Кремниевый p–i–n-фотодиод с малым темновым током

Кольцевая металлизация обратной стороны кристалла p–i–n-фотодиода на основе высокоомного кремния позволяет уменьшить темновой ток на порядок, при этом потери токовой монохроматической чувствительности на длине волны 1,06 мкм не превышают 15%. Досліджено вплив кільцевої металізації зворотної сторони...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Datum:2011
Hauptverfasser: Добровольский, Ю.Г., Ащеулов, А.А.
Format: Artikel
Sprache:Russisch
Veröffentlicht: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2011
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/51819
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Кремниевый p–i–n-фотодиод с малым темновым током / Ю.Г. Добровольский, А.А. Ащеулов // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2011. — № 3. — С. 27-31. — Бібліогр.: 17 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862720783502016512
author Добровольский, Ю.Г.
Ащеулов, А.А.
author_facet Добровольский, Ю.Г.
Ащеулов, А.А.
citation_txt Кремниевый p–i–n-фотодиод с малым темновым током / Ю.Г. Добровольский, А.А. Ащеулов // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2011. — № 3. — С. 27-31. — Бібліогр.: 17 назв. — рос.
collection DSpace DC
container_title Технология и конструирование в электронной аппаратуре
description Кольцевая металлизация обратной стороны кристалла p–i–n-фотодиода на основе высокоомного кремния позволяет уменьшить темновой ток на порядок, при этом потери токовой монохроматической чувствительности на длине волны 1,06 мкм не превышают 15%. Досліджено вплив кільцевої металізації зворотної сторони кристала p–i–n-фотодіода на основі високоомного кремнію на його характеристики. Темновий струм можна зменшити на порядок, при цьому втрати струмової монохроматичної чутливості на довжині хвилі 1,06 мкм не перевищують 15%. Характеристики запропонованого фотодіода показують, що він може бути рекомендований як базова конструкція при розробці серійних виробів. The influence of circular metallization of the reverse side of p–i–n-photodiode crystal based on highly ohm silicon on it's characteristics are explored. The dark current can be decreased by an order, at the same time losses of current monochromatic sensitiveness on a wave-length 1,06 mkm do not exceed 15%. The characteristics of the offered photodiode show that it can be recommended as base construction at serial product designing.
first_indexed 2025-12-07T18:27:01Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-51819
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 2225-5818
language Russian
last_indexed 2025-12-07T18:27:01Z
publishDate 2011
publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
record_format dspace
spelling Добровольский, Ю.Г.
Ащеулов, А.А.
2013-12-11T19:05:15Z
2013-12-11T19:05:15Z
2011
Кремниевый p–i–n-фотодиод с малым темновым током / Ю.Г. Добровольский, А.А. Ащеулов // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2011. — № 3. — С. 27-31. — Бібліогр.: 17 назв. — рос.
2225-5818
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/51819
Кольцевая металлизация обратной стороны кристалла p–i–n-фотодиода на основе высокоомного кремния позволяет уменьшить темновой ток на порядок, при этом потери токовой монохроматической чувствительности на длине волны 1,06 мкм не превышают 15%.
Досліджено вплив кільцевої металізації зворотної сторони кристала p–i–n-фотодіода на основі високоомного кремнію на його характеристики. Темновий струм можна зменшити на порядок, при цьому втрати струмової монохроматичної чутливості на довжині хвилі 1,06 мкм не перевищують 15%. Характеристики запропонованого фотодіода показують, що він може бути рекомендований як базова конструкція при розробці серійних виробів.
The influence of circular metallization of the reverse side of p–i–n-photodiode crystal based on highly ohm silicon on it's characteristics are explored. The dark current can be decreased by an order, at the same time losses of current monochromatic sensitiveness on a wave-length 1,06 mkm do not exceed 15%. The characteristics of the offered photodiode show that it can be recommended as base construction at serial product designing.
ru
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Функциональная микро- и наноэлектроника
Кремниевый p–i–n-фотодиод с малым темновым током
Кремнієвий p–i–n-фотодіод з малим темновим струмом
Silicic p–i–n-photodiode with small dark current
Article
published earlier
spellingShingle Кремниевый p–i–n-фотодиод с малым темновым током
Добровольский, Ю.Г.
Ащеулов, А.А.
Функциональная микро- и наноэлектроника
title Кремниевый p–i–n-фотодиод с малым темновым током
title_alt Кремнієвий p–i–n-фотодіод з малим темновим струмом
Silicic p–i–n-photodiode with small dark current
title_full Кремниевый p–i–n-фотодиод с малым темновым током
title_fullStr Кремниевый p–i–n-фотодиод с малым темновым током
title_full_unstemmed Кремниевый p–i–n-фотодиод с малым темновым током
title_short Кремниевый p–i–n-фотодиод с малым темновым током
title_sort кремниевый p–i–n-фотодиод с малым темновым током
topic Функциональная микро- и наноэлектроника
topic_facet Функциональная микро- и наноэлектроника
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/51819
work_keys_str_mv AT dobrovolʹskiiûg kremnievyipinfotodiodsmalymtemnovymtokom
AT aŝeulovaa kremnievyipinfotodiodsmalymtemnovymtokom
AT dobrovolʹskiiûg kremníêviipinfotodíodzmalimtemnovimstrumom
AT aŝeulovaa kremníêviipinfotodíodzmalimtemnovimstrumom
AT dobrovolʹskiiûg silicicpinphotodiodewithsmalldarkcurrent
AT aŝeulovaa silicicpinphotodiodewithsmalldarkcurrent