Тепловая математическая модель полупроводниковых приборов при измерении ВАХ импульсным способом

В работе тепловая математическая модель использована для оценки саморазогрева полупроводниковых приборов в процессе измерения их вольт амперной характеристики импульсным способом. Про анализировано влияние саморазогрева на электрические параметры полупроводниковых приборов. Сформулированы рекомендац...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Datum:	2012
Hauptverfasser:	Ермоленко, Е.А., Бондаренко, А.Ф., Баранов, А.Н.
Format:	Artikel
Sprache:	Russian
Veröffentlicht:	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2012
Schriftenreihe:	Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Schlagworte:	Электронные средства: исследования, разработки
Online Zugang:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/51705
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:	Тепловая математическая модель полупроводниковых приборов при измерении ВАХ импульсным способом / Е.А. Ермоленко, А.Ф. Бондаренко, А.Н. Баранов // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2012. — № 5. — С. 14-18. — Бібліогр.: 13 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

id	nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-51705
record_format	dspace
fulltext
spelling	nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-517052025-02-09T12:25:37Z Тепловая математическая модель полупроводниковых приборов при измерении ВАХ импульсным способом Теплова математична модель напівпровідникових приладів при вимірюванні вольт-амперних характеристик імпульсним способом Thermal mathematical model of semiconductor devices for measurement of current-voltage characteristics by pulse method Ермоленко, Е.А. Бондаренко, А.Ф. Баранов, А.Н. Электронные средства: исследования, разработки В работе тепловая математическая модель использована для оценки саморазогрева полупроводниковых приборов в процессе измерения их вольт амперной характеристики импульсным способом. Про анализировано влияние саморазогрева на электрические параметры полупроводниковых приборов. Сформулированы рекомендации по выбору значении параметров измерительной импульсной последовательности, использование которых позволяет минимизировать саморазогрев полупроводниковой структуры. Теплова математична модель використовується для оцінки саморозігріву напівпровідникових приладів різних типів в процесі вимірювання їх ВАХ імпульсним способом. Проаналізовано вплив саморозігріву на електричні параметри напівпровідникових приладів. Сформульовано рекомендації з вибору значень параметрів вимірювальної імпульсної послідовності, використання яких дозволяє мінімізувати саморозігрів напівпровідникової структури. The thermal mathematical model is used to estimate self-heating of semiconductor devices of various types during current-voltage characteristics measuring by the pulse method. The influence of self-heating on electrical parameters of semiconductor devices is analyzed. The recommendations for determination of values of measuring pulse sequence parameters are formulated to minimize self-heating of semiconductor structure. 2012 Article Тепловая математическая модель полупроводниковых приборов при измерении ВАХ импульсным способом / Е.А. Ермоленко, А.Ф. Бондаренко, А.Н. Баранов // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2012. — № 5. — С. 14-18. — Бібліогр.: 13 назв. — рос. 2225-5818 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/51705 621.317: 621.3.08 ru Технология и конструирование в электронной аппаратуре application/pdf Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
institution	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection	DSpace DC
language	Russian
topic	Электронные средства: исследования, разработки Электронные средства: исследования, разработки
spellingShingle	Электронные средства: исследования, разработки Электронные средства: исследования, разработки Ермоленко, Е.А. Бондаренко, А.Ф. Баранов, А.Н. Тепловая математическая модель полупроводниковых приборов при измерении ВАХ импульсным способом Технология и конструирование в электронной аппаратуре
description	В работе тепловая математическая модель использована для оценки саморазогрева полупроводниковых приборов в процессе измерения их вольт амперной характеристики импульсным способом. Про анализировано влияние саморазогрева на электрические параметры полупроводниковых приборов. Сформулированы рекомендации по выбору значении параметров измерительной импульсной последовательности, использование которых позволяет минимизировать саморазогрев полупроводниковой структуры.
format	Article
author	Ермоленко, Е.А. Бондаренко, А.Ф. Баранов, А.Н.
author_facet	Ермоленко, Е.А. Бондаренко, А.Ф. Баранов, А.Н.
author_sort	Ермоленко, Е.А.
title	Тепловая математическая модель полупроводниковых приборов при измерении ВАХ импульсным способом
title_short	Тепловая математическая модель полупроводниковых приборов при измерении ВАХ импульсным способом
title_full	Тепловая математическая модель полупроводниковых приборов при измерении ВАХ импульсным способом
title_fullStr	Тепловая математическая модель полупроводниковых приборов при измерении ВАХ импульсным способом
title_full_unstemmed	Тепловая математическая модель полупроводниковых приборов при измерении ВАХ импульсным способом
title_sort	тепловая математическая модель полупроводниковых приборов при измерении вах импульсным способом
publisher	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
publishDate	2012
topic_facet	Электронные средства: исследования, разработки
url	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/51705
citation_txt	Тепловая математическая модель полупроводниковых приборов при измерении ВАХ импульсным способом / Е.А. Ермоленко, А.Ф. Бондаренко, А.Н. Баранов // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2012. — № 5. — С. 14-18. — Бібліогр.: 13 назв. — рос.
series	Технология и конструирование в электронной аппаратуре
work_keys_str_mv	AT ermolenkoea teplovaâmatematičeskaâmodelʹpoluprovodnikovyhpriborovpriizmereniivahimpulʹsnymsposobom AT bondarenkoaf teplovaâmatematičeskaâmodelʹpoluprovodnikovyhpriborovpriizmereniivahimpulʹsnymsposobom AT baranovan teplovaâmatematičeskaâmodelʹpoluprovodnikovyhpriborovpriizmereniivahimpulʹsnymsposobom AT ermolenkoea teplovamatematičnamodelʹnapívprovídnikovihpriladívprivimírûvannívolʹtampernihharakteristikímpulʹsnimsposobom AT bondarenkoaf teplovamatematičnamodelʹnapívprovídnikovihpriladívprivimírûvannívolʹtampernihharakteristikímpulʹsnimsposobom AT baranovan teplovamatematičnamodelʹnapívprovídnikovihpriladívprivimírûvannívolʹtampernihharakteristikímpulʹsnimsposobom AT ermolenkoea thermalmathematicalmodelofsemiconductordevicesformeasurementofcurrentvoltagecharacteristicsbypulsemethod AT bondarenkoaf thermalmathematicalmodelofsemiconductordevicesformeasurementofcurrentvoltagecharacteristicsbypulsemethod AT baranovan thermalmathematicalmodelofsemiconductordevicesformeasurementofcurrentvoltagecharacteristicsbypulsemethod
first_indexed	2025-11-25T23:50:44Z
last_indexed	2025-11-25T23:50:44Z
_version_	1849808277658927104

Тепловая математическая модель полупроводниковых приборов при измерении ВАХ импульсным способом

Institution

Ähnliche Einträge