Реальная и предельная чувствительность некоторых приемников излучения ТГц/суб-ТГц-диапазонов

• Veröffentlicht in: Технология и конструирование в электронной аппаратуре
• Datum: 2012
• ISSN: 2225-5818
• 1. Verfasser: Шевчик-Шекера, А.В.
• Format: Artikel
• Sprache: Russisch
• Veröffentlicht: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2012
• Schlagworte: Новые компоненты для электронной аппаратуры
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/51640
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Реальная и предельная чувствительность некоторых приемников излучения ТГц/суб-ТГц-диапазонов / А.В. Шевчик-Шекера // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2012. — № 1. — С. 3-6. — Бібліогр.: 18 назв. — рос.

Показано, что при расчете предельных параметров NEP приемников излучения ТГц/суб-ТГц-диапазонов, ограниченных флуктуациями потоков фонового излучения, необходимо учитывать фактор группировки фотонов при их излучении нагретыми телами и влияние дифракции, вносимой антенной при введении излучения в ПИ. Показано, що при розрахунку параметра NEP приймачів випромінювання ТГц/суб-ТГц-діапазонів необхідно враховувати флуктуації потоків фонового випромінювання для різних температур фону в разі дифракційно-обмежених пучків. It is shown that while calculating the NEP parameter of radiation detectors of THz/sub-THz range, the fluctuations of the background radiation flux at different temperatures of the background in the case of diffraction-limited beam should be taken into account.