Поляриметрия подложек компакт-дисков

Приведены результаты экспериментальных исследований анизотропии подложек оптических дисковых накопителей информации методом полной Мюллер-поляриметрии. Показано, что значения двулучепреломления в подложках компакт-дисков, изготовленных из поликарбоната, сильно зависят от условий изготовления. Провед...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Реєстрація, зберігання і обробка даних
Дата:2005
Автори: Савенков, С.Н., Крючин, А.А., Оберемок, Е.А., Якубчак, В.В.
Формат: Стаття
Мова:Російська
Опубліковано: Інститут проблем реєстрації інформації НАН України 2005
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/50783
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Поляриметрия подложек компакт-дисков / С.Н. Савенков, A.A. Крючин, E.A. Оберемок, В.В. Якубчак // Реєстрація, зберігання і оброб. даних. — 2005. — Т. 7, № 4. — С. 3-13. — Бібліогр.: 8 назв. — pос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862708600959401984
author Савенков, С.Н.
Крючин, А.А.
Оберемок, Е.А.
Якубчак, В.В.
author_facet Савенков, С.Н.
Крючин, А.А.
Оберемок, Е.А.
Якубчак, В.В.
citation_txt Поляриметрия подложек компакт-дисков / С.Н. Савенков, A.A. Крючин, E.A. Оберемок, В.В. Якубчак // Реєстрація, зберігання і оброб. даних. — 2005. — Т. 7, № 4. — С. 3-13. — Бібліогр.: 8 назв. — pос.
collection DSpace DC
container_title Реєстрація, зберігання і обробка даних
description Приведены результаты экспериментальных исследований анизотропии подложек оптических дисковых накопителей информации методом полной Мюллер-поляриметрии. Показано, что значения двулучепреломления в подложках компакт-дисков, изготовленных из поликарбоната, сильно зависят от условий изготовления. Проведенные исследования показали, что анизотропия в подложках, выполненных из монокристаллического сапфира существенно меньше. The results of experimental investigations for anisotropy of optical disk information storage substrates by total Muller polarimetry method are given. It is shown that values of birefringence in CD substrates manufactured from polycarbonate depend strongly on manufacturing conditions. The conducted investigations have shown that anisotropy in substrates made from monocrystal sapphire is substantially lower.
first_indexed 2025-12-07T17:11:54Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-50783
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 1560-9189
language Russian
last_indexed 2025-12-07T17:11:54Z
publishDate 2005
publisher Інститут проблем реєстрації інформації НАН України
record_format dspace
spelling Савенков, С.Н.
Крючин, А.А.
Оберемок, Е.А.
Якубчак, В.В.
2013-11-02T23:40:36Z
2013-11-02T23:40:36Z
2005
Поляриметрия подложек компакт-дисков / С.Н. Савенков, A.A. Крючин, E.A. Оберемок, В.В. Якубчак // Реєстрація, зберігання і оброб. даних. — 2005. — Т. 7, № 4. — С. 3-13. — Бібліогр.: 8 назв. — pос.
1560-9189
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/50783
004.085
Приведены результаты экспериментальных исследований анизотропии подложек оптических дисковых накопителей информации методом полной Мюллер-поляриметрии. Показано, что значения двулучепреломления в подложках компакт-дисков, изготовленных из поликарбоната, сильно зависят от условий изготовления. Проведенные исследования показали, что анизотропия в подложках, выполненных из монокристаллического сапфира существенно меньше.
The results of experimental investigations for anisotropy of optical disk information storage substrates by total Muller polarimetry method are given. It is shown that values of birefringence in CD substrates manufactured from polycarbonate depend strongly on manufacturing conditions. The conducted investigations have shown that anisotropy in substrates made from monocrystal sapphire is substantially lower.
ru
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України
Реєстрація, зберігання і обробка даних
Фізичні основи, принципи та методи реєстрації даних
Поляриметрия подложек компакт-дисков
Polarimetry of CD Substrates
Article
published earlier
spellingShingle Поляриметрия подложек компакт-дисков
Савенков, С.Н.
Крючин, А.А.
Оберемок, Е.А.
Якубчак, В.В.
Фізичні основи, принципи та методи реєстрації даних
title Поляриметрия подложек компакт-дисков
title_alt Polarimetry of CD Substrates
title_full Поляриметрия подложек компакт-дисков
title_fullStr Поляриметрия подложек компакт-дисков
title_full_unstemmed Поляриметрия подложек компакт-дисков
title_short Поляриметрия подложек компакт-дисков
title_sort поляриметрия подложек компакт-дисков
topic Фізичні основи, принципи та методи реєстрації даних
topic_facet Фізичні основи, принципи та методи реєстрації даних
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/50783
work_keys_str_mv AT savenkovsn polârimetriâpodložekkompaktdiskov
AT krûčinaa polârimetriâpodložekkompaktdiskov
AT oberemokea polârimetriâpodložekkompaktdiskov
AT âkubčakvv polârimetriâpodložekkompaktdiskov
AT savenkovsn polarimetryofcdsubstrates
AT krûčinaa polarimetryofcdsubstrates
AT oberemokea polarimetryofcdsubstrates
AT âkubčakvv polarimetryofcdsubstrates