Creep-induced structural changes in Ni-Si-B amorphous alloy

The influence of the stress annealing on the reversible structural relaxation of a Ni-Si-B amorphous ribbon was studied. Creep-induced structural changes in the amorphous structure were derived from anisothermal DSC and dilatometric experiments. It is demonstrated that considerable enthalpy and spec...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Проблемы прочности
Дата:2008
Автори: Jurikova, A., Miskuf, J., Csach, K., Ocelik, V.
Формат: Стаття
Мова:Англійська
Опубліковано: Інститут проблем міцності ім. Г.С. Писаренко НАН України 2008
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/48414
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Creep-induced structural changes in Ni-Si-B amorphous alloy / A. Jurikova, J. Miskuf, K. Csach, V. Ocelik // Проблемы прочности. — 2008. — № 1. — С. 24-27. — Бібліогр.: 11 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:The influence of the stress annealing on the reversible structural relaxation of a Ni-Si-B amorphous ribbon was studied. Creep-induced structural changes in the amorphous structure were derived from anisothermal DSC and dilatometric experiments. It is demonstrated that considerable enthalpy and specimen length variations associated with the reversible structural relaxation are observed after previous creep at higher temperatures. Исследовано влияние отжига под напряжением на обратимую структурную релаксацию полоски аморфного сплава Ni-Si-B. Изменения аморфной структуры, вызванные ползучестью, исследовались экспериментально с использованием дифференциальной сканирующей калориметрии в неизотермических условиях и дилатометрии. Показано, что значительные изменения энтальпии и длины, связанные с обратимой структурной релаксацией, наблюдаются после предварительной ползучести при повышенной температуре.
ISSN:0556-171X