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Внутренний размерный эффект плавления в слоистых пленочных системах эвтектического типа / В. Н. Сухов, И. Г. Чурилов // Адгезия расплавов и пайка материалов. — 2008. — № 41. — С. 9-14. — Бібліогр.: 6 назв. — рус.

Изложены результаты исследования температуры плавления в двух- и многослойных
 пленочных системах эвтектического типа большой толщины (~400 нм) на примере системы
 Bi-Sn. Эксперименты, проведенные с многослойными (каждый слой по 10-20 нм) и
 двухслойными системами (слои ~200 нм) одинаковой общей толщины, показали
 понижение температуры плавления в многослойных системах по сравнению с
 двухслойными. На основе термодинамического анализа установлено, что обнаруженное в
 слоистых пленочных системах понижение температуры эвтектического плавления
 определяется общей толщиной двух контактирующих пленок и энергией их границ.------------------ Викладено результати дослідження температури плавлення дво- та багатошаро-
 вої плівкових систем евтектичного типу великої товщини (~400 нм) на прикладі системи
 Bi-Sn. Експерименти, що проведені з багатошаровими (кожен шар по 10-20 нм) і дво-
 шаровими системами (шари ~200 нм) однакової спільної товщини, показали зниження
 температури плавлення в багатошарових системах в порівнянні з двошаровими. На основі
 термодинамічного аналізу показано, що встановлене зниження температури евтектичного
 плавлення визначається загальною товщиною двох тонких контактуючих плівок та
 енергією їх границь.------------------------- This article presents results of the investigation of the melting processes in thick (400 nm) Bi¾Sn
 eutectic bi- and multi-layer systems. Measurements of multilayer system (layer thickness 10-
 20 nm) and bilayer system (layers thickness 200 nm) of similar total sickness have demonstrated
 that eutectic melting temperature for a multiplayer system is lower than for a bilayer system.
 Thermodynamic analysis has shown that temperature reduction depends on total thickness of the
 neighboring layers and layers boundary energy.