Система искусственного интеллекта для технической диагностики фотошаблонов

Разработанная система имеет высокий уровень помехоустойчивости, поэтому ее включение в состав программно-аппаратного комплекса для технической диагностики фотошаблонов позволит уменьшить требования к его аппаратному исполнению, т. е. снизить стоимость комплекса, а в результате — сделать рентабельным...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Date:2012
Main Authors: Козина, Ю.Ю., Козин, А.А.
Format: Article
Language:Russian
Published: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2012
Subjects:
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/51641
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Система искусственного интеллекта для технической диагностики фотошаблонов / Ю.Ю. Козина, А.А. Козин // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2012. — № 1. — С. 7-9. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-51641
record_format dspace
spelling Козина, Ю.Ю.
Козин, А.А.
2013-12-05T19:40:00Z
2013-12-05T19:40:00Z
2012
Система искусственного интеллекта для технической диагностики фотошаблонов / Ю.Ю. Козина, А.А. Козин // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2012. — № 1. — С. 7-9. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.
2225-5818
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/51641
621.382
Разработанная система имеет высокий уровень помехоустойчивости, поэтому ее включение в состав программно-аппаратного комплекса для технической диагностики фотошаблонов позволит уменьшить требования к его аппаратному исполнению, т. е. снизить стоимость комплекса, а в результате — сделать рентабельным мелкосерийное производство изделий.
Розроблена система штучного інтелекту має високий рівень завадостійкості, тому її включення до складу програмно-апаратного комплексу для технічної діагностики фотошаблонів дозволить зменшити вимоги до його апаратного виконання, тобто знизити вартість комплексу, а в результаті — зробити рентабельним дрібносерійне виробництво виробів.
The developed artificial intelligence system has a high level of noise immunity, so its inclusion in the hardware and software for technical diagnostics of photomasks will reduce the hardware requirements for its execution, and thereby reduce the cost of the complex. As a result it will allow to make a small-scale production profitable.
ru
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Электронные средства: исследования, разработки
Система искусственного интеллекта для технической диагностики фотошаблонов
Система штучного інтелекту для технічної діагностики фотошаблонів
Artificial intelligence system for technical diagnostics of photomasks
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Система искусственного интеллекта для технической диагностики фотошаблонов
spellingShingle Система искусственного интеллекта для технической диагностики фотошаблонов
Козина, Ю.Ю.
Козин, А.А.
Электронные средства: исследования, разработки
title_short Система искусственного интеллекта для технической диагностики фотошаблонов
title_full Система искусственного интеллекта для технической диагностики фотошаблонов
title_fullStr Система искусственного интеллекта для технической диагностики фотошаблонов
title_full_unstemmed Система искусственного интеллекта для технической диагностики фотошаблонов
title_sort система искусственного интеллекта для технической диагностики фотошаблонов
author Козина, Ю.Ю.
Козин, А.А.
author_facet Козина, Ю.Ю.
Козин, А.А.
topic Электронные средства: исследования, разработки
topic_facet Электронные средства: исследования, разработки
publishDate 2012
language Russian
container_title Технология и конструирование в электронной аппаратуре
publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
format Article
title_alt Система штучного інтелекту для технічної діагностики фотошаблонів
Artificial intelligence system for technical diagnostics of photomasks
description Разработанная система имеет высокий уровень помехоустойчивости, поэтому ее включение в состав программно-аппаратного комплекса для технической диагностики фотошаблонов позволит уменьшить требования к его аппаратному исполнению, т. е. снизить стоимость комплекса, а в результате — сделать рентабельным мелкосерийное производство изделий. Розроблена система штучного інтелекту має високий рівень завадостійкості, тому її включення до складу програмно-апаратного комплексу для технічної діагностики фотошаблонів дозволить зменшити вимоги до його апаратного виконання, тобто знизити вартість комплексу, а в результаті — зробити рентабельним дрібносерійне виробництво виробів. The developed artificial intelligence system has a high level of noise immunity, so its inclusion in the hardware and software for technical diagnostics of photomasks will reduce the hardware requirements for its execution, and thereby reduce the cost of the complex. As a result it will allow to make a small-scale production profitable.
issn 2225-5818
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/51641
citation_txt Система искусственного интеллекта для технической диагностики фотошаблонов / Ю.Ю. Козина, А.А. Козин // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2012. — № 1. — С. 7-9. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.
work_keys_str_mv AT kozinaûû sistemaiskusstvennogointellektadlâtehničeskoidiagnostikifotošablonov
AT kozinaa sistemaiskusstvennogointellektadlâtehničeskoidiagnostikifotošablonov
AT kozinaûû sistemaštučnogoíntelektudlâtehníčnoídíagnostikifotošablonív
AT kozinaa sistemaštučnogoíntelektudlâtehníčnoídíagnostikifotošablonív
AT kozinaûû artificialintelligencesystemfortechnicaldiagnosticsofphotomasks
AT kozinaa artificialintelligencesystemfortechnicaldiagnosticsofphotomasks
first_indexed 2025-11-30T13:22:33Z
last_indexed 2025-11-30T13:22:33Z
_version_ 1850857677222051840