Устройства считывания информации с крупноформатных матриц ИК-фотодиодов

• Published in: Технология и конструирование в электронной аппаратуре
• Date: 2011
• Main Authors: Рева, В.П., Марчишин, И.В., Коринец, С.В., Сизов, Ф.Ф.
• Format: Article
• Language: Russian
• Published: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2011
• Subjects: Функциональная микро- и наноэлектроника
• Online Access: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/51833
• Journal Title: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Cite this: Устройства считывания информации с крупноформатных матриц ИК-фотодиодов / В.П. Рева, И.В. Марчишин, С.В. Коринец, Ф.Ф. Сизов // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2011. — № 4. — С. 25-28. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.

Спроектированы и изготовлены устройства считывания для матриц ИК-фотодиодов формата 320x256 и 640x512. Рассмотрена архитектура построения и влияние геометрических размеров элементов схем считывания на выходные параметры устройства. Наведено результати досліджень спроектованих і виготовлених пристроїв зчитування для матриць ІЧ-фотодіодів форматів 320x256 та 640x512. Обговорено архітектуру побудови схем зчитування, її вплив на параметри фотоприймальних пристроїв, конструкцію пристроїв сполучення з ІЧ-фотодіодами, конструкцію схем зчитування інформаційного заряду, вплив геометричних розмірів елементів матриці на вихідні параметри пристроїв зчитування. Зроблено порівняння розрахункових і виміряних параметрів пристроїв зчитування. The research results are given for designed and manufactured readout devices for matrices of infrared photodiodes of formats 640x512 and 320x256. The article comments the architecture of reading circuit diagramming and its influence on the parameters of the FPU, the design of interfaces with an infrared photodiodes, the design of the reading circuit of the information charge, the influence of the geometric dimensions of the matrix elements on the output parameters of readout devices. A comparison of calculated and measured parameters of readout devices has been carried out.