Корреляционные индикаторы микроизменений в технических состояниях объектов контроля
Показано складність індикації початкового періоду змін технічного стану об’єктів із-за динаміки і зміни характеристик сигналів, отриманих на виходах відповідних датчиків. Запропоновано технології визначення оцінок кореляційних завадоіндикаторів, що забез-печують надійну реакцію на появу дефектів на...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Кибернетика и системный анализ |
|---|---|
| Datum: | 2009 |
| Hauptverfasser: | , , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russisch |
| Veröffentlicht: |
Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України
2009
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/44393 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Корреляционные индикаторы микроизменений в технических состояниях объектов контроля / Т.А. Алиев, Г.А. Гулиев, А.Г. Рзаев, Ф.Г. Пашаев // Кибернетика и системный анализ. — 2009. — № 4. — С. 169-178. — Бібліогр.: 13 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Zusammenfassung: | Показано складність індикації початкового періоду змін технічного стану об’єктів із-за динаміки і зміни характеристик сигналів, отриманих на виходах відповідних датчиків. Запропоновано технології визначення оцінок кореляційних завадоіндикаторів, що забез-печують надійну реакцію на появу дефектів на початку їх зародження. Цей ефект досягається за рахунок надлишково-частотного аналізу, який сприяє отриманню додаткової інформації, що несе в собі як корисний сигнал, так і заваду.
The paper shows that due to the dynamics and changed characteristics of signals received from output sensors, there are some difficulties in indicating the initial period of changing the technical conditions of objects. Technologies are proposed to estimate correlated noise indicators, which provide a reliable reaction to incipient defects. This effect is achieved due to the excess-frequency analysis, which allows extracting additional information from both a legitimate signal and noise.
|
|---|---|
| ISSN: | 0023-1274 |