Система искусственного интеллекта для технической диагностики фотошаблонов

• Veröffentlicht in: Технология и конструирование в электронной аппаратуре
• Datum: 2012
• Hauptverfasser: Козина, Ю.Ю., Козин, А.А.
• Format: Artikel
• Sprache: Russian
• Veröffentlicht: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2012
• Schlagworte: Электронные средства: исследования, разработки
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/51641
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Система искусственного интеллекта для технической диагностики фотошаблонов / Ю.Ю. Козина, А.А. Козин // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2012. — № 1. — С. 7-9. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.

Разработанная система имеет высокий уровень помехоустойчивости, поэтому ее включение в состав программно-аппаратного комплекса для технической диагностики фотошаблонов позволит уменьшить требования к его аппаратному исполнению, т. е. снизить стоимость комплекса, а в результате — сделать рентабельным...