Физическое обоснование возможности использования монокристальных сенсоров для анализа деформационной поврежденности элементов конструкций

Показано, что с помощью качественного и количественного (фрактального) анализа панорам деформационного рельефа монокристального сенсора определенной кристаллографической ориентации, жестко скрепленного с механически нагружаемым объектом, можно обнаружить локализацию повреждения как в макроскоп...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Проблемы прочности
Дата:2006
Автори: Засимчук, Е.Э., Гордиенко, Ю.Г, Гонтарева, Р.Г.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Інститут проблем міцності ім. Г.С. Писаренко НАН України 2006
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/47840
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Физическое обоснование возможности использования монокристальных сенсоров для анализа деформационной поврежденности элементов конструкций / Е.Э. Засимчук, Ю.Г. Гордиенко, Р.Г. Гонтарева // Проблемы прочности. — 2006. — № 2. — С. 93-104. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine