Исследование импульсных характеристик ограничителей напряжения

Предложен новый метод измерения на пряжения ограничения, предназначенный для измерения параметров мощных импульсных токов ограничителей напряжения. Погрешность метода в два раза меньше погрешности известного метода прямого измерения. Исследованы зависимости допустимой мощности однокристальных и двух...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Дата:2012
Автори: Каримов, А.В., Ёдгорова, Д.М., Рахматов, А.З., Скорняков, С.Л., Петров, Д.А., Абдулхаев, О.А.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2012
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/51679
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Исследование импульсных характеристик ограничителей напряжения / А.В. Каримов, Д.М. Ёдгорова, А.З. Рахматов, С.Л. Скорняков, Д.А. Петров, О.А. Абдулхаев // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2012. — № 3. — С. 26-30. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:Предложен новый метод измерения на пряжения ограничения, предназначенный для измерения параметров мощных импульсных токов ограничителей напряжения. Погрешность метода в два раза меньше погрешности известного метода прямого измерения. Исследованы зависимости допустимой мощности однокристальных и двухкристальных ограничителей напряжения и импульсной наработки от длительности импульса. Запропоновано новий метод вимірювання напруги обмеження, призначений для вимірювання параметрів потужних імпульсних струмів обмежувачів напруги. Похибка методу в два рази менше похибки відомого методу прямого вимірювання. Досліджено залежності допустимої потужності однокристальних і двокристальних обмежувачів напруги та імпульсного наробку від тривалості імпульсу. A new method for measuring the voltage limit is offered. It has been designed to measure high-power pulsed current of voltage limiters. The error of this method is half as much as the error of the known method of direct measurement. The investigation of dependence of power capability of single-crystal and double-crystal voltage limiters and of the pulsed operation time on pulse duration.
ISSN:2225-5818