Buchumschlag

Фотолюминесцентный метод исследования пластической деформации на границе раздела «SiO₂—Si»

Показана возможность использования метода фотолюминесценции для изучения механизмов пластической деформации на границе «оксид кремния — кремний» в процессе получения слоев наноструктурированного кремния деформационным методом. Показано можливість використання методу фотолюмінесценції для вивчення ме...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Datum:	2012
Hauptverfasser:	Кулинич, О.А., Яцунский, И.Р., Ештокина, Т.Ю., Брусенская, Г.И., Марчук, И.А.
Format:	Artikel
Sprache:	Russisch
Veröffentlicht:	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2012
Schlagworte:	Материалы электроники
Online Zugang:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/51670
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:	Фотолюминесцентный метод исследования пластической деформации на границе раздела «SiO₂—Si» / О.А. Кулинич, И.Р. Яцунский, Т.Ю. Ештокина, Г.И. Брусенская, И.А. Марчук // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2012. — № 2. — С. 47-50. — Бібліогр.: 11 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Ähnliche Einträge

Фотолюминесцентный метод исследования пластической деформации на границе раздела «SiO2–Si»
von: Kulinich, О. А., et al.
Veröffentlicht: (2012)

Роль пластической деформации в получении нанокремния
von: Смынтына, В.А., et al.
Veröffentlicht: (2011)

Эффекты переключения и памяти в МОП-структурах Al-SiO₂-Si
von: Искендер-заде, З.А., et al.
Veröffentlicht: (2004)

Влияние исходных дефектов на распределение механических напряжений и деформаций при окислении кремния
von: Кулинич, О.А., et al.
Veröffentlicht: (2008)

Влияние пластической деформации на анизотропию электропроводности трансформаторной стали
von: Усов, В.В.
Veröffentlicht: (2001)

Получение пригодного для сенсорики пористого кремния методом неэлектролитического травления MacEtch
von: Яцунский, И.Р.
Veröffentlicht: (2013)

Влияние слоя поликристаллического кремния на механизмы токопереноса в контактах «металл — p-кремний»
von: Смынтына, В.А., et al.
Veröffentlicht: (2011)

Диагностика глубоких центров на границе пленка–подложка в тонкопленочных эпитаксиальных структурах GaAs
von: Горев, Н.Б., et al.
Veröffentlicht: (2010)

Газочувствительные элементы на основе пленок SiPcCl₂
von: Алиева, Х.С., et al.
Veröffentlicht: (2010)

Формирование резких границ раздела в эпитаксиальных структурах p+-AlGaAs/n-GaAs методом МОС-гидридной эпитаксии
von: Вакив, Н.М., et al.
Veröffentlicht: (2014)

Элементы твердотельной электроники на основе КНИ-структур и нитевидных кристаллов Si для криогенных температур
von: Дружинин, А.А., et al.
Veröffentlicht: (2014)

Микроструктура и механические свойства заэвтектического сплава Al—Si после интенсивной пластической деформации
von: Спусканюк, В.З., et al.
Veröffentlicht: (2014)

Синергетика пластической деформации
von: Олемской, А.И., et al.
Veröffentlicht: (2001)

Влияние электронного облучения на оптические свойства пленок нанокристаллического SiC на подложках из монокристалла Al₂O₃
von: Семенов, A.В., et al.
Veröffentlicht: (2017)

Отражение и преломление акустических лучей на подвижной границе раздела сред
von: Горбань, И.И.
Veröffentlicht: (2004)

Микроскопическая природа оптических центров Pr³⁺ в кристаллах Y₂SiO₅, Lu₂SiO₅, Gd₂SiO₅
von: Малюкин, Ю.В., et al.
Veröffentlicht: (2002)

Селективная спектроскопия примесных ионов Pr³⁺ в кристаллах Y₂SiO₅ , Gd₂SiO₅ , Lu₂SiO₅
von: Малюкин, Ю.В., et al.
Veröffentlicht: (2000)

