Определение радиационной стойкости ИС с помощью низкоэнергетического излучения
Предложен метод определения мощности дозы излучения по ионизационному току в p—n-переходе и радиационной стойкости МДП интегральных схем с помощью низкоэнергетического (10—40 кэВ) рентгеновского излучения. Запропоновано метод визначення потужності дози випромінення за іонізаційним струмом в p—n-пере...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
|---|---|
| Datum: | 2012 |
| 1. Verfasser: | |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russian |
| Veröffentlicht: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2012
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/51646 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Определение радиационной стойкости ИС с помощью низкоэнергетического излучения / В.Л. Перевертайло // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2012. — № 1. — С. 30-34. — Бібліогр.: 14 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-51646 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
Перевертайло, В.Л. 2013-12-05T19:56:18Z 2013-12-05T19:56:18Z 2012 Определение радиационной стойкости ИС с помощью низкоэнергетического излучения / В.Л. Перевертайло // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2012. — № 1. — С. 30-34. — Бібліогр.: 14 назв. — рос. 2225-5818 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/51646 539.1.074.5; 621.382 Предложен метод определения мощности дозы излучения по ионизационному току в p—n-переходе и радиационной стойкости МДП интегральных схем с помощью низкоэнергетического (10—40 кэВ) рентгеновского излучения. Запропоновано метод визначення потужності дози випромінення за іонізаційним струмом в p—n-пере-ході та радіаційної стійкості МДН інтегральних схем за допомогою низькоенергетичного (10—40 кеВ) рентгенівського випромінювання. A method is proposed for determination of radiation dose via the ionization current in the p—n-junction and of radiation resistance of MIS integrated circuits with the use of low-energy (10—40 keV) X-rays. ru Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України Технология и конструирование в электронной аппаратуре Функциональная микро- и наноэлектроника Определение радиационной стойкости ИС с помощью низкоэнергетического излучения Визначення радіаційної стійкості ІС за допомогою низькоенергетичного випромінювання Determination of radiation resistance of integrated circuits with the use of low-energy X-radiation Article published earlier |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| title |
Определение радиационной стойкости ИС с помощью низкоэнергетического излучения |
| spellingShingle |
Определение радиационной стойкости ИС с помощью низкоэнергетического излучения Перевертайло, В.Л. Функциональная микро- и наноэлектроника |
| title_short |
Определение радиационной стойкости ИС с помощью низкоэнергетического излучения |
| title_full |
Определение радиационной стойкости ИС с помощью низкоэнергетического излучения |
| title_fullStr |
Определение радиационной стойкости ИС с помощью низкоэнергетического излучения |
| title_full_unstemmed |
Определение радиационной стойкости ИС с помощью низкоэнергетического излучения |
| title_sort |
определение радиационной стойкости ис с помощью низкоэнергетического излучения |
| author |
Перевертайло, В.Л. |
| author_facet |
Перевертайло, В.Л. |
| topic |
Функциональная микро- и наноэлектроника |
| topic_facet |
Функциональная микро- и наноэлектроника |
| publishDate |
2012 |
| language |
Russian |
| container_title |
Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| format |
Article |
| title_alt |
Визначення радіаційної стійкості ІС за допомогою низькоенергетичного випромінювання Determination of radiation resistance of integrated circuits with the use of low-energy X-radiation |
| description |
Предложен метод определения мощности дозы излучения по ионизационному току в p—n-переходе и радиационной стойкости МДП интегральных схем с помощью низкоэнергетического (10—40 кэВ) рентгеновского излучения.
Запропоновано метод визначення потужності дози випромінення за іонізаційним струмом в p—n-пере-ході та радіаційної стійкості МДН інтегральних схем за допомогою низькоенергетичного (10—40 кеВ) рентгенівського випромінювання.
A method is proposed for determination of radiation dose via the ionization current in the p—n-junction and of radiation resistance of MIS integrated circuits with the use of low-energy (10—40 keV) X-rays.
|
| issn |
2225-5818 |
| url |
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/51646 |
| citation_txt |
Определение радиационной стойкости ИС с помощью низкоэнергетического излучения / В.Л. Перевертайло // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2012. — № 1. — С. 30-34. — Бібліогр.: 14 назв. — рос. |
| work_keys_str_mv |
AT perevertailovl opredelenieradiacionnoistoikostiisspomoŝʹûnizkoénergetičeskogoizlučeniâ AT perevertailovl viznačennâradíacíinoístíikostííszadopomogoûnizʹkoenergetičnogovipromínûvannâ AT perevertailovl determinationofradiationresistanceofintegratedcircuitswiththeuseoflowenergyxradiation |
| first_indexed |
2025-12-07T17:36:21Z |
| last_indexed |
2025-12-07T17:36:21Z |
| _version_ |
1850871886986084352 |