Способы локализации и идентификации элементов электрических устройств в задачах диагностики

Рассмотрена задача локализации структурных неисправностей, которые изменяют функционирование одного из звеньев электрического устройства с ограниченным доступом. Показано, что сочетание методов локализации неисправностей и параметрической идентификации позволяют с приемлемой глубиной диагностировани...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Математичне та комп'ютерне моделювання. Серія: Технічні науки
Datum:2012
1. Verfasser: Верлань, А.А.
Format: Artikel
Sprache:Russian
Veröffentlicht: Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України 2012
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/47253
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Способы локализации и идентификации элементов электрических устройств в задачах диагностики / А.А. Верлань // Математичне та комп'ютерне моделювання. Серія: Технічні науки: зб. наук. пр. — Кам’янець-Подільський: Кам'янець-Подільськ. нац. ун-т, 2012. — Вип. 7. — С. 20-27. — Бібліогр.: 7 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Beschreibung
Zusammenfassung:Рассмотрена задача локализации структурных неисправностей, которые изменяют функционирование одного из звеньев электрического устройства с ограниченным доступом. Показано, что сочетание методов локализации неисправностей и параметрической идентификации позволяют с приемлемой глубиной диагностирования определить место неисправности и оценить значение параметра неисправного элемента. The problem of localization of structural defects that alter the functioning of one of the parts of an electrical device with limited access. It is shown that a combination of the faults localization and the parametric identification methods allow with a reasonable diagnostics depth to determine the fault location and assess the value of the faulty element parameter.
ISSN:XXXX-0060