Interface features of SiO₂/SiC heterostructures according to methods for producing the SiO₂ thin films
von: Bacherikov, Yu.Yu., et al.
Veröffentlicht: (2012)

Отрицательные ионы на границе раздела растворов жидкого гелия
von: Дюгаев, А.М., et al.
Veröffentlicht: (2011)

Роль поверхности в формировании свойств пирогенных нанокомпозитов SiO₂-Al₂O₃, SiO₂-ТіO₂ и Al₂O₃-SiO₂-ТіO₂
von: Горбик, П.П., et al.
Veröffentlicht: (2006)

Проявление квазисимметрии катионных узлов Gd₂SiO₅, ₂SiO₅ и Lu₂SiO₅ в спектрах примесного иона Pr³⁺
von: Малюкин, Ю.В., et al.
Veröffentlicht: (2001)

Electron states at the Si–SiO₂ boundary (Review)
von: Primachenko, V.E., et al.
Veröffentlicht: (2005)

Interface features of SiO2/SiC heterostructures according to methods for producing the SiO2 thin films
von: Yu. Yu. Bacherikov, et al.
Veröffentlicht: (2012)

О страгивании трещины, расположенной на границе раздела упругих сред
von: Каминский, А.А., et al.
Veröffentlicht: (2011)

Самоорганизация кристаллов при пластической деформации
von: Засимчук, Е.Э., et al.
Veröffentlicht: (2013)

Modification of properties of the glass-Si₃N₄-Si-SiO₂ structure at laser treatment
von: Konakova, R.V., et al.
Veröffentlicht: (2009)

Electron transport through nanocomposite SiO₂(Si) films containing Si nanocrystals
von: Bratus, O.L., et al.
Veröffentlicht: (2016)

Нанокристаллизация металлических поверхностей методами интенсивной пластической деформации (обзор)
von: Васильев, М.А., et al.
Veröffentlicht: (2004)

Влияние морфологии поверхности подложек ZnSe:Te на их оптические свойства
von: Махний, В.П., et al.
Veröffentlicht: (2016)

Разработка методов интенсивной пластической деформации для получения длинномерных наноструктурных титановых полуфабрикатов
von: Рааб, Г.И.
Veröffentlicht: (2007)

Electron transport through nanocomposite SiO2(Si) films containing Si nanocrystals
von: O. L. Bratus, et al.
Veröffentlicht: (2016)

Properties of SiO₂-GaAs and Au-Ti-SiO₂-GaAs structures used in production of transmission lines
von: Boltovets, N.S., et al.
Veröffentlicht: (2002)

Spectral-ellipsometric examining the films of gold nanoparticles on Si/SiO₂ substrate
von: Bortchagovsky, E.G., et al.
Veröffentlicht: (2012)

Complex destruction of near-surface silicon layers of Si-SiO₂ structure
von: Yatsunskiy, I.R., et al.
Veröffentlicht: (2010)

Effect of pressure on the properties of Al-SiO₂-n-Si<Ni> structures
von: Vlasov, S.I., et al.
Veröffentlicht: (2012)

Water bounding peculiarities in SiO2 / laevomycetin and SiO2 / laevomycetin / AM1 composite systems
von: T. V. Krupskaja, et al.
Veröffentlicht: (2018)

Molecular dynamics calculation of thermal conductivity in a-SiO2 and an a-SiO2-based nanocomposite
von: V. V. Kuryliuk, et al.
Veröffentlicht: (2016)

Molecular dynamics calculation of thermal conductivity in a-SiO2 and an a-SiO2-based nanocomposite
von: V. V. Kuryliuk, et al.
Veröffentlicht: (2016)

Особенности связывания воды в композитних системах SiO₂ / левомицетин и SiO₂ / левомицетин / АМ1
von: Крупская, Т.В., et al.
Veröffentlicht: (2018)

Золь-гель-SiO₂-матрицы, легированные люминесцентными материалами
von: Ганина, И.И., et al.
Veröffentlicht: (2009)