Creep-induced structural changes in Ni-Si-B amorphous alloy
The influence of the stress annealing on the reversible structural relaxation of a Ni-Si-B amorphous ribbon was studied. Creep-induced structural changes in the amorphous structure were derived from anisothermal DSC and dilatometric experiments. It is demonstrated that considerable enthalpy and spec...
Saved in:
| Published in: | Проблемы прочности |
|---|---|
| Date: | 2008 |
| Main Authors: | , , , |
| Format: | Article |
| Language: | English |
| Published: |
Інститут проблем міцності ім. Г.С. Писаренко НАН України
2008
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/48414 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Creep-induced structural changes in Ni-Si-B amorphous alloy / A. Jurikova, J. Miskuf, K. Csach, V. Ocelik // Проблемы прочности. — 2008. — № 1. — С. 24-27. — Бібліогр.: 11 назв. — англ. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Summary: | The influence of the stress annealing on the reversible structural relaxation of a Ni-Si-B amorphous ribbon was studied. Creep-induced structural changes in the amorphous structure were derived from anisothermal DSC and dilatometric experiments. It is demonstrated that considerable enthalpy and specimen length variations associated with the reversible structural relaxation are observed after previous creep at higher temperatures.
Исследовано влияние отжига под напряжением на обратимую структурную релаксацию полоски аморфного сплава Ni-Si-B. Изменения аморфной структуры, вызванные ползучестью, исследовались экспериментально с использованием дифференциальной сканирующей калориметрии в неизотермических условиях и дилатометрии. Показано, что значительные изменения энтальпии и длины, связанные с обратимой структурной релаксацией, наблюдаются после предварительной ползучести при повышенной температуре.
|
|---|---|
| ISSN: | 0556-171X |