Метод оценки качества тонкопленочной платы

• Veröffentlicht in: Технология и конструирование в электронной аппаратуре
• Datum: 2012
• 1. Verfasser: Спирин, В.Г.
• Format: Artikel
• Sprache: Russian
• Veröffentlicht: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2012
• Schlagworte: Технологические процессы и оборудование
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/51680
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Метод оценки качества тонкопленочной платы / В.Г. Спирин // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2012. — № 3. — С. 31-34. — Бібліогр.: 6 назв. — рос.

Разработан метод оценки качества тонкопленочной платы, который основан на результатах измерения сопротивления резисторов и вычисления их инструментальных погрешностей. Применение данного метода позволяет увеличить выход годных плат в 1,5—2 раза. Розроблено метод оцінки якості тонкоплівкової плати, я...