Турцевич, А., Рубцевич, И., Соловьев, Я., Васьков, О., Кононенко, В., Нисс, В., & Керенце, А. (2012). Исследование качества пайки кристаллов мощных транзисторов релаксационным импеданс-спектрометром. Технология и конструирование в электронной аппаратуре.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Турцевич, А.С, И.И Рубцевич, Я.А Соловьев, О.С Васьков, В.К Кононенко, В.С Нисс, та А.Ф Керенце. "Исследование качества пайки кристаллов мощных транзисторов релаксационным импеданс-спектрометром." Технология и конструирование в электронной аппаратуре 2012.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Турцевич, А.С, et al. "Исследование качества пайки кристаллов мощных транзисторов релаксационным импеданс-спектрометром." Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2012.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.