Creep-induced structural changes in Ni-Si-B amorphous alloy

The influence of the stress annealing on the reversible structural relaxation of a Ni-Si-B amorphous ribbon was studied. Creep-induced structural changes in the amorphous structure were derived from anisothermal DSC and dilatometric experiments. It is demonstrated that considerable enthalpy and spec...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Проблемы прочности
Date:2008
Main Authors: Jurikova, A., Miskuf, J., Csach, K., Ocelik, V.
Format: Article
Language:English
Published: Інститут проблем міцності ім. Г.С. Писаренко НАН України 2008
Subjects:
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/48414
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Creep-induced structural changes in Ni-Si-B amorphous alloy / A. Jurikova, J. Miskuf, K. Csach, V. Ocelik // Проблемы прочности. — 2008. — № 1. — С. 24-27. — Бібліогр.: 11 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Description
Summary:The influence of the stress annealing on the reversible structural relaxation of a Ni-Si-B amorphous ribbon was studied. Creep-induced structural changes in the amorphous structure were derived from anisothermal DSC and dilatometric experiments. It is demonstrated that considerable enthalpy and specimen length variations associated with the reversible structural relaxation are observed after previous creep at higher temperatures. Исследовано влияние отжига под напряжением на обратимую структурную релаксацию полоски аморфного сплава Ni-Si-B. Изменения аморфной структуры, вызванные ползучестью, исследовались экспериментально с использованием дифференциальной сканирующей калориметрии в неизотермических условиях и дилатометрии. Показано, что значительные изменения энтальпии и длины, связанные с обратимой структурной релаксацией, наблюдаются после предварительной ползучести при повышенной температуре.
ISSN:0556-171X