Новый подход к созданию устройств с энергонезависимой памятью на основе Si-МОП-транзисторов

Продемонстрирована возможность реализации на полевых транзисторах с изолированным затвором электронно-ионной памяти, которая может представлять интерес для разработки Flash-памяти нового поколения. На основі ефекту електронно-іонної взаємодії запропоновано новий підхід до створення на Si-МОН-транзис...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Дата:2011
Автори: Гуляев, Ю.В., Ждан, А.Г., Чучева, Г.В.
Формат: Стаття
Мова:Російська
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2011
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/51812
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Новый подход к созданию устройств с энергонезависимой памятью на основе Si-МОП-транзисторов / Ю.В. Гуляев, А.Г. Ждан, Г.В. Чучева // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2011. — № 3. — С. 3-5. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862707627157356544
author Гуляев, Ю.В.
Ждан, А.Г.
Чучева, Г.В.
author_facet Гуляев, Ю.В.
Ждан, А.Г.
Чучева, Г.В.
citation_txt Новый подход к созданию устройств с энергонезависимой памятью на основе Si-МОП-транзисторов / Ю.В. Гуляев, А.Г. Ждан, Г.В. Чучева // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2011. — № 3. — С. 3-5. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.
collection DSpace DC
container_title Технология и конструирование в электронной аппаратуре
description Продемонстрирована возможность реализации на полевых транзисторах с изолированным затвором электронно-ионной памяти, которая может представлять интерес для разработки Flash-памяти нового поколения. На основі ефекту електронно-іонної взаємодії запропоновано новий підхід до створення на Si-МОН-транзисторах довгочасної перестроюваної пам.яті з довільним доступом. Різниця в рівнях сигналів «нуль» та «одиниця» залежить від режиму зчитування і може змінюватись в широких границях. Значення часу запису та стирання визначаються розмірами транзистора і складають мілісекунди. Отримані результати дають підставу вважати, що в порівнянні з традиційною кремнієвою Flash-пам.яттю такий запам.ятовуючий пристрій буде більш надійним і довговічним. A new approach to the creation of a long-term random access memory based on the effect of the electron-ion interaction on Si-MOS-transistors is proposed. The difference in levels of signals «zero» and «unit» depends on the regime of reading, and can vary widely. Time of recording-erasing is determined by the size of the transistor and makes some milliseconds. Obtained results allow to suggest, that compared with the traditional flash memory, such storage device will be more reliable and durable.
first_indexed 2025-12-07T17:06:00Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-51812
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 2225-5818
language Russian
last_indexed 2025-12-07T17:06:00Z
publishDate 2011
publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
record_format dspace
spelling Гуляев, Ю.В.
Ждан, А.Г.
Чучева, Г.В.
2013-12-11T18:46:21Z
2013-12-11T18:46:21Z
2011
Новый подход к созданию устройств с энергонезависимой памятью на основе Si-МОП-транзисторов / Ю.В. Гуляев, А.Г. Ждан, Г.В. Чучева // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2011. — № 3. — С. 3-5. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.
2225-5818
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/51812
Продемонстрирована возможность реализации на полевых транзисторах с изолированным затвором электронно-ионной памяти, которая может представлять интерес для разработки Flash-памяти нового поколения.
На основі ефекту електронно-іонної взаємодії запропоновано новий підхід до створення на Si-МОН-транзисторах довгочасної перестроюваної пам.яті з довільним доступом. Різниця в рівнях сигналів «нуль» та «одиниця» залежить від режиму зчитування і може змінюватись в широких границях. Значення часу запису та стирання визначаються розмірами транзистора і складають мілісекунди. Отримані результати дають підставу вважати, що в порівнянні з традиційною кремнієвою Flash-пам.яттю такий запам.ятовуючий пристрій буде більш надійним і довговічним.
A new approach to the creation of a long-term random access memory based on the effect of the electron-ion interaction on Si-MOS-transistors is proposed. The difference in levels of signals «zero» and «unit» depends on the regime of reading, and can vary widely. Time of recording-erasing is determined by the size of the transistor and makes some milliseconds. Obtained results allow to suggest, that compared with the traditional flash memory, such storage device will be more reliable and durable.
ru
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Техническая политика
Новый подход к созданию устройств с энергонезависимой памятью на основе Si-МОП-транзисторов
Новий підхід до створення пристроїв з енергонезалежною пам'яттю на основі Si-МОН-транзисторів
The new approach to the creation of the nonvolatile memory based on Si-MOS-transistors
Article
published earlier
spellingShingle Новый подход к созданию устройств с энергонезависимой памятью на основе Si-МОП-транзисторов
Гуляев, Ю.В.
Ждан, А.Г.
Чучева, Г.В.
Техническая политика
title Новый подход к созданию устройств с энергонезависимой памятью на основе Si-МОП-транзисторов
title_alt Новий підхід до створення пристроїв з енергонезалежною пам'яттю на основі Si-МОН-транзисторів
The new approach to the creation of the nonvolatile memory based on Si-MOS-transistors
title_full Новый подход к созданию устройств с энергонезависимой памятью на основе Si-МОП-транзисторов
title_fullStr Новый подход к созданию устройств с энергонезависимой памятью на основе Si-МОП-транзисторов
title_full_unstemmed Новый подход к созданию устройств с энергонезависимой памятью на основе Si-МОП-транзисторов
title_short Новый подход к созданию устройств с энергонезависимой памятью на основе Si-МОП-транзисторов
title_sort новый подход к созданию устройств с энергонезависимой памятью на основе si-моп-транзисторов
topic Техническая политика
topic_facet Техническая политика
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/51812
work_keys_str_mv AT gulâevûv novyipodhodksozdaniûustroistvsénergonezavisimoipamâtʹûnaosnovesimoptranzistorov
AT ždanag novyipodhodksozdaniûustroistvsénergonezavisimoipamâtʹûnaosnovesimoptranzistorov
AT čučevagv novyipodhodksozdaniûustroistvsénergonezavisimoipamâtʹûnaosnovesimoptranzistorov
AT gulâevûv noviipídhíddostvorennâpristroívzenergonezaležnoûpamâttûnaosnovísimontranzistorív
AT ždanag noviipídhíddostvorennâpristroívzenergonezaležnoûpamâttûnaosnovísimontranzistorív
AT čučevagv noviipídhíddostvorennâpristroívzenergonezaležnoûpamâttûnaosnovísimontranzistorív
AT gulâevûv thenewapproachtothecreationofthenonvolatilememorybasedonsimostransistors
AT ždanag thenewapproachtothecreationofthenonvolatilememorybasedonsimostransistors
AT čučevagv thenewapproachtothecreationofthenonvolatilememorybasedonsimostransistors