Корреляционные индикаторы микроизменений в технических состояниях объектов контроля

Показано складність індикації початкового періоду змін технічного стану об’єктів із-за динаміки і зміни характеристик сигналів, отриманих на виходах відповідних датчиків. Запропоновано технології визначення оцінок кореляційних завадоіндикаторів, що забез-печують надійну реакцію на появу дефектів на...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Кибернетика и системный анализ
Date:2009
ISSN:0023-1274
Main Authors: Алиев, Т.А., Гулиев, Г.А., Рзаев, А.Г., Пашаев, Ф.Г.
Format: Article
Language:Russian
Published: Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України 2009
Subjects:
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/44393
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Корреляционные индикаторы микроизменений в технических состояниях объектов контроля / Т.А. Алиев, Г.А. Гулиев, А.Г. Рзаев, Ф.Г. Пашаев // Кибернетика и системный анализ. — 2009. — № 4. — С. 169-178. — Бібліогр.: 13 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Description
Summary:Показано складність індикації початкового періоду змін технічного стану об’єктів із-за динаміки і зміни характеристик сигналів, отриманих на виходах відповідних датчиків. Запропоновано технології визначення оцінок кореляційних завадоіндикаторів, що забез-печують надійну реакцію на появу дефектів на початку їх зародження. Цей ефект досягається за рахунок надлишково-частотного аналізу, який сприяє отриманню додаткової інформації, що несе в собі як корисний сигнал, так і заваду. The paper shows that due to the dynamics and changed characteristics of signals received from output sensors, there are some difficulties in indicating the initial period of changing the technical conditions of objects. Technologies are proposed to estimate correlated noise indicators, which provide a reliable reaction to incipient defects. This effect is achieved due to the excess-frequency analysis, which allows extracting additional information from both a legitimate signal and noise.
ISSN:0023-1274